[發明專利]一種集成電路板級自動測試系統

無效

• 申請號: 200810239968.4
• 申請日: 2008-12-16
• 公開（公告）號: CN101750578A
• 公開（公告）日: 2010-06-23
• 發明（設計）人: 張琳;劉煒;石志剛;吉國凡;王慧;金蘭;宋奕霖
• 申請（專利權）人: 北京華大泰思特半導體檢測技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;B07C5/344
• 代理公司: 北京北新智誠知識產權代理有限公司 11100
• 代理人: 陳曦

技術領域

本發明涉及一種集成電路測試系統，尤其涉及一種面向具有USB接口的集成電路芯片的板級自動測試系統，屬于集成電路測試技術領域。

背景技術

在集成電路制造過程中，測試是保證集成電路性能、質量的關鍵手段之一。近年來，隨著集成電路設計規模的不斷增大，設計方法的不斷提高，以及高密度工藝技術的普遍采用，如今生產的集成電路尺寸小巧，功能強大。隨之也引發了一個前所未有的挑戰-生產商該如何高效廉價地測試這些集成電路芯片。

目前，測試集成電路的方法通常是使用自動測試設備(AutomaticTest?Equipment，簡寫為ATE)。ATE在集成電路產業中通常是指集成電路自動測試機。該集成電路自動測試機主要用于檢測集成電路功能的完整性，以確保集成電路生產制造的品質。但是，集成電路自動測試設備由少數廠家壟斷，不僅價格昂貴，而且使用范圍比較有效。例如對于具有USB接口模塊的集成電路芯片，現有的自動測試設備并沒有提供廉價高效的測試解決方案。

在專利號為200420001469.9的中國實用新型專利中，提供了一種USB端口測試裝置，包括殼體、控制單元以及接口；其中，所述控制單元位于所述殼體內部，包括控制接口的接口控制電路和處理測試數據的數據自動分選機；所述接口包括從待測試USB端口向控制單元供電的電源信號端子和接地端子、以及建立數據自動分選機與待測試USB端口之間的數據通道的數據信號端子。所述裝置還設有指示燈，指示所述裝置與被測USB端口物理連接狀態是否良好。該USB端口測試裝置可以測試電子設備的USB端口的即插即用性能，既方便操作，又提高了測試效率，同時降低了測試成本。

但是，上述USB端口測試裝置并不具備測試集成電路芯片的能力，因此無法滿足具有USB接口的集成電路芯片的測試需要。

發明內容

本發明的目的在于提供一種面向具有USB接口的集成電路芯片的板級自動測試系統。該板級自動測試系統是專門為測試具有USB接口模塊的集成電路芯片而開發的。

為實現上述的目的，本發明采用下述的技術方案：

一種集成電路板級自動測試系統，其特征在于：

所述集成電路板級自動測試系統包括計算機、GPIB接口、USB接口、自動分選機和測試接口板；其中，

計算機連接GPIB接口和USB接口，GPIB接口連接自動分選機，自動分選機和USB接口都連接測試接口板，測試接口板連接被測器件。

本發明所提供的集成電路板級自動測試系統具有使用方便、成本低廉、自動化程度高等特點。同時，本集成電路板級自動測試系統還具有高效的并行測試能力，通過有效地平衡設計與測試資源，縮短了測試時間，為用戶提供了更為有效的測試解決方案。

附圖說明

下面結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步的說明。

圖1為本集成電路板級自動測試系統的組成結構示意圖；

圖2顯示了本集成電路板級自動測試系統所實現的各項測試功能；

圖3顯示了本集成電路板級自動測試系統進行集成電路測試的具體工作過程。

具體實施方式

參見圖1所示，本發明所提供的集成電路板級自動測試系統包括計算機、GPIB接口、USB接口、自動分選機(HANDLER)和測試接口板。其中，計算機連接GPIB接口和USB接口，GPIB接口連接自動分選機(HANDLER)。該自動分選機(HANDLER)和USB接口都連接測試接口板，而測試接口板連接被測器件(Device?under?test，簡寫為DUT)。

在本集成電路板級自動測試系統中，所使用的計算機可以是普通的PC機，也可以是具有較高運算能力的MCU(微控制器)。所使用的自動分選機(HANDLER)優選為EPSON?NS-6040HANDLER。這是一款擁有單通道/雙通道/多通道測試模式，可以對QFP/TSOP/PGA/BGA/PLCC/QFN等封裝方式的集成電路芯片進行高速測試的混合信號自動分選機。GPIB接口是計算機與自動分選機(HANDLER)之間的通信接口。USB接口是測試接口板與計算機的通信接口。這些接口都是本領域一般技術人員所熟知的，在此就不詳細贅述了。