[發明專利]距離測量方法、距離測量裝置、非接觸IC介質以及距離測量系統

無效

• 申請號: 200810185969.5
• 申請日: 2008-12-18
• 公開（公告）號: CN101464517A
• 公開（公告）日: 2009-06-24
• 發明（設計）人: 河合武宏
• 申請（專利權）人: 歐姆龍株式會社
• 主分類號: G01S13/74
• 分類號: G01S13/74;G01S13/38
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 孫志湧;穆德駿

技術領域

本發明涉及距離測量方法、距離測量裝置、非接觸IC介質和距離測量系統，其測量諸如從讀取器單元到非接觸IC介質的距離。

背景技術

已有使用多個頻率來測量到非接觸IC介質距離的距離測量裝置(參照國際公開WO?2006/095463)。距離測量裝置控制RFID標簽(非接觸IC介質)以將R/W請求信號發射兩次，所述R/W請求信號是用以請求發射標簽響應信號。此時，頻率控制器控制PLL部分用以通過相互不同的轉移頻率來發射各個R/W請求信號。相位信息獲取部分分別檢測通過相互不同的轉移頻率來發射的標簽響應信號的相位的波動，并基于相位中的波動量來計算讀取器/寫入器和RFID標簽之間的距離。所以，可以準確地計算出讀取器/寫入器和RFID標簽之間的距離。

但是，不能認為非接觸IC介質總會停留在固定的位置。并且，存在這樣的情況，即需要獲取到移動中的非接觸IC介質的距離。在此情況中，因為上述的距離測量裝置在不同的定時上執行不同頻率的發射和接收，所以在接收定時上會產生偏差。因此，當非接觸IC介質以較高速度被移動時，很難準確地計算出距離。

發明內容

因此，本發明的目的是提供距離測量方法、距離測量裝置、非接觸IC介質和距離測量系統，即使在非接觸IC介質處于移動中時，其也能執行高準確性的距離測量。

為了實現這個目的，根據本發明，提供了一種測量從讀取器單元到非接觸IC介質之間距離的方法，該方法包括：以第一頻率從讀取器單元將查詢信號發射給非接觸IC介質；使非接觸IC介質執行調制，以通過使用第二頻率對第一頻率進行調制而獲取調制頻率，并使非接觸IC介質以調制頻率響應于響應信號；使讀取器單元接收響應信號，以獲取多個頻率分量；計算所獲取的多個頻率分量中的至少兩個的信號之間的相位差；以及通過使用相位差來測量距離。

可以將相移鍵控用于調制。

可以將頻移鍵控用于調制。

調制可以是數字調制，并且多個頻率分量可以是在數字調制中產生的高頻分量。

為了獲取多個頻率分量，可以將響應信號分離成上邊帶和下邊帶。

根據本發明，還提供了一種裝置，其可操作來測量從讀取器單元到非接觸IC介質的距離，該裝置包括：通信單元，其以第一頻率將查詢信號從讀取器單元發射到非接觸IC介質，并從非接觸IC介質接收響應信號；頻率分量獲取單元，其從響應信號中獲取多個頻率分量；以及距離測量單元，其計算所獲取的多個頻率分量中的至少兩個的信號之間的相位差，并通過使用相位差測量距離。

根據本發明，還提供了非接觸IC介質，其包括：通信單元，其以第一頻率從讀取器單元接收查詢信號，并對讀取器單元就響應信號進行響應；以及調制單元，其執行調制，以通過使用第二頻率對第一頻率進行調制來獲取調制頻率，其中通信單元以調制頻率響應于響應信號。

根據本發明，還提供了距離測量系統，其包括：非接觸IC介質；以及距離測量裝置，其可操作來測量從讀取器單元到非接觸IC介質的距離，該裝置包括：第一通信單元，其以第一頻率將查詢信號從讀取器單元發射到非接觸IC介質，并從非接觸IC介質接收響應信號；頻率分量獲取單元，其從響應信號中獲取多個頻率分量；以及距離測量單元，其計算所獲取的多個頻率分量中的至少兩個的信號之間的相位差，并通過使用相位差來測量距離，其中非接觸IC介質包括：第二通信單元，其以第一頻率從讀取器單元接收查詢信號，并對讀取器單元就響應信號進行響應；以及

調制單元，其通過使用第二頻率來對第一頻率進行調制而獲取調制頻率，并且第二通信單元以調制頻率響應于響應信號。

可以將查詢信號制成一種信號，因為該信號讀取器單元使非接觸IC介質進行響應，而且例如，可以將該查詢信號制成包括用來發送ID的命令的信號。

可以將響應信號制成一種信號，因為該信號非接觸IC介質響應于讀取器單元，以及例如，可以將該響應信號制成包括用于發送ID的信號。

上邊帶可以表示為USB(上邊帶)，而下邊帶可以表示為LSB(下邊帶)。

頻率分量獲取單元可以是用于獲取，例如，被分離為USB分量和LSB分量的頻率分量的單元，并且可以將其構成為用于獲取按每個分量分離的頻率的單元。

距離測量單元可以由通過每個分量頻率來測量距離的單元所組成，也可以由使用數學表達式進行適當計算的單元所組成。

可以將距離測量裝置制作在可以與非接觸IC介質通信的讀取器單元中。

附圖說明