[發明專利]阻抗測試裝置

無效

• 申請號: 200810301732.9
• 申請日: 2008-05-23
• 公開（公告）號: CN101587149A
• 公開（公告）日: 2009-11-25
• 發明（設計）人: 李雷;董林森;姜志強;陳平;成智;孫長發;譚傳康;李林;王春影
• 申請（專利權）人: 深圳富泰宏精密工業有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種阻抗測試裝置，用于對待測試工件進行阻抗測試，其特 征在于：所述阻抗測試包括一測試平臺、一驅動裝置、若干測試探 針、一信息處理裝置、一顯示器、一萬用表、一繼電器模組、若干 控制按鍵；所述測試平臺包括一底座、二卡持塊、一工件安裝治具 及一探針安裝架，所述工件安裝治具可滑動地裝設于所述二卡持塊 之間，該工件安裝治具用于放置所述待測試工件，所述探針安裝架 可調節地裝設于該底座上方位置處；所述驅動裝置裝設于所述底座 上，并與所述探針安裝架固接以驅動所述探針安裝架相對放置于底 座上的待測試工件移動；所述若干測試探針裝設于所述探針安裝架 上，并與所述繼電器模組電性連接；所述信息處理裝置裝設于所述 底座內，其包括一中央處理器，該中央處理器與所述若干控制按鍵、 驅動裝置、顯示器、繼電器模組及萬用表電性連接，用于接收指令 并驅動所述驅動裝置、萬用表及繼電器模組工作，并對測得的結果 進行比較分析；所述控制按鍵用于向阻抗測試裝置輸入相關指令， 所述顯示器用于顯示相關輸入指令及測試結果，所述繼電器模組用 于控制所述測試探針并驅動所述萬用表進行阻抗測試。

2.如權利要求1所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述信息 處理裝置還包括一驅動裝置連接端口、一顯示器接口、一萬用表連 接端口、一繼電器控制端口及一輸入控制端口，該驅動裝置連接端 口、顯示器接口、萬用表連接端口、繼電器控制端口及輸入控制端 口均與所述中央處理器電性連接，并分別對應地與驅動裝置、顯示 器、萬用表、繼電器模組及輸入控制按鍵電性連接。

3.如權利要求2所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述底座 呈箱體狀，其包括一頂板、一操作面板及一防護板，所述頂板上靠 近其一側緣位置處相對設有二導滑塊，以使所述探針安裝架可滑動 地裝設于所述導滑塊上；所述若干控制按鍵及顯示器裝設于所述操 作面板上，所述防護板固定裝設于頂板上靠近其一側的周緣位置處， 并與頂板共同圍成一容置空間，所述驅動裝置及導滑塊容置于該容 置空間內。

4.如權利要求3所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述二卡 持塊橫截面呈L形，其相對間隔地固定裝設于頂板上，并與頂板共 同圍成一裝設空間；所述工件安裝治具可滑動地裝設于所述裝設空 間內。

5.如權利要求4所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述卡持 塊上靠近其一側緣位置處設有一條形滑槽，所述工件安裝治具包括 一主體部、二由所述主體部兩側相對延伸的滑塊，所述二滑塊上分 別設有一安裝孔，用以將工件安裝治具可滑動地裝設于所述卡持塊 上，并于該滑塊的條形滑槽內滑動以防止其與卡持塊脫離。

6.如權利要求5所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述工件 安裝治具還包括一工件安裝部及一推桿，所述工件安裝部呈矩形凹 腔狀，其凹設于所述主體部上，用于裝設待測試工件；所述推桿固 接于所述主體部上。

7.如權利要求3所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述探針 安裝架包括一連接端及一探針安裝端，該連接端的兩端對應于所述 二導滑塊各設有一導滑通孔，以使探針安裝架可滑動地裝設于該二 導滑塊上；所述連接端中部位置處凸設有一固定塊，以將所述探針 安裝架固定裝設于所述驅動裝置上。

8.如權利要求7所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述探針 安裝端貫通開設有若干探針安裝通孔，所述若干探針對應地裝設于 所述探針安裝架的若干探針安裝通孔內。

9.如權利要求4所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述頂板 上中部位置處貫通開設有一安裝孔，該安裝孔位于所述二卡持塊之 間；所述測試平臺還包括一監測裝置，其固定裝設于所述安裝孔中， 并電性連接于所述信息處理裝置上，以用于檢測待測試工件是否準 確定位。

10.如權利要求1所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述阻抗 測試裝置還包括一存儲卡，所述信息處理裝置還包括一存儲卡卡座， 該存儲卡卡座與中央處理器電性連接；所述操作面板上對應于所述 存儲卡卡座位置處設有一條形的存儲卡安裝孔，以使得所述存儲卡 通過該存儲卡安裝孔與所述存儲卡卡座電性連接。