[發明專利]一種存儲器在板測試方法

無效

• 申請號: 200810236587.0
• 申請日: 2008-12-31
• 公開（公告）號: CN101770812A
• 公開（公告）日: 2010-07-07
• 發明（設計）人: 崔強;彭剛鋒;葉關山
• 申請（專利權）人: 中國航空工業第一集團公司第六三一研究所
• 主分類號: G11C29/00
• 分類號: G11C29/00
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 康凱

1.一種存儲器在板測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

1)先測試控制線，如果不通過故障信息顯示和處理，測試結果輸出到測試報告管理程序，測試結束；

2)如果通過進行花碼數據輸入法測試，對數據線和地址線進行初測，其故障的規律可以為故障芯片定位提供幫助；

3)再利用01步進法將測試故障定位到具體那根數據線和地址線，還測試部分覆蓋的存儲單元，如果不通過故障信息顯示和處理，測試結果輸出到測試報告管理程序，測試結束；

4)如果通過再通過March算法測試對存儲器的全地址空間進行全面測試，無論通過還是不通過均故障信息顯示和處理，測試結果輸出到測試報告管理程序，測試結束。

2.根據權利要求1所述存儲器在板測試方法，其特征在于：所述花碼數據輸入法具體是：對于測試輸入的數據，根據距離效應選取兩組差異最大的花碼數據作為輸入數據；在選擇測試地址時，由于線路傳輸具有電容效應，在每寫完一組后，再按寫時的順序讀出，選取的地址為與數據輸入相同的花碼。

3.根據權利要求1所述存儲器在板測試方法，其特征在于，所述01步進法是指改進Movi算法：在輸入數據為全0或全1的背景下，尋址順序為使地址線的每一位順序逐次變高或變低的地址序列，它用地址線遍歷代替全地址空間遍歷，地址移位序列中僅包含log2N+1個選擇的地址單元，即表1所示碼字所表示的地址單元，其測試時間降為(log2N+1)×T；

該測試算法先寫單元，后讀單元，先按照地址位從低到高移位的順序寫入，再按照地址位從高到低移位的順序讀出作比對；

上述讀寫操作共進行兩次，地址移位序列先選取在全0的背景下移位1，再選取在全1的背景下移位0。

4.根據權利要求1所述存儲器在板測試方法，其特征在于，所述March算法具體是：對一個單元進行完寫0、讀0寫1的操作后，再順次向下一個單元進發，它對存儲器的單個單元靜態故障、單個單元動態故障、靜態耦合故障都有較強的診斷能力。

5.根據權利要求2所述存儲器在板測試方法，其特征在于：所述距離效應即兩個測試向量的海明距離是指兩個測試向量相應位不同的個數越大，它們能檢測到的不同故障數越多。

6.根據權利要求2所述存儲器在板測試方法，其特征在于：所述電容效應具體是指寫入數據并立即讀出，即使線路開路故障也不一定能檢測出。

7.根據權利要求2所述存儲器在板測試方法，其特征在于：所述選取的地址為與數據輸入相同的花碼具體實現是如果地址線比數據線位數多，則補1，直到選取的地址為與數據輸入相同的花碼。

8.根據權利要求1～7任一所述存儲器在板測試方法，其特征在于：所述測試控制線是用程控萬用表測試控制線。

9.根據權利要求8所述存儲器在板測試方法，其特征在于：所述存儲器是嵌入式存儲器。

10.根據權利要求9所述存儲器在板測試方法，其特征在于：所述01步進法的測試算法共使用了存儲器地址空間的(log2N+1)×2個單元。