[發明專利]基于灰色系統理論的重復動態測量數據處理方法無效
| 申請號: | 200810224569.0 | 申請日: | 2008-10-21 |
| 公開(公告)號: | CN101398311A | 公開(公告)日: | 2009-04-01 |
| 發明(設計)人: | 王中宇;葛樂矣 | 申請(專利權)人: | 北京航空航天大學 |
| 主分類號: | G01D3/02 | 分類號: | G01D3/02;G06F17/10 |
| 代理公司: | 北京慧泉知識產權代理有限公司 | 代理人: | 王順榮;唐愛華 |
| 地址: | 100191北京市海淀區學院路*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 灰色 系統 理論 重復 動態 測量 數據處理 方法 | ||
1.一種基于灰色系統理論的重復動態測量數據處理方法,其特征在于:
步驟一:被測量信號x(t)在動態測量過程中按照指定的測量函數測量,在各 時間采樣點進行離散采樣,累加相應的測量系統誤差修正數據后,得到消除系 統誤差影響的動態測量數據序列{yh(k),k=1,…,n;h=1,…,m};
步驟二:在重復動態測量數據處理系統中,對進入的動態測量數據序列 {yh(k),k=1,…,n;h=1,…,m}在各時間采樣點上的測得值進行平均化;
在消除系統誤差后,對多次動態測量輸出y1(t),…,yh(t),…,ym(t)進行離散采 樣,h=1,…,m,m為重復測量的次數,得到序列
其中,n為一次動態測量樣本的離散數據量;
由公式
對各離散采樣點的動態測量數據進行算術平均,得到動態測量期望函數 的動態測量均值序列
步驟三:將動態測量均值序列按照正交多項式高階數據 擬合原理進行計算,求出動態測量期望函數的擬合曲線模型;
設是區間(a,b)上帶權ρ(w)的正交函數系,r為將要擬合 的曲線的最高階次,w為自變量,滿足:
i,j∈(0,r),i≠j????(4)
取ρ(w)=1,則基于勒讓德正交多項式的最佳平方逼近動態測量均值序列的 擬合所得曲線的法方程組為:
得到法方程組的解為:
i=0,1,…,r????(6)
而作為基底的r次勒讓德正交多項式計算公式為:
L0(w)≡1,
算得:
L1(w)=w,
動態測量以t為自變量,設t∈(a,b),為動態測量期望函數,勒讓德正交 多項式Li(w)是區間(-1,1)上權ρ(w)=1的正交多項式,針對所擬合的數學模型作 變量變換:
計算:
其中n為離散采樣數據點數,r滿足r+1≤n;
按照(3)式計算,得到離散數據,再根據擬合公式:
得到的以w為自變量的最佳平方逼近r次函數,做變量回代:
得到動態測量期望函數該動態測量期望函數是動態測量結果y(t)的最 可信賴值;
步驟四:動態測量數據序列{yh(k),k=1,…,n;h=1,…,m},在各時間采樣點 上的測得值按照灰色系統理論進行累加生成處理(AGO),使用不確定度灰評 定技術,計算得到各時間采樣點上動態測量標準不確定度,做曲線擬合,得到 動態測量不確定度函數數學模型u(t);
對于在第k個離散采樣點上動態測量數據,由于存在測量誤差,使第k個離 散采樣點上動態測量數據都接近于但不等于被測量的真實值,測量數據按從小 到大的順序排列為
式中δkh為第k個離散采樣點對應動態測量列隨機誤差;
對做累加生成,得到測得值累加數列
實際的測量數據累加生成后為一近指數曲線,作為測量累加曲線;
測量累加曲線與參考累加直線之間的距離為
根據最大距離值Δkmax和動態測量重復測量次數m,來評定各離散采樣點上 動態測量標準不確定度,用標準差表示;這里定義測量結果的標準差為:
式中c為灰常數,取灰常數c=2.5,則
同樣依據步驟三的正交多項式高階數據擬合原理,對各離散采樣點對應的 標準不確定度數據列做曲線擬合,得到動態測量不確定度函數數學模型u(t)。
2.如權利要求1所述的一種基于灰色系統理論的重復動態測量數據處理方 法,其特征在于:所述的指定的測量函數為線性運算函數。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京航空航天大學,未經北京航空航天大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200810224569.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:生產活性成分的固體分散體的方法
- 下一篇:微束等離子弧焊主弧電源多功能主電路





