[發明專利]用于獲得與太赫茲波有關的信息的設備和方法

有效

• 申請號: 200810212464.3
• 申請日: 2008-08-29
• 公開（公告）號: CN101377406A
• 公開（公告）日: 2009-03-04
• 發明（設計）人: 井辻健明
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06;G01N21/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 康建忠

1.一種用于獲得與透射過樣本或被樣本反射的太赫茲波有關的信息的設備，所述設備包括：

生成單元，用于生成太赫茲波；

檢測單元，用于檢測由生成單元生成的、并透射過樣本或被樣本反射的太赫茲波；

延遲單元，用于改變檢測單元檢測太赫茲波的定時；

存儲單元，用于預先存儲與樣本有關的信息；以及

波形獲得單元，用于通過使用延遲單元來獲得透射的或反射的太赫茲波的時間波形，

其中，延遲單元是可控制的，以允許檢測單元在與所述時間波形有關的如下區域中檢測太赫茲波，所述區域是基于預先存儲在存儲單元中的與樣本有關的信息而設置的，并且所述區域中的透射的或反射的太赫茲波的時間波形被獲得。

2.根據權利要求1所述的設備，其中，預先存儲在存儲單元中的與樣本有關的信息是由波形獲得單元先前獲得的透射過樣本或被樣本反射的太赫茲波的時間波形。

3.根據權利要求1所述的設備，其中，所述區域是所述時間波形的脈沖。

4.根據權利要求1所述的設備，其中，波形獲得單元通過基于由延遲單元改變的定時對由檢測單元檢測到的太赫茲波進行采樣，獲得透射過樣本或被樣本反射的太赫茲波的時間波形。

5.根據權利要求1所述的設備，其中，延遲單元改變生成太赫茲波的定時以及檢測太赫茲波的定時中的至少一個。

6.根據權利要求1所述的設備，其中，基于所述區域中的透射的或反射的太赫茲波的所述時間波形，獲得與樣本有關的信息。

7.根據權利要求1所述的設備，其中，將所述區域中的透射的或反射的太赫茲波的所述時間波形與預先存儲在存儲單元中的所述信息進行比較，以導出樣本的狀態。

8.根據權利要求1所述的設備，其中，對測量樣本的次數進行計數，累積由檢測單元檢測到的測得太赫茲波，以通過使用累積值和所述次數獲得太赫茲波的平均強度。

9.根據權利要求1所述的設備，進一步包括被配置為生成脈沖激光的光纖激光器，其中：

生成單元包括被配置為通過照射所述脈沖激光生成太赫茲波的光導元件；以及

檢測單元包括被配置為通過照射所述脈沖激光檢測太赫茲波的光導元件。

10.一種獲得與透射過樣本或被樣本反射的太赫茲波有關的信息的方法，所述方法包括：

生成太赫茲波；

檢測所生成的太赫茲波入射到樣本而得到的太赫茲波；

通過改變檢測定時，獲得透射的或反射的太赫茲波的時間波形；

改變定時，以便在與預先獲得的所述時間波形有關的如下區域中檢測透射的或反射的太赫茲波，所述區域是基于透射過樣本或被樣本反射的太赫茲波的所述時間波形而設置的；以及，

獲得所述區域中的透射的或反射的太赫茲波的時間波形。

11.根據權利要求10所述的方法，其中，將所述區域中檢測到的太赫茲波的脈沖與預先獲得的透射過樣本或被樣本反射的太赫茲波的所述時間波形的脈沖進行比較，以導出樣本的狀態。

12.根據權利要求10所述的方法，其中，所述反射的太赫茲波是被樣本的折射率邊界面反射的脈沖。

13.一種用于獲得與透射過樣本或被樣本反射的太赫茲波有關的信息的設備，所述設備包括：

光纖激光器，被配置為生成脈沖激光；

生成單元，用于通過照射所述脈沖激光生成太赫茲波；

檢測單元，用于通過照射所述脈沖激光檢測由生成單元生成的、并透射過樣本或被樣本反射的太赫茲波；

延遲單元，用于改變檢測單元檢測太赫茲波的定時；

波形獲得單元，用于通過使用延遲單元來獲得透射的或反射的太赫茲波的時間波形；以及

存儲單元，用于存儲由波形獲得單元先前獲得的透射過樣本或被樣本反射的太赫茲波的時間波形，

其中，對測量樣本的次數進行計數，累積由檢測單元檢測到的測得太赫茲波，以通過使用累積值和所述次數獲得太赫茲波的平均強度，

其中，延遲單元是可控制的，以允許檢測單元在與所述時間波形有關的如下區域中檢測太赫茲波，所述區域是基于預先存儲在存儲單元中的太赫茲波的所述時間波形而設置的，

其中，通過太赫茲波的所述平均強度，獲得所述區域中的透射的或反射的太赫茲波的時間波形，

其中，將所述區域中的透射的或反射的太赫茲波的所述時間波形與預先存儲在所述存儲單元中的太赫茲波的所述時間波形進行比較，以導出樣本的狀態。