[發明專利]電光學裝置、其檢查方法以及電子設備

有效

• 申請號: 200810099417.2
• 申請日: 2005-05-19
• 公開（公告）號: CN101271670A
• 公開（公告）日: 2008-09-24
• 發明（設計）人: 今村陽一
• 申請（專利權）人: 精工愛普生株式會社
• 主分類號: G09G3/32
• 分類號: G09G3/32;G09G3/00;H05B33/08;H05B37/03
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司
• 代理人: 李香蘭

本申請是申請日為2005年5月19日、申請號為200510072749.8、發明名稱為“電光學裝置、其檢查方法以及電子設備”的分案申請。

技術領域

本發明涉及檢查利用了從電作用變換為光學作用的元件或者從光學作用變換為電作用的元件(以下總稱為“電光學元件”)的電光學裝置的技術。

背景技術

利用了液晶和有機發光二極管元件(以下稱為“OLED(有機發光二極管)元件”)等的電光學元件的電光學裝置廣泛普及。例如，由薄膜晶體管等的開關元件控制電光學元件的動作的多個單位電路(像素電路)以平面狀配置的有源矩陣型的電光學裝置以前就被提出。在這種電光學裝置中，各單位電路的特性(例如開關元件的電特性)的誤差特別成問題。為了解決此問題，例如在專利文獻1中，記載了和單位電路分別形成與在各單位電路中所包含的開關元件具有同樣構成的開關元件，通過檢查其電特性檢查各單位電路的特性的技術。

但是，在作為電光學元件利用了液晶的電光學裝置中，由于液晶本身的特性對于全部的單位電路是大致相同的，所以只要檢查各單位電路之中開關元件的特性，就能夠對于全部的單位電路判斷特性差異的有無。但是，在電光學元件是對每個單位電路分別形成的電光學裝置中，不只是開關元件的特性，電光學元件的特性也有存在差異的可能性，所以只檢查開關元件特性的優良，作為單位電路全體的檢查來說是不充分的。例如，由噴墨法和真空蒸鍍法這樣的方法形成作為電光學元件的OLED元件的情況下，各單位電路中OLED元件的特性雖然產生不少的差異，但根據專利文獻1中記載的技術不能檢查到各單位電路的OLED元件的特性。還有，這樣的問題不只是存在于從電作用變換為光學作用(例如亮度)的OLED元件等的電光學元件中，在利用為了從光學作用變換為電作用的電光學元件(例如，輸出和受光量相對應的電信號的光電檢測元件)的電光學裝置中也產生同樣的問題。

專利文獻1：特開平11-167123號公報(段0019以及圖1)

發明內容

本發明是鑒于這樣的情況進行的發明，目的在于對排列了包括電光學元件和控制它的控制電路的多個單位電路的電光學裝置有效地進行檢查。

為了解決上述的問題，本發明包括：分別具有電光學元件和控制該電光學元件的控制電路的多個單位電路、輸入為了驅動所述電光學元件的檢查信號的檢查端子、能獲取在所述多個單位電路之中作為檢查對象被選擇的檢查單位電路的電光學元件和所述檢查端子之間設置的、使所述檢查單位電路的電光學元件和所述檢查端子電絕緣的第1狀態以及使所述檢查單位電路的所述電光學元件和所述檢查端子電導通的第2狀態的檢查信號提供元件。

根據此構成，因為從檢查端子輸入的檢查信號經由作為第2狀態的檢查信號提供元件被提供給檢查單位電路的電光學元件，所以能只獨立檢查單位電路之中電光學元件的特性。還有，本發明中所謂電光學元件是包括從電作用變換為光學作用的元件以及從光學作用變換為電作用的元件兩方面的概念。關于前者的電光學元件是例如根據提供的電信號，光學特性(例如亮度和透過率)產生變化的元件。這種電光學元件的典型例子有利用了發光聚合物和發光低分子材料的有機EL(電致發光)元件，但本發明適用的范圍不限定于此。另一方面，關于后者的電光學元件是例如根據對該電光學元件的入射光的特性(例如入射光量)，輸出電信號的元件。這種電光學元件的典型例子有根據入射光的光量輸出電信號的CCD(電荷耦合器件)元件等的光電檢測元件。

在本發明的具體形式中，配置了輸入檢查指示信號的檢查輸入端子，該檢查指示信號指示電光學元件的檢查的執行，檢查信號提供元件是根據從檢查輸入端子輸入的檢查指示信號，將第1狀態以及第2狀態的一種狀態切換為另一種狀態的開關元件。根據此形式，第1狀態和第2狀態由檢查指示端子被適當地切換，開關元件作為第2狀態進行檢查的另一方面，在通常的使用狀態下，通過將開關元件作為第1狀態，抑制檢查端子對檢查單位電路的影響(例如檢查端子附帶的寄生電容的影響和在檢查端子產生的噪聲的影響)。