[發明專利]引線端子檢測方法和引線端子檢測裝置無效
| 申請號: | 200810082546.0 | 申請日: | 2008-02-26 |
| 公開(公告)號: | CN101256068A | 公開(公告)日: | 2008-09-03 |
| 發明(設計)人: | 木村篤司 | 申請(專利權)人: | 夏普株式會社 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00;G01B11/24 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 | 代理人: | 張鑫 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 引線 端子 檢測 方法 裝置 | ||
本申請根據專利法第119條(a)項,請求基于2007年2月27日在日本國申請的專利申請2007-047568的優先權。通過在本說明書中言及,將其全部內容編入本申請。
技術領域
本發明涉及判斷例如電子調諧器等電子裝置具有的引線端子的好壞的引線端子檢查方法和引線端子檢查裝置。
背景技術
電子調諧器(電子裝置)具有的引線端子有時產生折斷、咬入殼體(蓋)引起的長度不夠。引線端子用于連接布線電路板等,所以需要具有規定的長度;長度不夠時有可能不能正常進行對布線電路板等的連接。因而,在產品檢查工序對電子調諧器的引線端子進行檢查。
圖12是示出作為已有例1的引線端子檢查方法的肉眼檢查的電子調諧器的引線端子檢查狀態的說明圖。
已有例1的引線端子檢查方法,是操作者觀察電子調諧器101具有的引線端子101t并作出評價判斷的肉眼檢查,有產生操作者疲勞、教育程度差別造成的偏差或錯判,存在精度和生產率不定的問題。
圖13是示出作為已有例2的引線端子檢查方法(引線端子檢查裝置)的專用檢查裝置的電子調諧器引線端子檢查狀態的說明圖。
已有例2的引線端子檢查方法,將作為專用檢查裝置的引線端子檢查裝置150插入到引線端子插入孔150t,對電子調諧器101具有的引線端子101t進行電檢查。基于引線端子檢查裝置150的情況下,每次開發引線端子101的端子數不同的產品需要新準備引線端子檢查裝置150,存在需要費用等經濟性(生產率)低的問題。
除已有例1、已有例2外,還提出下列使用光傳感器的引線端子檢查方法、引線端子檢查裝置。
日本國特開昭61-233304號公報中揭示應用光傳感器檢測出電子部件(LSI)的引線變位的引線檢查方法。即,該方法使對電子部件的引線投射光并用其反射光探測引線變位的光傳感器移動,以依次對多根引線投射光,而且根據該光傳感器輸出的波形強弱的最大值判別電子部件引線形狀好壞。
根據此方法,由于根據光傳感器輸出的波形判斷引線好壞,波形強弱的檢測、光傳感器移動速度控制、光照射方向的控制等組成復雜,不容易實現,而且需要專用檢查臺等,存在通用性、價格性、控制性等方面的問題。
日本國特開平9-145333號公報中揭示檢測出電子部件的端子彎曲的檢查裝置。即,提出的檢查裝置具備在對電子部件的端子排列方向平行的方向對大于等于端子寬度的寬度發射束光的投光單元、接收束光的感光單元、運算發射的束光的數據和接收的束光的數據并求出光的遮斷寬度的運算單元、以及通過對運算單元輸出的光遮斷寬度和規定的基準值進行比較判斷好壞的判斷單元。然而,需要進行需要運算束光的數據并求出光遮斷寬度等復雜運算的運算單元等,存在生產率、經濟性等方面的問題。
日本國特開昭63-177599號公報中揭示用光傳感器檢測出電子部件引線端子浮出的檢測方法。然而,限于浮出檢測這種用途,存在完全不可能用作一般引線端子檢查方法、引線端子檢查裝置的問題。
如上所述,根據已有例,肉眼檢查在精度和生產率方面存在問題,而且用光傳感器的情況下存在需要檢測出輸出波形強弱的單元、運算單元等復雜組成等問題。
發明內容
本發明是鑒于這種狀況而完成的,其目的在于提供一種引線端子檢測方法和引線端子檢測裝置,其中,將照射方向上的具有小于等于引線端子寬度的光線直徑的照射光,照射到引線端子的檢測對象前端位置,檢測出引線端子,對引線端子計數,從而能以簡單組成,容易且高精度地高效率進行引線端子好壞判斷。
本發明的引線端子檢查方法,從光傳感器對電子裝置的引線端子照射照射光,并且在所述光傳感器檢測出來自引線端子的反射光,從而檢查引線端子的形狀狀態,其中,將所述光傳感器構成為:將照射方向上的具有小于等于引線端子的寬度的光線直徑的照射光,照射到引線端子的檢測對象前端位置,并檢測出來自引線端子的反射光,而且在引線端子的排列方向,使所述光傳感器和引線端子的任一方對另一方相對移動,對多個引線端子依次進行照射光的照射和反射光的檢測,從而對引線端子計數。
根據此組成,檢測出隨檢測對象前端位置上的引線端子的形狀狀態產生的反射光,并能根據反射光的檢測對引線端子的根數計數,所以能檢測出引線端子的形狀欠佳(遮斷、彎曲、咬入電子裝置的殼體等造成的長度不夠、彎曲造成的位置欠佳等),從而能容易且高精度地高效率檢查引線端子好壞。
又,本發明的引線端子檢查方法,將所述電子裝置固定,并使所述光傳感器移動。
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