[實(shí)用新型]晶圓清洗設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200820108412.7 | 申請(qǐng)日: | 2008-05-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN201282132Y | 公開(kāi)(公告)日: | 2009-07-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周華;邢程;邊逸軍;陳亮 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中芯國(guó)際集成電路制造(北京)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/00 | 分類號(hào): | H01L21/00;H01L21/02;H01L21/321;B08B3/02 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 李 麗 |
| 地址: | 100176北京市*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 清洗 設(shè)備 | ||
1.一種晶圓清洗裝置,包括:清洗槽;向清洗槽中通入清洗溶液的進(jìn)液裝置,其特征在于,所述的進(jìn)液裝置包括支架,與支架連接的連接管,與連接管連通的一個(gè)以上的噴嘴,所述噴嘴向清洗槽中通入清洗溶液。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述晶圓清洗裝置,其特征在于,所述噴嘴數(shù)量為8~20個(gè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述晶圓清洗裝置,其特征在于,所述噴嘴的孔徑為0.6~1.5mm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述晶圓清洗裝置,其特征在于,所述噴嘴均勻排布。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述晶圓清洗裝置,其特征在于,所述連接管與支架垂直連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述晶圓清洗裝置,其特征在于,所述噴嘴與連接管垂直連通。
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- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
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