[發明專利]用于確定基片表面質量的方法和用于加工基片的相關機器

有效

• 申請號: 200810149279.4
• 申請日: 2008-09-19
• 公開（公告）號: CN101393141A
• 公開（公告）日: 2009-03-25
• 發明（設計）人: C·托馬;J·埃羅恩索
• 申請（專利權）人: 鮑勃斯脫股份有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;B31B1/74
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司
• 代理人: 朱立鳴

技術領域

本發明涉及一種用于確定基片的表面質量的方法。該基片從初始狀態轉變到已加工狀態。本發明還涉及一種用于加工初始基片并獲得已加工基片的基片加工機。該基片加工機是包裝生產線的一部分。

背景技術

在包裝行業，生產線輸送由開始處引入的初始基片產生的已加工產品?；梢允窃蓟?。通常，原始的初始基片會經受加工過程，例如在印刷過程中印刷，或進行壓花、折縫和/或切割操作，從而在基片展開放平時獲得對應于包裝的坯料或箱子。

經受加工過程的呈卷盤形式的初始基片可能已經預先經受了一種或多種在先處理，然后例如呈新卷盤的形式被重新處理。在這種情況下，對于后面的加工過程需要插入操作。

加工機包括一個或多個部件。這些部件中的每個部件能夠在已加工基片的表面上引起各種缺陷，從而導致所生產包裝的質量問題。

當包裝制造商希望能夠確保批量生產的產品不會被缺陷損害時，檢查印刷質量被證明是必要的操作。根據各種合格標準來評估這些缺陷，但是主要根據必須包裝的產品所選定的質量等級標準來選擇包裝。

在加工之后并在切割之前或之后檢查基片，仔細觀察坯料或箱子的已加工基片，目前仍然用肉眼來進行。操作者尋找所有類型的缺陷，例如那些與印刷相關的缺陷，并因此調整加工機的設定，從而較佳地盡可能快地避免或限制這些缺陷。

越來越多地在生產線上自動實施這種檢查。在坯料或箱子堆疊在接納工位之前，相對于被認為沒有缺陷的樣品，將不符合印刷和/或切割和/或折縫和/或壓花質量的最低要求的坯料或箱子排出。用于自動檢測缺陷的裝置位于最終加工部件之后，并且在排出工位之前和在切割工位之前。

在稱為卷盤到卷盤應用的情況下，也就是說，加工基片從初始基片卷盤到另一加工基片卷盤，相對于被認為沒有缺陷的樣品將不符合印刷和/或折縫和/或壓花質量的最低要求的已加工基片識別出來，并可將其挑選出來。

存在多種用于觀察和/或檢查這些缺陷的裝置。它們通常使用攝像機或任何其它設備來收集由已印刷基片反射的光。

例如，歐洲專利第0,554,811號描述了一種用于在呈卷材或片材的形式移動通過印刷機的基片上檢測印刷錯誤和因此的缺陷的裝置。該裝置包括第一照相機和電子計算器，該第一照相機用于以第一分辨率記錄基片上印刷樣品區域的圖像，而該電子計算器用于對圖像進行數字化處理然后將其與預先記錄的參考圖像作比較。用于以低于第一分辨率的第二分辨率記錄總體印刷的第二照相機聯接至第一照相機。從第二照相機獲得的比較結果用在反饋回路中以檢查第一照相機的操作。

然而，這種裝置不能識別所有類型的缺陷。實際上，一些缺陷在基片通過接連的印刷單元時會由于印刷接連的顏色而被逐漸掩蓋。結果，在已印刷基片的表面上就無法識別這些缺陷。已印刷的基片將會被分類成對于形成包裝是合格的，但是實際上快速的肉眼檢查就能檢測到瑕疵。

美國專利第5,395,027號披露了一種用于監測移動通過印刷機的連續基片的裝置，該基片具體來說是紙基片。借助這種裝置，可以確定基片是否在正確的張力下正確地移動且沒有破損或裂縫。當基片通過印刷機時，基片中的這些缺陷會對印刷機及其附件造成損傷。這種裝置觸發警告信號，并且用來控制用于限制該損傷的器械。該器械從印刷機上去除所有或部分的有缺陷基片。

然而，這種裝置只能防止由于缺陷基片引起印刷過程中基片阻塞而對印刷機造成的損傷。該裝置并未設計成檢查印刷過程結束時基片的狀態和質量。這種裝置的使用僅可通過限制印刷機停機數量來防止效率降低。這種裝置的使用對于已印刷基片的最終質量沒有影響。

發明內容

本發明要解決的一個主要問題包括提供一種用于確定經受加工過程的基片的表面質量的方法。第二個問題是通過系統地檢測基片的缺陷來進一步提高經過加工過程之后基片的質量。第三個問題是提供一種多步驟的方法，在該方法中，當基片從初始狀態轉變到已加工狀態時，基片經受質量控制檢查。第四個問題是根據使用者需要來增加幾個檢查缺陷的步驟，以提供優質的已加工基片。第五個問題是實施一種確定基片的質量同時避免現有技術的問題的方法。還有另一個問題是提供一種允許處理與檢測到的缺陷相關的信息的加工機。

本發明因此涉及一種用于確定在加工過程中從初始狀態轉變到已加工狀態的基片的表面質量的方法，該方法包括以下步驟：

-獲取與在所述初始基片上檢測到的表面缺陷相關的第一信息，

-獲取與在所述已加工基片上檢測到的表面缺陷相關的第二信息，

-處理第一信息和第二信息，以及