[發明專利]能減少測試時間的并行位測試裝置和并行位測試方法

無效

• 申請號: 200810092058.8
• 申請日: 2008-01-09
• 公開（公告）號: CN101256841A
• 公開（公告）日: 2008-09-03
• 發明（設計）人: 趙聳煥;千權數;張賢淳;徐升煥
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G11C29/14
• 分類號: G11C29/14
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所
• 代理人: 邵亞麗

1、一種包含在存儲芯片中的并行位測試PBT裝置，該存儲芯片被堆疊在多芯片封裝MCP中并共享一數據信號線集，該PBT裝置包括：

比較單元，用于輸出表征數據信號，該表征數據信號是在提供給指定存儲芯片的測試數據信號和從那里分別輸出的對應數據信號之間比較的表征；和

編碼單元，用于使用共享數據信號線集的第一子集來輸出表征數據信號，該第一子集與其他存儲芯片對應的編碼單元分別使用的其他子集不重疊，根據第一測試模式寄存器組MRS信號，編碼單元在包含在第一子集中的共享數據信號線集中選擇一個或多個數據信號線。

2、如權利要求1所述的PBT裝置，其中該第一測試MRS信號，通過改變路徑控制經由第一子集輸出的表征數據信號，輸入到編碼單元的表征數據信號經過該路徑被輸出。

3、如權利要求2所述的PBT裝置，其中由用戶設置和輸入該第一測試MRS信號。

4、如權利要求1所述的PBT裝置，其中當表征執行PBT命令的第二測試MRS信號被應用到存儲芯片用于同時測試存儲芯片時，啟動每個PBT裝置，并且由用戶設置和輸入該第二測試MRS信號。

5、如權利要求3所述的PBT裝置，還包括緩沖單元，用于緩沖然后輸出從編碼單元輸出的表征數據信號。

6、如權利要求3所述的PBT裝置，其中當輸入2n輸入數據時，比較單元包括從1到n個比較器，以及基于所包括的比較器的數量確定輸出的表征數據信號的數目。

7、如權利要求6所述的PBT裝置，其中，當包括k個比較器時，比較單元輸出2n-1個表征數據信號，比較器以串聯形式連接并且在前的比較器的輸出信號為下一個比較器的輸入信號，其中k和n為整數，并且1≤k≤n。

8、如權利要求5所述的PBT裝置，還包括驅動器，用于接收從緩沖單元輸出的輸入信號，并且用于驅動和輸出所接收的信號到由第一測試MRS信號指定的數據信號線上。

9、如權利要求7所述的PBT裝置，其中每個比較器使用OR門來比較和確定所接收的數據信號是否相同，并且當2^k個數據信號被輸入到相應的比較器時，包括2^k-1個OR門。

10、如權利要求1所述的PBT裝置，還包括一個位于先于比較器的位置并且包括至少一個位線讀出放大器的輸入信號處理器，用于輸出反相信號和非反相信號，其中比較器接收從輸入信號處理器輸出的非反相信號。

11、如權利要求9所述的PBT裝置，其中

比較單元包括五個串聯的比較器；

第一比較器設置在串聯隊列中的第一個，接收32位數據信號，并且第五比較器設置在串聯隊列中的第五個，輸出1位表征數據信號，

該第一比較器包括邏輯OR運算該數據信號的16個OR門，并輸出16個信號到第二比較器的輸入端；和

該第五比較器包括對從連接到其上的第四比較器所接收的輸出信號邏輯OR運算的一個OR門，

該一個OR門的輸出為1位表征數據信號。

12、如權利要求9所述的PBT裝置，其中

比較單元包括四個串聯的比較器；

第一比較器設置在串聯隊列的第一個，接收32位數據信號，并且第四比較器設置在串聯隊列的第四個，輸出2位表征數據信號，

該第一比較器包括邏輯OR運算該數據信號的16個OR門，并輸出16個信號到第二比較器的輸入端，和

該第四比較器包括對從連接到其上的第三比較器所接收的輸出信號邏輯OR運算的一個OR門，

該一個OR門的輸出為2位表征數據信號。

13、一種同時測試被堆疊在多芯片封裝MCP中存儲芯片的并行位測試PBT方法，該存儲芯片共享一數據信號線集，該PBT方法包括：

接收命令以在存儲芯片上執行PBT；

分別輸出表示在提供給指定存儲芯片的測試數據信號群和從那里輸出的對應數據信號群之間比較的表征數據信號；

從共享數據線集中選擇一個或多個數據信號線的非重疊子集，該非重疊子集分別對應于各存儲芯片；和

通過數據信號線的非重疊子集分別輸出表征數據信號。