[發(fā)明專利]能減少測試時(shí)間的并行位測試裝置和并行位測試方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810092058.8
• 申請日: 2008-01-09
• 公開（公告）號(hào): CN101256841A
• 公開（公告）日: 2008-09-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 趙聳煥;千權(quán)數(shù);張賢淳;徐升煥
• 申請（專利權(quán)）人: 三星電子株式會(huì)社
• 主分類號(hào): G11C29/14
• 分類號(hào): G11C29/14
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所
• 代理人: 邵亞麗

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種并行位測試(PBT)裝置和PBT方法，以及更特別地涉及一種能夠減少測試時(shí)間的PBT裝置和PBT方法。

背景技術(shù)

在半導(dǎo)體存儲(chǔ)芯片中，當(dāng)編碼后傳輸數(shù)據(jù)位或當(dāng)解碼后輸出數(shù)據(jù)位時(shí)，可能發(fā)生傳輸誤差。可選擇地，由于存儲(chǔ)芯片的工作故障，記錄數(shù)據(jù)可能被錯(cuò)誤讀取。存在多種用于檢測故障存儲(chǔ)芯片的測試模式。PBT裝置和/或PBT方法使用該多種測試模式中的一種。

PBT模式是一種可以用于測試半導(dǎo)體存儲(chǔ)芯片(諸如動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器(DRAM)芯片等)位線(bit?line)的測試模式。在PBT過程中，在DRAM芯片上執(zhí)行寫入操作以便在每個(gè)單元中存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。接著，通過合并加載在數(shù)據(jù)線上的數(shù)據(jù)來讀取和檢測存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。

為了檢查位線上加載的數(shù)據(jù)是否正常而測試每個(gè)單元或者每個(gè)位線是昂貴的并且耗時(shí)。因此，背景技術(shù)中的PBT裝置使用具有邏輯運(yùn)算裝置的比較器，諸如，異或門(XOR)等。使用比較器，有效執(zhí)行了數(shù)據(jù)合并方法，該方法壓縮數(shù)據(jù)線上加載的數(shù)據(jù)。如上所述，該P(yáng)BT裝置和/或PBT方法被用于合并以及并行測試輸入數(shù)據(jù)。

背景技術(shù)中的多芯片封裝(MCP)可以具有多個(gè)(如4個(gè))相同存儲(chǔ)芯片被堆疊的結(jié)構(gòu)。每個(gè)存儲(chǔ)芯片在其中包括相同的PBT裝置。當(dāng)執(zhí)行PBT時(shí)，四個(gè)存儲(chǔ)芯片按順序一個(gè)接一個(gè)地被測試。也就是說，四個(gè)存儲(chǔ)芯片通過相同的輸入線接收輸入數(shù)據(jù)信號(hào)，并且通過相同的輸出線輸出數(shù)據(jù)信號(hào)(或者表征數(shù)據(jù)信號(hào))。

由于四個(gè)存儲(chǔ)芯片不能夠同時(shí)使用相同的輸出線，因此該四個(gè)存儲(chǔ)芯片按順序一個(gè)接一個(gè)地被并行位測試。測試一個(gè)存儲(chǔ)芯片要花費(fèi)指定的時(shí)間t1。因此，當(dāng)測試具有n個(gè)存儲(chǔ)芯片的MCP堆棧時(shí)，總共需要花費(fèi)t1×n的時(shí)間。

在4芯片的例子中，當(dāng)存儲(chǔ)芯片接收32個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)DQ0至DQ31以及通過比較和判斷數(shù)據(jù)信號(hào)DQ0至DQ31是否相同，來輸出表征數(shù)據(jù)信號(hào)時(shí)，表征數(shù)據(jù)信號(hào)的輸出線為DQ4。這里，傳統(tǒng)的PBT將接收n片輸出數(shù)據(jù)并將通過合并它們來測試輸入數(shù)據(jù)。因此，輸出少于n片的輸出數(shù)據(jù)。由于總線的可訪問性，信號(hào)線能夠一次傳輸一個(gè)信號(hào)。當(dāng)?shù)谝粋€(gè)存儲(chǔ)芯片通過執(zhí)行用于指定時(shí)間t1的PBT來輸出表征數(shù)據(jù)信號(hào)DQ4并且剩余的三個(gè)存儲(chǔ)芯片重復(fù)相同的PBT時(shí)，需要花費(fèi)t1×4的時(shí)間來測試4芯片的MCP(相同地，MCP堆疊有四個(gè)存儲(chǔ)芯片)。

如上所述，測試時(shí)間隨在MCP中堆疊的存儲(chǔ)芯片的數(shù)量成比例地增加。換句話說，時(shí)間效率降低了。同時(shí)，當(dāng)測試時(shí)間增加時(shí)，測試成本也增加了。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的實(shí)施例專注于PBT裝置，包括PBT裝置或者與PBT裝置相結(jié)合的MCP裝置以及相關(guān)的PBT方法，大大克服了因背景技術(shù)中的局限和缺點(diǎn)所導(dǎo)致的一個(gè)或多個(gè)問題。

本發(fā)明實(shí)施例的一個(gè)特征是提供一種PBT裝置，其可以諸如減少測試時(shí)間裝置并因此減少測試費(fèi)用。

本發(fā)明實(shí)施例的另一個(gè)特征是提供一種包括PBT裝置或與PBT裝置相結(jié)合的MCP裝置，其需要諸如減少了的測試時(shí)間并因此減少測試費(fèi)用。

本發(fā)明實(shí)施例的再一個(gè)特征是提供一種PBT方法，該方法能夠諸如減少測試時(shí)間并因此減少測試費(fèi)用。

通過提供包括在存儲(chǔ)芯片中的PBT裝置可以實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的至少一個(gè)上述和其他特征以及優(yōu)點(diǎn)，該存儲(chǔ)芯片被堆疊在MCP中并共享一數(shù)據(jù)信號(hào)線集。該P(yáng)BT裝置可以包括：比較單元，用于輸出表征數(shù)據(jù)信號(hào)，該表征數(shù)據(jù)信號(hào)分別是在提供給指定存儲(chǔ)芯片的測試數(shù)據(jù)信號(hào)和從那里輸出的相關(guān)數(shù)據(jù)信號(hào)之間比較的表征；和編碼單元，用于使用共享數(shù)據(jù)信號(hào)線集的第一子集來輸出表征數(shù)據(jù)信號(hào)，該第一子集分別與其他存儲(chǔ)芯片相關(guān)的編碼單元所使用的其他子集不重疊，根據(jù)第一測試模式寄存器組(MRS)信號(hào)，編碼單元包含在第一子集中的共享數(shù)據(jù)信號(hào)線中選擇一個(gè)或多個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)線。

通過提供MCP，可以實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的至少一個(gè)上述和其它特征以及優(yōu)點(diǎn)，該MCP包括：存儲(chǔ)芯片，其共享多個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)線；和多個(gè)PBT裝置，該P(yáng)BT裝置至少分別地與存儲(chǔ)芯片相結(jié)合，例如，以1∶1的比率。每個(gè)PBT裝置可以包括至少以下部件：比較單元，用于分別輸出提供給被結(jié)合的一個(gè)存儲(chǔ)芯片的測試數(shù)據(jù)信號(hào)與從那里輸出的相關(guān)數(shù)據(jù)信號(hào)之間的比較的數(shù)據(jù)信號(hào)表征；以及編碼單元，用于使用共享數(shù)據(jù)線集的第一子集來輸出表征數(shù)據(jù)信號(hào)，該第一子集分別與與其他存儲(chǔ)芯片相關(guān)的編碼單元所使用的其他子集不重疊，根據(jù)第一測試模式寄存器組(MRS)信號(hào)，編碼單元包含在第一子集中的共享數(shù)據(jù)信號(hào)線中選擇一個(gè)或多個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)線。