[實(shí)用新型]電路測試裝置

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200820126707.7
• 申請(qǐng)日: 2008-06-24
• 公開（公告）號(hào): CN201255764Y
• 公開（公告）日: 2009-06-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 滕貞勇;張立穎
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 普誠科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 北京林達(dá)劉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所
• 代理人: 劉新宇

1.一種電路測試裝置，其特征在于，用來測試一待測試元件，其中該待測試元件包括一第一輸出端以及一第二輸出端，該第一輸出端以及該第二輸出端用以分別產(chǎn)生一第一輸出信號(hào)以及一第二輸出信號(hào)，該電路測試裝置用以根據(jù)該第一輸出信號(hào)以及該第二輸出信號(hào)，決定該待測試元件的測試結(jié)果，其中該電路測試裝置包括：

一量測模塊，耦接于該待測試元件，用以提供一測試信號(hào)，并接收根據(jù)該測試信號(hào)所產(chǎn)生的一信號(hào)運(yùn)算結(jié)果；

一處理模塊，耦接于該待測試元件的該第一輸出端以及該第二輸出端，用以轉(zhuǎn)換該待測試元件根據(jù)該測試信號(hào)所產(chǎn)生的該第一輸出信號(hào)以及該第二輸出信號(hào)，產(chǎn)生一處理信號(hào)；

一運(yùn)算模塊，耦接于該處理模塊以及量測模塊，用以接收該處理信號(hào)，并對(duì)該處理信號(hào)進(jìn)行運(yùn)算，以產(chǎn)生該信號(hào)運(yùn)算結(jié)果；以及

一微處理器，耦接于該量測模塊，用以根據(jù)該信號(hào)運(yùn)算結(jié)果來決定該待測試元件的測試結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路測試裝置，其特征在于，該處理模塊具有一輸出端，當(dāng)該處理模塊轉(zhuǎn)換該第一輸出信號(hào)以及該第二輸出信號(hào)成該處理信號(hào)后，通過該輸出端輸出該處理信號(hào)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路測試裝置，其特征在于，該處理模塊為一差動(dòng)放大器，用以將該第一輸出信號(hào)以及該第二輸出信號(hào)進(jìn)行差動(dòng)放大，以產(chǎn)生該處理信號(hào)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電路測試裝置，其特征在于，該處理模塊包括：

一放大器，其包括一正輸入端、一負(fù)輸入端以及一輸出端，其負(fù)輸入端耦接于該待測試元件的該第一輸出端，其正輸入端耦接于該待測試元件的該第二輸出端，該放大器用以將該第一輸出信號(hào)以及該第二輸出信號(hào)進(jìn)行放大，以產(chǎn)生該處理信號(hào)；以及

一第一電阻，耦接于該待測試元件的該第一輸出端以及該放大器的該負(fù)輸入端之間；

一第二電阻，耦接于該待測試元件的該第二輸出端以及該放大器的該正輸入端之間；

一第三電阻，耦接于該放大器的該輸出端以及該負(fù)輸入端之間；以及

一第四電阻，其一端耦接于該第二電阻以及該放大器的該正輸入端之間，其另一端耦接于一接地端。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電路測試裝置，其特征在于，該運(yùn)算模塊為一轉(zhuǎn)換器，用以將交流信號(hào)模式的該處理信號(hào)轉(zhuǎn)換為直流信號(hào)模式的該信號(hào)運(yùn)算結(jié)果。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電路測試裝置，其特征在于，該運(yùn)算模塊為一均方根-直流轉(zhuǎn)換器。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路測試裝置，其特征在于，該電路測試裝置為一邏輯測試機(jī)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路測試裝置，其特征在于，該待測試元件為一集成電路。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路測試裝置，其特征在于，該量測模塊以及該微處理器設(shè)置于一邏輯測試機(jī)內(nèi)。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路測試裝置，其特征在于，該電路測試裝置另包括一暫存器，耦接于該微處理器，用以儲(chǔ)存該測試結(jié)果。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路測試裝置，其特征在于，該電路測試裝置另包括一顯示模塊，用以顯示該待測試元件的測試結(jié)果。