[實用新型]一種高密度測試探針

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200820121191.7
• 申請日: 2008-07-09
• 公開（公告）號: CN201212895Y
• 公開（公告）日: 2009-03-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 沈芳珍;周燕明
• 申請（專利權(quán)）人: 沈芳珍
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

(一)技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及一種測試探針。

(二)背景技術(shù)

一般情況下，印刷電路板及芯片等完成線路布置后，為確定每條線路皆可正常導通，必須用測試探針予以測試，測試探針的一頭接觸測試點，另一頭連接導線，通過導線將測試探針和測試機連接起來。但是有時電路板或芯片上的焊點較密時，現(xiàn)在還沒有專門用于測試排布較密的測試點的高密度測試探針。

(三)發(fā)明內(nèi)容

為了克服現(xiàn)有測試探針沒有針對高密度測試點的不足，本實用新型提供一種針對高密度測試點的高密度測試探針。

本實用新型解決其技術(shù)問題的技術(shù)方案是：一種高密度測試探針，包括針體，所述針體的前端為用于接觸測試點的探測頭，所述針體的后端為扁平片。

進一步，所述針體的前端的探測頭呈圓錐狀，所述針體后端的扁平片外緣呈弧形。

進一步，所述針體的直徑為0.25～0.26mm。

進一步，所述針體的總體長度為49.84～49.86mm，所述扁平片的高度為0.43～0.48mm，所述扁平片外緣所對應的圓心角為117～119°，所述圓錐狀探測頭的錐度為89.5°～90.5°。

本實用新型在使用時，需要測試儀相配合，測試儀內(nèi)設(shè)有豎直放置的壓簧，測試探針后端的扁平片卡設(shè)在壓簧上，測試探針的探測點接觸測試點，壓簧與測試儀內(nèi)的測試設(shè)備連接。

本實用新型的有益效果在于：1.采用針體后端的扁平片與測試儀內(nèi)的壓簧配合，不再需要導線連接，簡化了連接結(jié)構(gòu)，又能防止導線的纏繞。2.提供了一種針對高密度測試點的高密度測試探針。

(四)附圖說明

圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。

(五)具體實施方式

下面結(jié)合附圖和具體實施方式對本實用新型作進一步詳細說明。

參照圖1，一種高密度測試探針，包括針體1，所述針體1的前端為用于接觸測試點的探測頭2，所述針體1的后端為扁平片3，本實施例中，所述針體1的前端的探測頭2呈圓錐狀，所述針體1后端的扁平片3外緣呈弧形，所述針體1的直徑為0.25mm，所述針體1的總體長度為49.85mm，所述扁平片3的高度為0.45mm，所述扁平片3外緣所對應的圓心角為118°，所述圓錐狀探測頭2的錐度為90°。本實用新型在使用時，需要測試儀相配合，測試儀內(nèi)設(shè)有豎直放置的壓簧，測試探針后端的扁平片3卡設(shè)在壓簧上，測試探針的探測點2接觸測試點，壓簧與測試儀內(nèi)的測試設(shè)備連接。

本實用新型提供了一種針對高密度測試點的高密度測試探針，采用針體后端的扁平片與測試儀內(nèi)的壓簧配合，不再需要導線連接，簡化了連接結(jié)構(gòu)，又能防止導線的纏繞。

針體的直徑以0.25～0.26mm為宜，所述針體的總體長度以49.84～49.86mm為宜，所述扁平片的高度以0.43～0.48mm為宜，所述扁平片外緣所對應的圓心角以117～119°為宜，所述圓錐狀探測頭的錐度以89.5°～90.5°為宜。

當然探測頭的形狀并不局限于上述描述，還可以是其他形狀。針體后端的扁平片也不局限于上述形狀。