[實用新型]一種高密度測試探針無效
| 申請號： | 200820121191.7 | 申請日： | 2008-07-09 |
| 公開（公告）號： | CN201212895Y | 公開（公告）日： | 2009-03-25 |
| 發明（設計）人： | 沈芳珍;周燕明 | 申請（專利權）人： | 沈芳珍 |
| 主分類號： | G01R1/067 | 分類號： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 315336浙江省*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 高密度 測試 探針 | ||
【權利要求書】：
1.一種高密度測試探針，包括針體，所述針體的前端為用于接觸測試點的探測頭，其特征在于：所述針體的后端為扁平片。
2.如權利要求1所述的高密度測試探針，其特征在于：所述針體的前端的探測頭呈圓錐狀，所述針體后端的扁平片外緣呈弧形。
3.如權利要求1所述的高密度測試探針，其特征在于：所述針體的直徑為0.25～0.26mm。
4.如權利要求2所述的高密度測試探針，其特征在于：所述針體的直徑為0.25～0.26mm。
5.如權利要求4所述的高密度測試探針，其特征在于：所述針體的總體長度為49.84～49.86mm，所述扁平片的高度為0.43～0.48mm，所述扁平片外緣所對應的圓心角為117～119°，所述圓錐狀探測頭的錐度為89.5°～90.5°。
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