[發(fā)明專利]電光學(xué)裝置、其檢查方法以及電子設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810099417.2 | 申請日： | 2005-05-19 |
| 公開（公告）號： | CN101271670A | 公開（公告）日： | 2008-09-24 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 今村陽一 | 申請（專利權(quán)）人： | 精工愛普生株式會社 |
| 主分類號： | G09G3/32 | 分類號： | G09G3/32;G09G3/00;H05B33/08;H05B37/03 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 | 代理人： | 李香蘭 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 光學(xué) 裝置 檢查 方法 以及 電子設(shè)備 | ||
1.一種電光學(xué)裝置，其特征在于，具備：
分別具有能夠發(fā)光或者受光的電光學(xué)元件和控制該電光學(xué)元件的控制電路的多個單位電路；
被輸入用于驅(qū)動所述電光學(xué)元件的檢查信號的檢查端子；和
檢查信號提供元件，其被設(shè)置在所述多個單位電路之中作為檢查對象被選擇的檢查單位電路的電光學(xué)元件與所述檢查端子之間，取得第1狀態(tài)和第2狀態(tài)，其中第1狀態(tài)是使所述檢查單位電路的電光學(xué)元件與所述檢查端子電絕緣的狀態(tài)，第2狀態(tài)是使所述檢查單位電路的所述電光學(xué)元件與所述檢查端子電導(dǎo)通的狀態(tài)，
所述檢查信號提供元件，在顯示模式采用所述第1狀態(tài)，在檢查模式采用所述第2狀態(tài)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電光學(xué)裝置，其特征在于，
所述檢查單位電路是排列在有效區(qū)域的所述多個單位電路之中位于所述有效區(qū)域的邊緣的單位電路。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或者2所述的電光學(xué)裝置，其特征在于，
在所述檢查模式，將所述檢查單位電路的電光學(xué)元件與所述控制電路電分離。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電光學(xué)裝置，其特征在于，
具備被輸入指示所述電光學(xué)元件的檢查執(zhí)行的檢查指示信號的檢查指示端子，
所述檢查信號提供元件是根據(jù)從所述檢查指示端子輸入的檢查指示信號、從所述第1狀態(tài)以及所述第2狀態(tài)中的一方切換為另一方的開關(guān)元件。
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