[發(fā)明專利]測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810096921.7
• 申請日: 2008-05-07
• 公開（公告）號: CN101576603A
• 公開（公告）日: 2009-11-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 蔡竹青;許家榮
• 申請（專利權(quán)）人: 環(huán)隆電氣股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京中原華和知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司
• 代理人: 壽 寧;張華輝

1.一種測試裝置，適于測試不同種類的多個待測板，其特征在于該測試裝置包括：

一可編程測試平臺，包括：

一可編程系統(tǒng)芯片；

一存儲單元，電性連接至該可編程系統(tǒng)芯片，該存儲單元內(nèi)存有一作業(yè)系統(tǒng)；

一輸入/輸出單元，電性連接至該可編程系統(tǒng)芯片與該些待測板其中之一，該輸入/輸出單元適于根據(jù)一輸入動作產(chǎn)生一啟動信號，而該可編程系統(tǒng)芯片適于根據(jù)該啟動信號來選取一預(yù)設(shè)的測試流程，并依該預(yù)設(shè)的測試流程對電性連接至該輸入/輸出單元的該待測板進行測試，其中該輸入動作是用于輸入所述待測板的種類的動作；以及

一儲存單元，電性連接至該輸入/輸出單元，以儲存該可編程系統(tǒng)芯片所輸出的一測試結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于其中所述的可編程系統(tǒng)芯片為一現(xiàn)場可程式邏輯閘陣列芯片。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于其中所述的可編程測試平臺更包括一顯示單元，電性連接至該可編程系統(tǒng)芯片，以顯示一測試資訊。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于其中所述的可編程測試平臺為一嵌入式系統(tǒng)開發(fā)平臺。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于其更包括一現(xiàn)場即時資訊系統(tǒng)，而該儲存單元是位于該現(xiàn)場即時資訊系統(tǒng)內(nèi)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于其更包括一伺服器，而該儲存單元是位于該伺服器內(nèi)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于其中所述的輸入/輸出單元包括一條碼掃描器，而每一待測板上設(shè)有一條碼，該條碼掃描器用以掃描電性連接至該輸入/輸出單元的該待測板上的該條碼，以產(chǎn)生該啟動信號。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于其中所述的輸入/輸出單元包括一鍵盤、一條碼掃描器、一按鈕開關(guān)或一控制元件。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于其中所述的輸入/輸出單元包括多個連接介面，以電性連接該可編程系統(tǒng)芯片、該些待測板與該儲存單元。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測試裝置，其特征在于其中該些連接介面包括通用序列匯流排、通用型輸入/輸出、聯(lián)合測試工作組埠、乙太網(wǎng)埠、無線網(wǎng)路介面、音效埠、低電壓差動信號介面、打印終端埠、序列埠、第二代個人系統(tǒng)連接埠以及視頻圖像陣列埠的至少其中之一。