[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810095152.9 | 申請(qǐng)日: | 2008-02-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101261990A | 公開(公告)日: | 2008-09-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | H·薩庫(kù)萊 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 精工電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/04 | 分類號(hào): | H01L27/04;H01L27/06 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王岳;王忠忠 |
| 地址: | 日本千葉*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 | ||
1.一種半導(dǎo)體裝置,由在芯片狀的硅襯底或晶片狀的硅襯底上所形成的多個(gè)半導(dǎo)體元件構(gòu)成,其特征在于,
在所述硅襯底的表面,構(gòu)成具有至少三個(gè)以上分別不同的面方位的半導(dǎo)體元件。
2.一種半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
形成在所述硅襯底上的NMOS晶體管的至少溝道區(qū)域應(yīng)用硅襯底的表面的第一面方位,PMOS晶體管的至少溝道區(qū)域應(yīng)用第二面方位,MOS電容部的至少柵電極正下方應(yīng)用第三面方位。
3.根據(jù)權(quán)利要求2的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
由于電子或空穴通過而起到元件的作用的硅襯底與氧化硅膜界面的至少一部分也應(yīng)用所述第三面方位。
4.根據(jù)權(quán)利要求3的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
所述電子或空穴通過的硅襯底與氧化硅膜界面的至少一部分的面方位是從<100>面朝向<010>面傾斜1~4°的面方位。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于精工電子有限公司,未經(jīng)精工電子有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200810095152.9/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





