[發(fā)明專利]測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810096921.7
• 申請日: 2008-05-07
• 公開（公告）號: CN101576603A
• 公開（公告）日: 2009-11-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蔡竹青;許家榮
• 申請（專利權(quán)）人: 環(huán)隆電氣股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京中原華和知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司
• 代理人: 壽 寧;張華輝

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種測試裝置，特別是涉及一種能測試多種待測板(UnitUnder?Test，UUT)，可以降低測試成本及測試時間的測試裝置。?

背景技術(shù)

請參閱圖1所示，是現(xiàn)有習(xí)知的一種測試裝置的方塊圖。現(xiàn)有習(xí)知的測試裝置100，包括一主機(jī)電腦(Host?PC)110、一測試板120以及一現(xiàn)場即時資訊系統(tǒng)(Shop?Floor?Information?System，SFIS)130。主機(jī)電腦110是電性連接至測試板120與現(xiàn)場即時資訊系統(tǒng)130，而測試板120用以電性連接至一待測板50。?

現(xiàn)有習(xí)知的測試裝置100的測試與更新的主控權(quán)在于主機(jī)電腦110，測試板120無法獨(dú)立對待測板50進(jìn)行測試。所以，現(xiàn)有習(xí)知技術(shù)的測試步驟是通過主機(jī)電腦110啟動測試流程，并藉由測試板120對待測板50進(jìn)行測試。測試完成之后，主機(jī)電腦110會將測試結(jié)果傳送至現(xiàn)場即時資訊系統(tǒng)130，而現(xiàn)場即時資訊系統(tǒng)130會儲存測試結(jié)果。?

在現(xiàn)有習(xí)知技術(shù)中，每一測試板120是用以測試特定的待測板50，所以在測試不同待測板50時需要更換測試板120。此外，由于每一待測板50包括多個待測部分，所以若待測板50有升級時，通常需研發(fā)新的延伸卡、在測試板120上新增元件或是重新設(shè)計(jì)測試板120，以完整測試待測板50的每一待測部分。特別是，若待測板50具有主動元件(如區(qū)域網(wǎng)路(Local?AreaNetwork，LAN)芯片)時，往往需要更換另一測試板或是新增元件。?

由于現(xiàn)有習(xí)知技術(shù)需要研發(fā)許多測試板120，所以較耗費(fèi)成本。此外在測試不同的待測板50時，需要更換測試板120，所以較為費(fèi)時。另外，架設(shè)主機(jī)電腦110時，需要安裝作業(yè)系統(tǒng)(Operating?System，OS)、驅(qū)動程式以及相關(guān)軟體，并且還要設(shè)定網(wǎng)路，所以會花費(fèi)許多時間。?

基于上述，現(xiàn)有習(xí)知技術(shù)存在有測試成本高，且測試時間長的缺點(diǎn)。?

由此可見，上述現(xiàn)有的測試裝置在結(jié)構(gòu)與使用上，顯然仍存在有不便與缺陷，而亟待加以進(jìn)一步改進(jìn)。為解決上述存在的問題，相關(guān)廠商莫不費(fèi)盡心思來謀求解決之道，但長久以來一直未見適用的設(shè)計(jì)被發(fā)展完成，而一般產(chǎn)品又沒有適切結(jié)構(gòu)能夠解決上述問題，此顯然是相關(guān)業(yè)者急欲解決的問題。因此如何能創(chuàng)設(shè)一種新型結(jié)構(gòu)的測試裝置，實(shí)屬當(dāng)前重要研發(fā)課題之一，亦成為當(dāng)前業(yè)界極需改進(jìn)的目標(biāo)。?

有鑒于上述現(xiàn)有的測試裝置存在的缺陷，本發(fā)明人基于從事此類產(chǎn)品設(shè)計(jì)制造多年豐富的實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)及專業(yè)知識，并配合學(xué)理的運(yùn)用，積極加以研究創(chuàng)新，以期創(chuàng)設(shè)一種新型結(jié)構(gòu)的測試裝置，能夠改進(jìn)一般現(xiàn)有的測試裝置，使其更具有實(shí)用性。經(jīng)過不斷的研究、設(shè)計(jì)，并經(jīng)過反復(fù)試作樣品及改進(jìn)后，終于創(chuàng)設(shè)出確具實(shí)用價值的本發(fā)明。?

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于，克服現(xiàn)有的測試裝置存在的缺陷，而提供一種新型結(jié)構(gòu)的測試裝置，所要解決的技術(shù)問題是使其可以降低測試成本及測試時間，非常適于實(shí)用。?

本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題是采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的。依據(jù)本發(fā)明提出的一種測試裝置，適于測試不同種類的多個待測板，該測試裝置包括：一可編程測試平臺，包括：一可編程系統(tǒng)芯片(芯片即晶片，本文均稱為芯片)；一存儲單元(即記憶單元，以下均稱為存儲單元)，電性連接至該可編程系統(tǒng)芯片，該存儲單元內(nèi)存有一作業(yè)系統(tǒng)；一輸入/輸出單元，電性連接至該可編程系統(tǒng)芯片與該些待測板其中之一，其中該輸入/輸出單元適于根據(jù)一輸入動作產(chǎn)生一啟動信號，輸入動作是用于輸入所述待測板的種類的動作，而該可編程系統(tǒng)芯片適于根據(jù)該啟動信號來選取一預(yù)設(shè)的測試流程，并且依該預(yù)設(shè)的測試流程對電性連接至該輸入/輸出單元的該待測板進(jìn)行測試；以及一儲存單元，電性連接至該輸入/輸出單元，以儲存該可編程系統(tǒng)芯片所輸出的一測試結(jié)果。?

本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。?

前述的測試裝置，其中所述的可編程系統(tǒng)芯片為一現(xiàn)場可程式邏輯閘陣列芯片。?

前述的測試裝置，其中所述的可編程測試平臺更包括一顯示單元，電性連接至該可編程系統(tǒng)芯片，以顯示一測試資訊。?

前述的測試裝置，其中所述的可編程測試平臺為一嵌入式系統(tǒng)開發(fā)平臺。?

前述的測試裝置，其更包括一現(xiàn)場即時資訊系統(tǒng)，而該儲存單元是位于該現(xiàn)場即時資訊系統(tǒng)內(nèi)。?

前述的測試裝置，其更包括一伺服器，而該儲存單元是位于該伺服器內(nèi)。?