[發明專利]電路測試裝置的電路板結構

無效

• 申請號: 200810304544.1
• 申請日: 2008-09-17
• 公開（公告）號: CN101676731A
• 公開（公告）日: 2010-03-24
• 發明（設計）人: 洪干耀
• 申請（專利權）人: 漢民測試系統科技股份有限公司
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02;G01R1/067;G01R1/073;G01R31/28
• 代理公司: 長沙正奇專利事務所有限責任公司
• 代理人: 何 為

1.一種電路測試裝置的電路板結構，其特征在于，該電路板的至少一側表面設有突出的凸部，于該凸部表面設有數內接點，該數內接點可經由數導體與待測試電路各接點形成電連接，而于電路板的另一側表面則設有數外接點，該數外接點可經由數導線與外部測試裝置形成電連接，且于該電路板內設有導電線路銜接于各內、外接點之間。

2.根據權利要求1所述的電路測試裝置的電路板結構，其特征在于，該電路板于臨凸部的一側另結合一固定環墊，該固定環墊中央設有一中央鏤空部，以供套合于該凸部。

3.根據權利要求1或2所述的電路測試裝置的電路板結構，其特征在于，該銜接于數內接點的數導體為數探針。

4.根據權利要求3所述的電路測試裝置的電路板結構，其特征在于，該數探針以一探針固定裝置固定各探針與內接點抵觸的一端，且使各探針的另一端形成可伸縮彈翹的狀態。

5.根據權利要求4所述的電路測試裝置的電路板結構，其特征在于，該探針固定裝置至少由一上夾板迭置于一墊片上所組成，于該墊片中央設有一鏤空部，而該上夾板則于對應鏤空部區域內設有數定位孔，可供夾套各探針的端部。

6.根據權利要求5所述的電路測試裝置的電路板結構，其特征在于，該探針固定裝置的墊片于對應上夾板的另一表側設有一下夾板，于該下夾板上設有數直徑大于探針外徑的通孔，可供各探針通過并向外延伸。

7.根據權利要求3所述的電路測試裝置的電路板結構，其特征在于，各探針中段設有一彎折部。

8.根據權利要求4所述的電路測試裝置的電路板結構，其特征在于，各探針中段設有一彎折部。

9.根據權利要求5所述的電路測試裝置的電路板結構，其特征在于，各探針中段設有一彎折部。

10.根據權利要求6所述的電路測試裝置的電路板結構，其特征在于，各探針中段設有一彎折部。

11.根據權利要求1或2所述的電路測試裝置的電路板結構，其特征在于，該電路板于臨凸部的另一側中央結合一加強墊。

12.根據權利要求3所述的電路測試裝置的電路板結構，其特征在于，該電路板于臨凸部的另一側中央結合一加強墊。

13.根據權利要求4所述的電路測試裝置的電路板結構，其特征在于，該電路板于臨凸部的另一側中央結合一加強墊。

14.根據權利要求11所述的電路測試裝置的電路板結構，其特征在于，該加強墊面積小于電路板，且各外接點分布于加強墊外旁側的電路板上。

15.根據權利要求12所述的電路測試裝置的電路板結構，其特征在于，該加強墊面積小于電路板，且各外接點分布于加強墊外旁側的電路板上。

16.根據權利要求13所述的電路測試裝置的電路板結構，其特征在于，該加強墊面積小于電路板，且各外接點分布于加強墊外旁側的電路板上。