[發(fā)明專利]試樣分析儀

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810084888.6
• 申請日: 2008-03-28
• 公開（公告）號: CN101275960A
• 公開（公告）日: 2008-10-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 若宮裕二;奧崎智裕;竹原久人
• 申請（專利權(quán)）人: 希森美康株式會社
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00;G01N33/50
• 代理公司: 北京金之橋知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 梁朝玉;劉良勇

技術(shù)領(lǐng)域：

本發(fā)明涉及一種免疫分析儀、凝血分析儀等分析試樣的試樣分析儀

背景技術(shù)：

包括免疫分析儀和凝血分析儀在內(nèi)的許多試樣分析儀都是將該分析儀測定部分所測試樣的測定數(shù)據(jù)用預(yù)先求出的校正曲線轉(zhuǎn)換，取得所期望的分析結(jié)果。比如，用血液檢查乙型肝炎和腫瘤標記等項目的免疫分析儀，由測定發(fā)光量所得的試樣的發(fā)光量數(shù)據(jù)(光子數(shù))用測定已知濃度的標準試樣(校準品)求得的校正曲線轉(zhuǎn)換為一定物質(zhì)的濃度。

這種校正曲線通常是將最新的曲線用來進行分析，如果這種最新的校正曲線不合適(繪制校正曲線時所用試劑與用于測定的試劑的批號不一樣或校正曲線繪制時間過早等)，則用該校正曲線獲得的分析結(jié)果也不合適，這種分析結(jié)果不能使用。因此，比如專利公開2003-315343號公報上發(fā)表了一種自動分析儀，可以以試劑批號和校正曲線的有效期限等為判斷標準，判斷該校正曲線的有效性，當不符合有效性的條件時，可控制不使用該校正曲線。

如果沒有如此合適的校正曲線，則在分析試樣后，事后測定校準品，繪制新的校正曲線，根據(jù)這一新的校正曲線再次分析(轉(zhuǎn)換)測定數(shù)據(jù)。

然而，包括專利公開2003-315343號公報上公開的裝置在內(nèi)的使用校正曲線的傳統(tǒng)分析儀雖然可以得到“分析結(jié)果”這一期望的輸出值，但不能記憶使用哪個校正曲線進行的分析，即使要查詢分析結(jié)果，也不能確定使用的校正曲線。因此，即使發(fā)現(xiàn)分析結(jié)果異常，追究其原因的途徑也很有限。

發(fā)明內(nèi)容：

本發(fā)明的范圍只由后附權(quán)利要求書所規(guī)定，在任何程度上都不受這一節(jié)發(fā)明內(nèi)容的陳述所限。

本發(fā)明第一部分提供一種試樣分析儀，包括：測定裝置，測定含試樣和試劑的測定試樣；校正曲線繪制單元，根據(jù)所述測定裝置測定含標準試樣和所述試劑的測定用標準試樣所得第一測定數(shù)據(jù)繪制校正曲線；校正曲線特定信息附加單元，賦予所述校正曲線繪制單元繪制的所述校正曲線以用于確定所述校正曲線的校正曲線特定信息；測定數(shù)據(jù)處理單元，根據(jù)所述校正曲線繪制單元繪制的所述校正曲線，對所述測定裝置測定所述測定試樣所獲得的第二測定數(shù)據(jù)進行處理，以取得分析結(jié)果；以及分析結(jié)果存儲單元，將所述測定數(shù)據(jù)處理單元獲取的所述分析結(jié)果與賦予所述第二測定數(shù)據(jù)處理用所述校正曲線的所述校正曲線特定信息對應(yīng)存儲。

所述試樣分析儀，還具有顯示校正曲線信息顯示畫面的顯示器。該校正曲線信息顯示畫面包含顯示所述校正曲線圖形的圖形顯示區(qū)和顯示賦予所述校正曲線的所述校正曲線特定信息的特定信息顯示區(qū)。

所述試樣分析儀，還具有接受對所述校正曲線繪制單元繪制的所述校正曲線的驗證的接受單元以及在所述接受單元接受對所述校正曲線的驗證后對應(yīng)于該校正曲線設(shè)定驗證狀態(tài)的驗證設(shè)定單元。所述校正曲線特定信息附加單元通過所述接受單元接受了對所述校正曲線的驗證后，為所述校正曲線設(shè)定所述校正曲線特定信息。

所述試樣分析儀，還包括：儲存可用于分析的所述校正曲線的第一存儲單元；儲存過去使用的數(shù)個第二校正曲線的第二存儲單元；從所述第二存儲單元儲存的數(shù)個所述第二校正曲線中接受對特定校正曲線指定的指定接受單元；將所述第二存儲單元儲存的數(shù)個所述第二校正曲線中指定的校正曲線作為可用于分析的校正曲線存入所述第一存儲單元的校正曲線再生單元。所述第二存儲單元可以與所述第二校正曲線特定信息對應(yīng)地存儲第二校正曲線，它還具有至少能以所述校正曲線特定信息為關(guān)鍵詞檢索儲存在第二存儲單元的所述特定校正曲線的檢索單元。所述第二存儲單元可以對應(yīng)地存儲所述第二校正曲線、所述校正曲線特定信息以及測定所述標準試樣使用的所述試劑的批號信息。

所述試樣分析儀，還包括：第一存儲單元，存儲可用于分析的所述校正曲線；第二存儲單元，存儲繪制過去用過的數(shù)個第二校正曲線時使用的數(shù)個所述標準試樣的所述第一測定數(shù)據(jù)；指定接受單元，接受從所述第二存儲單元存儲的數(shù)個所述第一測定數(shù)據(jù)中對特定測定數(shù)據(jù)的指定；校正曲線再生單元，根據(jù)所述第二存儲單元存儲的數(shù)個所述第一測定數(shù)據(jù)中指定的所述特定測定數(shù)據(jù)繪制第三校正曲線、作為可用于分析的所述校正曲線存入所述第一存儲單元。所述第二存儲單元可以與所述校正曲線特定信息對應(yīng)地存儲所述標準試樣的第一測定數(shù)據(jù)，還具有至少以所述校正曲線特定信息為關(guān)鍵詞檢索存在第二存儲單元中的所述特定第一測定數(shù)據(jù)的檢索單元。

對應(yīng)地存儲所述標準試樣的第一測定數(shù)據(jù)、所述校正曲線特定信息及所述標準試樣測定時使用的該試劑的批號信息。