[發(fā)明專利]光盤、記錄裝置、讀取裝置、記錄方法及讀取方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810099110.2
• 申請日: 2006-01-13
• 公開（公告）號: CN101266825A
• 公開（公告）日: 2008-09-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 甲斐田優(yōu);伊藤基志
• 申請（專利權(quán)）人: 松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社
• 主分類號: G11B20/18
• 分類號: G11B20/18
• 代理公司: 永新專利商標(biāo)代理有限公司
• 代理人: 王英

1.一種用于將表明一次寫入式光盤缺陷區(qū)的缺陷區(qū)列表寫入以簇為單 位將數(shù)據(jù)記錄在上面的所述一次寫入式光盤的記錄裝置，所述記錄裝置包 括：

生成單元，用于生成結(jié)構(gòu)信息，所述結(jié)構(gòu)信息包括多條位置信息，所 述多條位置信息表明每個都包括所述缺陷區(qū)列表一部分的多個簇的簇位 置；以及

寫入單元，用于將生成的所述結(jié)構(gòu)信息與所述缺陷區(qū)列表一起寫入所 述一次寫入式光盤的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中，其中

所述臨時(shí)缺陷管理區(qū)有一個部分，在其中按照以下順序排列所述缺陷 區(qū)列表的多個部分：

(1)缺陷區(qū)列表里在初始寫入中成功寫入的一部分；

(2)缺陷區(qū)列表里在重試寫入中成功寫入的一部分；以及

(3)缺陷區(qū)列表里最后一簇包括所述結(jié)構(gòu)信息的一部分。

2.如權(quán)利要求1所述的記錄裝置，還包括

驗(yàn)證單元，用于在已經(jīng)寫入缺陷區(qū)列表的每一部分時(shí)，驗(yàn)證缺陷區(qū)列 表的每一部分，其中

如果寫入有缺陷區(qū)列表一部分的簇A被驗(yàn)證為缺陷簇，則該寫入單元 進(jìn)行重試，以將簇A中的缺陷區(qū)列表的所述部分寫入簇B中，并且

所述臨時(shí)缺陷管理區(qū)具有缺陷區(qū)列表的第(2)部分。

3.如權(quán)利要求1所述的記錄裝置，還包括

驗(yàn)證單元，用于在已經(jīng)寫入除了最后一個缺陷區(qū)列表以外的缺陷區(qū)列 表中每一部分時(shí)，驗(yàn)證缺陷區(qū)列表的每一部分，其中

如果寫入有缺陷區(qū)列表一部分的簇A被驗(yàn)證為缺陷簇，則該寫入單元 進(jìn)行重試，以將簇A中的缺陷區(qū)列表的所述部分寫入簇B中，并且

所述臨時(shí)缺陷管理區(qū)具有缺陷區(qū)列表的第(2)部分。

4.一種讀取裝置，用于從以簇為單位將數(shù)據(jù)記錄在上面的一次寫入式 光盤上記錄的臨時(shí)缺陷管理區(qū)讀取缺陷區(qū)列表以及結(jié)構(gòu)信息，其中

所述臨時(shí)缺陷管理區(qū)有一個部分，在其中按照以下順序排列所述缺陷 區(qū)列表的多個部分：

(1)缺陷區(qū)列表里在初始寫入中成功寫入的一部分；

(2)缺陷區(qū)列表里在重試寫入中成功寫入的一部分；以及

(3)缺陷區(qū)列表里最后一簇包括結(jié)構(gòu)信息的一部分，

缺陷區(qū)列表的每一部分都表明所述光盤中的至少一個缺陷區(qū)，

所述結(jié)構(gòu)信息包括多條位置信息，所述多條位置信息表明每個都包括 所述缺陷區(qū)列表一部分的多個簇的簇位置，

所述讀取裝置包括：

讀取單元，用于按照該結(jié)構(gòu)信息中排列與所述缺陷區(qū)列表對應(yīng)的所述 多條位置信息的順序，從所述光盤將所述缺陷區(qū)列表讀出到存儲器；

保存單元，用于保存讀出到所述存儲器的所述缺陷區(qū)列表；以及

訪問單元，用于在高級裝置指示訪問由所述缺陷區(qū)列表表明的缺陷區(qū) 時(shí)，訪問對應(yīng)于該缺陷區(qū)的備用區(qū)，而不是該缺陷區(qū)。

5.一種記錄方法，用于將表明一次寫入式光盤上缺陷區(qū)的缺陷區(qū)列表 寫入以簇為單位將數(shù)據(jù)記錄在上面的所述光盤上，該記錄方法包括以下步 驟：

生成結(jié)構(gòu)信息，所述結(jié)構(gòu)信息包括多條位置信息，所述多條位置信息 表明每個都包括所述缺陷區(qū)列表一部分的多個簇的簇位置；以及

將生成的所述結(jié)構(gòu)信息與所述缺陷區(qū)列表一起寫入所述一次寫入式光 盤的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中，其中

所述臨時(shí)缺陷管理區(qū)有一個部分，在其中按照以下順序排列所述缺陷 區(qū)列表的多個部分：

(1)缺陷區(qū)列表里在初始寫入中成功寫入的一部分；

(2)缺陷區(qū)列表里在重試寫入中成功寫入的一部分；以及

(3)缺陷區(qū)列表里最后一簇包括所述結(jié)構(gòu)信息的一部分。

6.如權(quán)利要求5所述的記錄方法，還包括以下步驟：

在已經(jīng)寫入缺陷區(qū)列表的每一部分時(shí)，驗(yàn)證缺陷區(qū)列表的每一部分， 其中

如果寫入有缺陷區(qū)列表一部分的簇A被驗(yàn)證為缺陷簇，則該寫入步驟 進(jìn)行重試，以將簇A中的缺陷區(qū)列表的所述部分寫入簇B中，并且

所述臨時(shí)缺陷管理區(qū)具有缺陷區(qū)列表的第(2)部分。