[發(fā)明專利]像素結(jié)構(gòu)及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810086409.4 | 申請日: | 2008-03-13 |
| 公開(公告)號: | CN101533805A | 公開(公告)日: | 2009-09-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 洪建興;吳英明;黃坤源;陳晉昇;黃乙峰 | 申請(專利權(quán))人: | 中華映管股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/84 | 分類號: | H01L21/84;H01L21/768;H01L27/12;H01L23/522;G02F1/1362 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務(wù)所有限公司 | 代理人: | 陳 亮 |
| 地址: | 臺灣省臺北*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 像素 結(jié)構(gòu) 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是有關(guān)于一種像素結(jié)構(gòu)及其制造方法,且特別是有關(guān)于一種液晶顯示面板的像素結(jié)構(gòu)及其制造方法。
背景技術(shù)
現(xiàn)今社會多媒體技術(shù)相當(dāng)發(fā)達,多半受惠于半導(dǎo)體元件與顯示裝置的進步。就顯示器而言,具有高畫質(zhì)、空間利用效率佳、低消耗功率、無輻射等優(yōu)越特性的液晶顯示面板已逐漸成為市場的主流。
具體來說,液晶顯示面板是由一薄膜晶體管陣列基板、一彩色濾光基板與一夾于兩基板之間的液晶層所構(gòu)成。一般傳統(tǒng)薄膜晶體管陣列基板的制造方法需通過五道光掩模制程才能完成,其中第一道光掩模制程主要是將柵極與掃描線(scan?line)定義出來,第二道光掩模制程主要是將溝道層(channel)定義出來,第三道光掩模制程主要是將源極(source)、漏極(drain)與數(shù)據(jù)線(dataline)定義出來,第四道光掩模制程主要是將保護層(passivation)定義出來,而第五道光掩模制程主要是將像素電極(pixel?electrode)定義出來。
值得注意的是,在形成掃描線與數(shù)據(jù)線時容易有斷線的問題,這會直接導(dǎo)致薄膜晶體管陣列基板的制造良率下降,并大幅提高生產(chǎn)成本。此外,液晶顯示面板的顯示品質(zhì)也會直接受到影響,實有改進的必要。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種像素結(jié)構(gòu)的制造方法,其具有高良率的優(yōu)點。
本發(fā)明提供一種像素結(jié)構(gòu),其具有良好的可靠度。
本發(fā)明提供一種像素結(jié)構(gòu)的制造方法,其可制造出不易斷線的像素結(jié)構(gòu)。
本發(fā)明提出一種像素結(jié)構(gòu),其具有不易斷線的優(yōu)點。
本發(fā)明提供一種像素結(jié)構(gòu)的制造方法,包括下列步驟:首先,提供一基板。接著,于基板上形成一掃描線與一柵極,且掃描線與柵極電性連接。然后,于基板上形成一柵絕緣層,以覆蓋基板、掃描線與柵極。之后,于柵極上方的柵絕緣層上形成一圖案化半導(dǎo)體層。此外,于柵絕緣層上方形成一數(shù)據(jù)線,并于部分的圖案化半導(dǎo)體層上分別形成一源極與一漏極,其中數(shù)據(jù)線與源極電性連接。另外,形成一保護層,以覆蓋部分柵絕緣層、源極、漏極、數(shù)據(jù)線與部分圖案化半導(dǎo)體層。此外,保護層具有一暴露出漏極的第一接觸窗開口與多個暴露出數(shù)據(jù)線的第二接觸窗開口。之后,于保護層上形成一像素電極與一第一連接導(dǎo)線。此像素電極透過第一接觸窗開口而與漏極電性連接。另一方面,第一連接導(dǎo)線位于數(shù)據(jù)線上方的保護層上并通過第二接觸窗開口而與數(shù)據(jù)線電性連接。
在本發(fā)明的一實施例中,還于柵絕緣層與保護層中形成多個第三接觸窗開口,以暴露出掃描線。
在本發(fā)明的一實施例中,上述形成像素電極與第一連接導(dǎo)線時,一并形成一第二連接導(dǎo)線,且第二連接導(dǎo)線透過第三接觸窗開口而與掃描線電性連接。
在本發(fā)明的一實施例中,上述的像素電極與第一連接導(dǎo)線的材料例如為銦錫氧化物、銦鋅氧化物或鋁鋅氧化物。
在本發(fā)明的一實施例中,上述的第二連接導(dǎo)線的材料例如為銦錫氧化物、銦鋅氧化物或鋁鋅氧化物。
本發(fā)明提供一種像素結(jié)構(gòu),其包括一基板、一掃描線、一柵極、一柵絕緣層、一圖案化半導(dǎo)體層、一源極、一漏極、一數(shù)據(jù)線、一保護層、一像素電極與一第一連接導(dǎo)線。其中,掃描線與柵極皆配置于基板上,且掃描線與柵極電性連接。此外,柵絕緣層覆蓋上述的基板、掃描線與柵極。另外,圖案化半導(dǎo)體層至少配置于柵極上方的柵絕緣層上。上述的源極與漏極分別配置于圖案化半導(dǎo)體層上,且源極與數(shù)據(jù)線電性連接。另一方面,數(shù)據(jù)線配置于柵絕緣層上方,而保護層覆蓋部分柵絕緣層、部分圖案化半導(dǎo)體層、源極、漏極與數(shù)據(jù)線。此外,保護層具有一暴露出漏極的第一接觸窗開口與多個暴露出數(shù)據(jù)線的第二接觸窗開口。上述的像素電極配置于保護層上,并透過第一接觸窗開口而與漏極電性連接。另外,第一連接導(dǎo)線配置于數(shù)據(jù)線上方的保護層上,并透過第二接觸窗開口而與數(shù)據(jù)線電性連接。
在本發(fā)明的一實施例中,上述的柵絕緣層與保護層中具有多個第三接觸窗開口,以暴露出掃描線。
在本發(fā)明的一實施例中,上述的像素結(jié)構(gòu)還包括一第二連接導(dǎo)線,其配置于掃描線上方的保護層上,并透過第三接觸窗開口而與掃描線電性連接,且第一連接導(dǎo)線與第二連接導(dǎo)線彼此電性絕緣。
在本發(fā)明的一實施例中,上述的像素電極與第一連接導(dǎo)線的材料例如為銦錫氧化物、銦鋅氧化物或鋁鋅氧化物。
在本發(fā)明的一實施例中,上述的第二連接導(dǎo)線的材料例如為銦錫氧化物、銦鋅氧化物或鋁鋅氧化物。
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H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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