[發明專利]單個金屬微滴大冷速原位快速熱分析測定過冷度的方法無效
| 申請號: | 200810203985.2 | 申請日: | 2008-12-04 |
| 公開(公告)號: | CN101430292A | 公開(公告)日: | 2009-05-13 |
| 發明(設計)人: | 高玉來;楊斌;鄒長東;翟啟杰;克里斯托夫·什克;艾烏基尼·朱拉夫列夫 | 申請(專利權)人: | 上海大學 |
| 主分類號: | G01N25/02 | 分類號: | G01N25/02 |
| 代理公司: | 上海上大專利事務所(普通合伙) | 代理人: | 顧勇華 |
| 地址: | 200444*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 單個 金屬 微滴大冷速 原位 快速 分析 測定 過冷 方法 | ||
1.一種單個金屬微滴大冷速原位快速熱分析測定過冷度的方法,其特征在于具有以下的測試過程和步驟:
a.在光學顯微鏡下將所需的單個金屬凝固微滴挑選出來,并放置于快速熱分析設備傳感器的加熱區域內;
b.借助光學顯微鏡將測試微滴定位,確保微滴的位置控制精確,使之位于傳感器加熱區域的中心位置上方,并確定單個微滴的尺寸;
c.采用快速熱分析設備實時測量上述單個金屬微滴的加熱及冷卻曲線,在1×103~1×104K/s中任一點的加熱冷卻速率下測量多次循環的熱分析曲線;
d.分析所得的加熱及冷卻曲線,獲得不同加熱及冷卻速率下單個金屬微滴的熔化及凝固溫度,即可直接獲得單個金屬微滴的實時凝固過冷度。
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