[發(fā)明專利]阻抗測試裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810301732.9
• 申請日: 2008-05-23
• 公開（公告）號: CN101587149A
• 公開（公告）日: 2009-11-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李雷;董林森;姜志強;陳平;成智;孫長發(fā);譚傳康;李林;王春影
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳富泰宏精密工業(yè)有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種阻抗測試裝置，尤其涉及一種可自動進行多點 阻抗測試的阻抗測試裝置。

背景技術(shù)

在電子元器件制造領(lǐng)域中，各電子元器件在裝配使用之前，為 使其具備導(dǎo)電、屏蔽等功能，一般都必須對所述電子元器件進行阻 抗測試，以確認(rèn)該電子元器件的阻抗值是否在客戶要求的規(guī)格內(nèi)。 通常，客戶會在電子元器件的藍圖上標(biāo)注出若干阻抗測量點的測試 位置，并標(biāo)示某個測試點為公共點，要求檢測其余阻抗測試點與公 共點之間的阻抗值。

在整個測試過程中，檢測人員需利用萬用表或阻抗儀手動測試 所述電子元件的公共點與其余各阻抗測試點之間的阻抗值，每測試 完一次所述電子元件的公共點與其余各阻抗測試點之間的阻抗值， 就需要從所述萬用表或阻抗儀上讀取并手動記錄該測得的阻抗數(shù) 據(jù)。接下來，重復(fù)上述操作，直至將所有數(shù)據(jù)測試完。最后，需要 將記錄的測試數(shù)據(jù)導(dǎo)入到計算機內(nèi)進行分析，以確定所述電子元件 是否符合客戶要求。整個測試過程繁瑣、且測試誤差比較大，測試 效率低。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上所述，有必要提供一種測試過程簡單、誤差小，且可 有效提高測試效率的阻抗測試裝置。

一種阻抗測試裝置，用于對待測試工件進行阻抗測試，所述阻 抗測試包括一測試平臺、一驅(qū)動裝置、若干測試探針、一信息處理 裝置、一顯示器、一萬用表、一繼電器模組、若干控制按鍵；所述 測試平臺包括一底座、二卡持塊、一工件安裝治具及一探針安裝架， 所述工件安裝治具可滑動地裝設(shè)于所述二卡持塊之間，該工件安裝 治具用于放置所述待測試工件，所述探針安裝架可調(diào)節(jié)地裝設(shè)于該 底座上方位置處；所述驅(qū)動裝置裝設(shè)于所述底座上，并與所述探針 安裝架固接以驅(qū)動所述探針安裝架相對放置于底座上的待測試工件 移動；所述若干測試探針裝設(shè)于所述探針安裝架上，并與所述繼電 器模組電性連接；所述信息處理裝置裝設(shè)于所述底座內(nèi)，其包括一 中央處理器，該中央處理器與所述若干控制按鍵、驅(qū)動裝置、顯示 器、繼電器模組及萬用表電性連接，用于接收指令并驅(qū)動所述驅(qū)動 裝置、萬用表及繼電器模組工作，并對測得的結(jié)果進行比較分析； 所述控制按鍵用于向阻抗測試裝置輸入相關(guān)指令，所述顯示器用于 顯示相關(guān)輸入指令及測試結(jié)果，所述繼電器模組用于控制所述測試 探針并驅(qū)動所述萬用表進行阻抗測試。

相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明所述阻抗測試裝置可一次性自動對待 測試工件上的多個阻抗測試點進行阻抗測試，同時對測試結(jié)果進行 分析，并將每次測得的阻抗值進行存儲，從而有效提高了阻抗測試 效率及測試質(zhì)量。

附圖說明

圖1為本發(fā)明阻抗測試裝置的硬件架構(gòu)示意圖；

圖2為圖1所示阻抗測試裝置一較佳實施例的立體分解示意圖；

圖3為本發(fā)明所示阻抗測試裝置的立體組裝示意圖；

圖4為本發(fā)明阻抗測試裝置工作時，待測試工件放置于其定位 裝置上的立體示意圖；

圖5為本發(fā)明阻抗測試裝置工作時，探針與待測試工件接觸時 的立體示意圖。

具體實施方式

請參閱圖1，所示為本發(fā)明阻抗測試裝置100的硬件架構(gòu)示意圖。 所述阻抗測試裝置100用于對一待測試工件200(見圖4)進行阻抗測 試，以檢測其阻抗值是否在規(guī)定的范圍內(nèi)。所述阻抗測試裝置100 包括一測試平臺10、一驅(qū)動裝置20、若干測試探針30、一信息處理 裝置40、一顯示器50、一萬用表60、一繼電器模組70、一存儲卡80 及若干控制按鍵90。