[發明專利]一種存儲器在板測試方法

無效

• 申請號: 200810236587.0
• 申請日: 2008-12-31
• 公開（公告）號: CN101770812A
• 公開（公告）日: 2010-07-07
• 發明（設計）人: 崔強;彭剛鋒;葉關山
• 申請（專利權）人: 中國航空工業第一集團公司第六三一研究所
• 主分類號: G11C29/00
• 分類號: G11C29/00
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 康凱

技術領域

本發明涉及一種存儲器測試方法，尤其涉及一種存儲器在板測試方法。

背景技術

目前對于存儲器芯片的測試，已經有一些成熟的算法在設計測試方法時被廣泛使用，如March、Walk、Gallop、Damier、Movi等算法。但是因為以上算法都是基于一定的順序對全地址空間進行遍歷，隨著對測試要求的充分性和存儲器空間的不斷增加，測試步驟隨之成倍的增加，測試所需的時間和資源也成倍的增加。然而對于在板測試，通常在模塊生產下線后對單模塊的測試時間和效率都有嚴格要求，存儲器芯片測試算法的高時間消耗顯然不能與實際的測試需要相適應。另外對于在板存儲器的測試，還必須考慮到PCB板和板上其它器件對被測存儲器的影響。由于在板測試在時間和效率上的嚴格要求，對單片存儲器芯片的測試方法并不適用于存儲器的在板測試，因此許多經典的測試算法并不完全適用于嵌入式存儲器在板測試。

發明內容

本發明的目的為提供一種存儲器在板測試方法，其具有高時效性，解決了現有存儲器芯片測試所帶來的高時間消耗的技術問題。

本發明的技術解決方案為：

一種存儲器在板測試方法，其特殊之處在于，包括以下步驟：

1)先測試控制線，如果不通過故障信息顯示和處理，測試結果輸出到測試報告管理程序，測試結束；

2)如果通過進行花碼數據輸入法測試，對數據線和地址線進行初測，其故障的規律可以為故障芯片定位提供幫助；

3)再利用01步進法將測試故障定位到具體那根數據線和地址線，還測試部分覆蓋的存儲單元，如果不通過故障信息顯示和處理，測試結果輸出到測試報告管理程序，測試結束；

4)如果通過再通過March算法測試對存儲器的全地址空間進行全面測試，無論通過還是不通過均故障信息顯示和處理，測試結果輸出到測試報告管理程序，測試結束。

上述花碼數據輸入法具體是：對于測試輸入的數據，根據距離效應選取兩組差異最大的花碼數據作為輸入數據；在選擇測試地址時，由于線路傳輸具有電容效應，在每寫完一組后，再按寫時的順序讀出，選取的地址為與數據輸入相同的花碼。

上述01步進法是指改進Movi算法：在輸入數據為全0或全1的背景下，尋址順序為使地址線的每一位順序逐次變高或變低的地址序列，它用地址線遍歷代替全地址空間遍歷，地址移位序列中僅包含log2N+1個選擇的地址單元，即表1所示碼字所表示的地址單元，其測試時間降為(log2N+1)×T；

該測試算法先寫單元，后讀單元，先按照地址位從低到高移位的順序寫入，再按照地址位從高到低移位的順序讀出作比對；

上述讀寫操作共進行兩次，地址移位序列先選取在全0的背景下移位1，再選取在全1的背景下移位0。

上述March算法具體是：對一個單元進行完寫0、讀0寫1的操作后，再順次向下一個單元進發，它對存儲器的單個單元靜態故障、單個單元動態故障、靜態耦合故障都有較強的診斷能力。

上述距離效應即兩個測試向量的海明距離是指兩個測試向量相應位不同的個數越大，它們能檢測到的不同故障數越多。

上述電容效應具體是指寫入數據并立即讀出，即使線路開路故障也不一定能檢測出。

上述選取的地址為與數據輸入相同的花碼具體實現是如果地址線比數據線位數多，則補1，直到選取的地址為與數據輸入相同的花碼。

上述測試控制線是用程控萬用表測試控制線。

上述存儲器可以是嵌入式存儲器。

上述01步進法的測試算法共使用了存儲器地址空間的(log2N+1)×2個單元。

本發明的優點為：

1、具有高時效性。本發明要求首先應具有高時效性，其次應對線路故障有高故障覆蓋率，再次應兼顧存儲器芯片自身故障的檢測。

2、具有較好的故障覆蓋率。本發明同時覆蓋了存儲器芯片自身故障和電路板線路故障，在測試需求和測試耗費間取得了較好的平衡，有較好的故障覆蓋率和時效性。

附圖說明

圖1為本發明測試程序流程圖。

具體實施方式

參見圖1，本發明的測試方法按順序主要分為三步測試：第一步花碼數據輸入法測試，第二步01步進法測試數據線和地址線，第三步March算法測試。第一步基本只測數據線和地址線，初測，如果不是存儲器故障則其故障的規律可以故障芯片定位提供幫助；第二步故障定位到具體那根數據/地址線，還可測試部分存儲單元；第三步存儲器測試。

1.用花碼數據輸入法測試