[發(fā)明專利]具有監(jiān)控電極的石英晶體裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810214852.5 | 申請日: | 2008-09-03 |
| 公開(公告)號: | CN101383591A | 公開(公告)日: | 2009-03-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 播磨秀典;守谷貢一 | 申請(專利權(quán))人: | 日本電波工業(yè)株式會社 |
| 主分類號: | H03B5/32 | 分類號: | H03B5/32 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 王新華 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 監(jiān)控 電極 石英 晶體 裝置 | ||
1.一種石英晶體裝置,包括:
容器本體,該容器本體帶有形成在一個主表面上的第一凹槽和形成在 另一個主表面上的第二凹槽;
密封封裝在所述第一凹槽內(nèi)的晶體胚;
在所述第二凹槽內(nèi)的底面的電路端子,所述電路端子與IC芯片的晶體 連接端子對應(yīng),所述電路端子電連接所述晶體胚;
IC芯片,其通過固定在所述第二凹槽的底面上而被容納在所述第二凹 槽內(nèi),并且其上集成了使用所述晶體胚的電路;
設(shè)置在由所述第二凹槽底面內(nèi)的所述IC芯片覆蓋的位置處并通過所述 電路端子電連接到所述晶體胚的晶體檢測端子;和
形成在所述容器本體的外側(cè)面上并電連接到所述晶體胚上的晶體監(jiān)控 端子,
即使在所述IC芯片被固定到所述第二凹槽底面的狀態(tài)下,也可以通過 使用所述晶體監(jiān)控端子來測量所述晶體胚的振動特性;
所述容器本體包括疊層陶瓷,所述疊層陶瓷通過層疊陶瓷片而配置為 多層,所述晶體監(jiān)控端子形成在除了對應(yīng)于容器本體中的最低底面和最上 面的陶瓷片材外的與每層陶瓷片材的側(cè)面對應(yīng)的位置處,以及
其中,所述晶體監(jiān)控端子和所述電路端子通過導(dǎo)電路徑電連接,所述 導(dǎo)電路徑形成于陶瓷片之間的層壓平面。
2.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述晶體監(jiān)控端子形成在 凹部內(nèi),所述凹部形成在所述容器本體的外側(cè)面上。
3.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述電路是使用所述晶體 胚的振蕩電路,并且所述裝置被配置為表面安裝晶體振蕩器。
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