[發(fā)明專利]晶片級半導(dǎo)體封裝及其制造方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810083021.9 | 申請日: | 2008-03-18 |
| 公開(公告)號: | CN101447469A | 公開(公告)日: | 2009-06-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 韓權(quán)煥 | 申請(專利權(quán))人: | 海力士半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/485 | 分類號: | H01L23/485;H01L21/60 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 | 代理人: | 彭久云 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 晶片 半導(dǎo)體 封裝 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明一般涉及一種晶片級半導(dǎo)體封裝及其制造方法。
背景技術(shù)
近來研發(fā)工作已經(jīng)得到了具有高數(shù)據(jù)集成密度且快數(shù)據(jù)處理速度的半導(dǎo)體芯片。這些半導(dǎo)體芯片必須找到途徑防止具有高數(shù)據(jù)集成密度且快數(shù)據(jù)處理速度的半導(dǎo)體芯片運行時引起的熱量產(chǎn)生,因為該熱量引起半導(dǎo)體芯片性能的下降。為了防止熱量產(chǎn)生,對最近所開發(fā)的大部分半導(dǎo)體芯片,都要求其應(yīng)具有低電壓運行特性。
為了滿足半導(dǎo)體芯片的低電壓運行特性,半導(dǎo)體芯片需要有更多的電源供應(yīng)焊墊。然而,半導(dǎo)體芯片具有有限的面積,很難形成較多數(shù)目的電源供應(yīng)焊墊。而且,當(dāng)半導(dǎo)體芯片中形成較多的電源供應(yīng)焊墊時,半導(dǎo)體芯片的尺寸增加。
另外,半導(dǎo)體芯片的內(nèi)部配線用于提供電源給半導(dǎo)體芯片的特定部分,例如半導(dǎo)體芯片的邊緣部分。在這種情況下,因為充足的電源不能通過半導(dǎo)體芯片的內(nèi)部配線提供給半導(dǎo)體芯片的邊緣部分,問題就產(chǎn)生了。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實施例涉及一種晶片級半導(dǎo)體封裝,其能充分地提供半導(dǎo)體芯片所需要的電源。
此外,本發(fā)明的實施例涉及晶片級半導(dǎo)體封裝的制造方法。
在一個實施例中,晶片級半導(dǎo)體封裝包括具有電路部的半導(dǎo)體芯片;設(shè)置于該半導(dǎo)體芯片中并包括與該電路部電氣上連接的電源焊墊的結(jié)合焊墊組,其中電源焊墊提供電源給半導(dǎo)體芯片;設(shè)置于除了由結(jié)合焊墊組占據(jù)的位置之外的位置處的半導(dǎo)體芯片中的內(nèi)部電路圖案;設(shè)置于除了由結(jié)合焊墊組占據(jù)的位置之外的位置處的半導(dǎo)體芯片中并與該電路部電氣上連接的補充電源焊墊;設(shè)置于該半導(dǎo)體芯片之上的絕緣層圖案,其中該絕緣層圖案具有暴露電源焊墊、內(nèi)部電路圖案、及補充電源焊墊的開口;及設(shè)置于該絕緣層圖案之上并通過該開口電氣上連接于電源焊墊、該內(nèi)部電路圖案、及該補充電源焊墊中至少兩個的再配線(redistribution)。
該電源焊墊、該內(nèi)部電路圖案、及該補充電源焊墊的數(shù)目分別至少為兩個。
該結(jié)合焊墊組排列并設(shè)置于該半導(dǎo)體芯片的中央部分中,而該內(nèi)部電路圖案及該補充電源焊墊分別設(shè)置于該結(jié)合焊墊組的兩側(cè)。
該再配線可以電氣上連接于該電源焊墊及該內(nèi)部電路圖案。
同樣,該再配線可以電氣上連接于該電源焊墊及該補充電源焊墊。
此外,該再配線可以電氣上連接于該補充電源焊墊及該內(nèi)部電路圖案。
此外,該再配線可以電氣上連接于該電源焊墊、該補充電源焊墊及該內(nèi)部電路圖案。
該再配線含有球焊盤圖案(ball?land?pattern)及附著于該球焊盤圖案的焊料球。
晶片級半導(dǎo)體封裝還包括夾在半導(dǎo)體芯片和絕緣層圖案之間的保護(hù)層;該保護(hù)層包括用于暴露結(jié)合焊墊組、內(nèi)部電路圖案和補充電源焊墊的開口。
具有用于暴露再配線的一部分的開口的覆蓋層圖案設(shè)置在半導(dǎo)體芯片之上,球焊盤圖案設(shè)置在覆蓋層圖案之上并通過該開口與再配線電氣上連接,以及焊料球附著于球焊盤圖案。
該再配線含有金(Au),銅/鎳/金(Cu/Ni/Au)層、銅/金(Cu/Au)層及鎳/金(Ni/Au)層至少之一。
在另一個實施例中,晶片級半導(dǎo)體封裝的制造方法包括的步驟有:制造半導(dǎo)體芯片,該半導(dǎo)體芯片包括具有電氣上連接于電路部的第一位置的電源焊墊的結(jié)合焊墊組,設(shè)置于除了由結(jié)合焊墊組占據(jù)的位置之外的位置的內(nèi)部電路圖案,設(shè)置于除了由結(jié)合焊墊組占據(jù)的位置之外的位置并電氣上連接于電路部的位置的補充電源焊墊;在半導(dǎo)體芯片之上形成絕緣層,該絕緣層具有用于暴露補充電源焊墊、內(nèi)部電路圖案和結(jié)合焊墊組的開口;及在絕緣層之上形成再配線,用于電氣上連接該電源焊墊、該內(nèi)部電路圖案和該補充電源焊墊中至少兩個。
具有暴露結(jié)合焊墊組的保護(hù)層圖案設(shè)置在半導(dǎo)體芯片之上,且該保護(hù)層圖案被構(gòu)圖為暴露內(nèi)部電路圖案和補充電源焊墊。
該補充電源焊墊設(shè)置于該結(jié)合焊墊組的兩側(cè)。
形成該再配線的步驟包括形成球焊盤圖案的步驟,該球焊盤圖案設(shè)置于該絕緣層之上并連接于該再配線。
形成該再配線的步驟之后,該方法還包括形成覆蓋層的步驟,該覆蓋層覆蓋該再配線并具有暴露該再配線的一部分的開口;及形成設(shè)置于該覆蓋層之上并電氣上連接于該再配線的球焊盤圖案的步驟。
附圖說明
圖1為示出根據(jù)本發(fā)明的實施例的晶片級半導(dǎo)體封裝的平面圖。
圖2為沿圖1中I-I’線剖取的截面圖。
圖3為示出根據(jù)本發(fā)明另一個實施例的晶片級半導(dǎo)體封裝的截面圖。
圖4~圖8為說明根據(jù)本發(fā)明的實施例的晶片級半導(dǎo)體封裝制造方法的步驟的平面圖及截面圖。
具體實施方式
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