[發明專利]距離測量方法、距離測量裝置、非接觸IC介質以及距離測量系統

無效

• 申請號: 200810185969.5
• 申請日: 2008-12-18
• 公開（公告）號: CN101464517A
• 公開（公告）日: 2009-06-24
• 發明（設計）人: 河合武宏
• 申請（專利權）人: 歐姆龍株式會社
• 主分類號: G01S13/74
• 分類號: G01S13/74;G01S13/38
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 孫志湧;穆德駿

1.一種測量從讀取器單元到非接觸IC介質之間的距離的方法，所述方法包括：

以第一頻率將查詢信號從所述讀取器單元發射到所述非接觸IC介質；

使所述非接觸IC介質執行調制，以通過利用第二頻率對所述第一頻率進行調制而獲取調制頻率，并使所述非接觸IC介質以所述調制頻率對響應信號進行響應；

使所述讀取器單元接收所述響應信號，以獲取多個頻率分量；

計算所獲取的多個頻率分量中的至少兩個頻率分量的信號之間的相位差；以及

通過利用所述相位差來計算所述距離。

2.如權利要求1所述的方法，其中將相移鍵控用于所述調制。

3.如權利要求1所述的方法，其中將頻移鍵控用于所述調制。

4.如權利要求1所述的方法，其中

所述調制是數字調制，并且

所述多個頻率分量是在所述數字調制中產生的高頻分量。

5.如權利要求1所述的方法，其中

將所述響應信號分離成上邊帶和下邊帶，以獲取所述多個頻率分量。

6.一種用于測量從讀取器單元到非接觸IC介質之間的距離的裝置，所述裝置包括：

通信單元，其以第一頻率將查詢信號從所述讀取器單元發射到所述非接觸IC介質，并且從所述非接觸IC介質接收響應信號；

頻率分量獲取單元，其從所述響應信號獲取多個頻率分量；以及

距離測量單元，其計算所獲取的多個頻率分量中的至少兩個頻率分量的信號之間的相位差，并通過利用所述相位差來測量所述距離。

7.一種非接觸IC介質，包括：

通信單元，其以第一頻率從讀取器單元接收查詢信號，并對于到所述讀取器單元的響應信號進行響應；以及

調制單元，其執行調制，用以通過利用第二頻率對所述第一頻率進行調制而獲取調制頻率，

其中，所述通信單元以所述調制頻率響應于所述響應信號。

8.一種距離測量系統，包括：

非接觸IC介質；以及

距離測量裝置，用于測量從讀取器單元到非接觸IC介質之間的距離，所述裝置包括：

第一通信單元，其以第一頻率將查詢信號從所述讀取器單元發射到所述非接觸IC介質，并且從所述非接觸IC介質接收響應信號；

頻率分量獲取單元，其從所述響應信號獲取多個頻率分量；以及，

距離測量單元，其計算所獲取的多個頻率分量中的至少兩個頻率分量的信號之間的相位差，并通過利用所述相位差測量所述距離，其中，

所述非接觸IC介質包括：第二通信單元，所述第二通信單元以所述第一頻率從所述讀取器單元接收所述查詢信號，并對于到所述讀取器單元的所述響應信號進行響應；以及調制單元，所述調制單元執行調制，用以通過利用第二頻率對所述第一頻率進行調制而獲取調制頻率，以及，

所述第二通信單元以所述調制頻率響應于所述響應信號。