[發明專利]一種集成電路板級自動測試系統無效
| 申請號： | 200810239968.4 | 申請日： | 2008-12-16 |
| 公開（公告）號： | CN101750578A | 公開（公告）日： | 2010-06-23 |
| 發明（設計）人： | 張琳;劉煒;石志剛;吉國凡;王慧;金蘭;宋奕霖 | 申請（專利權）人： | 北京華大泰思特半導體檢測技術有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;B07C5/344 |
| 代理公司： | 北京北新智誠知識產權代理有限公司 11100 | 代理人： | 陳曦 |
| 地址： | 100088 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 集成 電路板 自動 測試 系統 | ||
【權利要求書】：
1.一種集成電路板級自動測試系統，其特征在于：
所述集成電路板級自動測試系統包括計算機、GPIB接口、USB接口、自動分選機和測試接口板；其中，
所述計算機連接所述GPIB接口和USB接口，所述GPIB接口連接所述自動分選機，所述自動分選機和所述USB接口都連接所述測試接口板，所述測試接口板連接被測器件。
2.如權利要求1所述的集成電路板級自動測試系統，其特征在于：
所述測試接口板與對接板緊密結合，與對接板的接觸面全部絕緣。
3.如權利要求1所述的集成電路板級自動測試系統，其特征在于：
所述測試接口板和所述自動分選機之間由導孔和導針進行定位。
4.如權利要求1所述的集成電路板級自動測試系統，其特征在于：
所述自動分選機為EPSON?NS-6040?HANDLER。
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