[發(fā)明專利]基片支承裝置及包含該基片支承裝置的濺射設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810174132.0 | 申請日: | 2008-11-07 |
| 公開(公告)號: | CN101440475A | 公開(公告)日: | 2009-05-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 伊藤薰;松井博世 | 申請(專利權(quán))人: | 小島壓力加工工業(yè)株式會社 |
| 主分類號: | C23C14/50 | 分類號: | C23C14/50;C23C14/34;C23C14/54 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所 | 代理人: | 蘇 娟 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 支承 裝置 包含 濺射 設(shè)備 | ||
本申請基于2007年11月19日提交的日本專利申請 No.2007-299268,該申請的內(nèi)容通過引用結(jié)合入本文。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種基片支承裝置及濺射設(shè)備。更具體來說,本發(fā) 明涉及一種基片支承裝置以及一種包含設(shè)置在真空室中的這種基片 支承裝置的濺射設(shè)備,所述基片支承裝置以這種方式支承基片,使 得所述基片在真空室內(nèi)與濺射靶相對,以便通過濺射在所述基片上 形成涂膜。
背景技術(shù)
通常所知的裝飾品都具有所謂金屬裝飾,該金屬裝飾在由樹脂 模制件或類似物構(gòu)成的基片表面上(設(shè)計表面)提供看上去像金屬 的表面。作為真的金屬品的替代物,這些裝飾品被廣泛用作例如各 種產(chǎn)品和物件(諸如汽車內(nèi)飾件、家具、建材、家用電器和移動電 子設(shè)備)的蒙皮材料、部件等等。
通常所知的濺射(濺射方法)是一種在生產(chǎn)這些裝飾品時采用 的用于在基片表面上提供金屬裝飾的方法。眾所周知,濺射方法的 執(zhí)行過程如下。在濺射設(shè)備的真空室內(nèi),將基片設(shè)置成與由薄膜沉 積材料制成的濺射靶相對,并且它們之間隔開預(yù)定距離。在此條件 下,諸如惰性氣體離子的高能粒子撞擊濺射靶,以使濺射粒子(例 如靶材的組成原子和離子)從濺射靶中飛出(發(fā)射)。然后,所述 濺射粒子附著并沉積到基片表面上以形成涂膜,該涂膜由與組成濺 射靶的材料相同的材料制成的金屬膜構(gòu)成。與使用金屬涂層、金屬 電鍍或類似的其它裝飾方法相比,根據(jù)濺射方法形成在基片上的涂 膜具有非常小的厚度和足夠強(qiáng)的附著性。相應(yīng)地,所述濺射方法能 夠提供具有高品質(zhì)和高耐用性的裝飾品。
上述濺射方法通常使用一種濺射設(shè)備,在該濺射設(shè)備中,用于 以可拆卸和在位置上固定的方式支承所述基片的支承裝置布置在真 空室內(nèi)。所述基片由布置在所述真空室內(nèi)的支承裝置支承,使得所 述基片與濺射靶相對,彼此間隔預(yù)定距離,然后執(zhí)行濺射。
在通過上述的傳統(tǒng)支承裝置支承基片的條件下,當(dāng)通過濺射在 所述基片上制作裝飾時,濺射粒子從所述濺射靶噴射出并沿所述基 片和濺射靶的相對方向或沿著與該相對方向?qū)墙徊娴姆较蛐羞M(jìn), 無論濺射粒子的行進(jìn)方向如何,其都能足量到達(dá)與濺射靶相對的基 片表面并穩(wěn)定地附著和沉積到基片表面上。因此,在與濺射靶相對 的基片表面上形成均勻并足夠厚的涂膜。
然而,在上述的傳統(tǒng)方法中,濺射粒子不能附著到和所述與濺 射靶相對的基片表面相反的基片表面上。因此,不可能一次在基片 的兩個表面(與濺射靶相對的表面和另一個表面)上同時形成涂膜。
此外,沿與濺射靶和基片的相對方向?qū)墙徊娴姆较蛐羞M(jìn)的濺 射粒子中,只有一小部分粒子附著并沉積到位于與基片的同濺射靶 相對的表面相鄰的側(cè)表面上,特別是其中與基片的同濺射靶相對的 表面垂直的側(cè)表面上。因此,很難充分保證在所述側(cè)表面上形成的 涂膜的厚度。
并且,到那些側(cè)表面的濺射粒子的入射角非常小。因此,由于 所謂的自陰影效應(yīng),濺射粒子不是以層的形式沉積而是以柱狀形式 沉積。相應(yīng)地,會發(fā)生諸如涂膜的厚度不均勻或涂膜對基片的附著 性減小等缺陷。而且,如果在涂膜和基片之間沒有形成底涂層,當(dāng) 在涂膜的與基片一側(cè)相對的側(cè)上形成頂涂層時,該頂涂層中包含的 成分(例如一種有機(jī)溶劑,如稀釋劑)通過在涂膜的較薄部分中產(chǎn) 生的小孔或類似物與基片接觸。從而可能會造成可能使基片腐蝕等 質(zhì)量惡化的風(fēng)險。
例如,在JP-A-05-320893和JP-A-05-51740中提出一種技術(shù),在 該技術(shù)中,基片被布置在真空室內(nèi)并可繞軸轉(zhuǎn)動地被支承,隨著繞 軸的轉(zhuǎn)動,除了與濺射耙材相對的基片表面之外的一部分基片被設(shè) 置成與濺射靶成角度相對或與濺射靶平行?!芭c濺射靶成角度相對 或與濺射靶平行”這一表述意指基片的預(yù)定的表面被設(shè)置成相對于 濺射靶發(fā)射濺射粒子的表面形成0度到小于90度的角度的狀態(tài)。該 表述在下文中以相同含義使用。然而,在上述的技術(shù)中,與濺射靶 成角度相對或與濺射靶平行的基片表面被限定為特定的表面。因此, 該技術(shù)并不允許所有的基片表面被設(shè)置成與濺射靶成角度相對或與 濺射靶平行。相應(yīng)地,肯定不能解決上述所有問題。
發(fā)明內(nèi)容
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C23C 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C14-00 通過覆層形成材料的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進(jìn)行鍍覆
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C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
C23C14-06 .以鍍層材料為特征的
C23C14-22 .以鍍覆工藝為特征的
C23C14-58 .后處理





