[發明專利]引線端子檢測方法和引線端子檢測裝置無效
| 申請號: | 200810082546.0 | 申請日: | 2008-02-26 |
| 公開(公告)號: | CN101256068A | 公開(公告)日: | 2008-09-03 |
| 發明(設計)人: | 木村篤司 | 申請(專利權)人: | 夏普株式會社 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00;G01B11/24 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 | 代理人: | 張鑫 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 引線 端子 檢測 方法 裝置 | ||
1、一種引線端子檢查方法,從光傳感器對電子裝置的引線端子照射照射光,并且在所述光傳感器檢測出來自引線端子的反射光,從而檢查引線端子的形狀狀態,其特征在于,
將所述光傳感器構成為:將照射方向上的具有小于等于引線端子的寬度的光線直徑的照射光,照射到引線端子的檢測對象前端位置,并檢測出來自引線端子的反射光,而且在引線端子的排列方向,使所述光傳感器和引線端子的任一方對另一方相對移動,對多個引線端子依次進行照射光的照射和反射光的檢測,從而對引線端子計數。
2、如權利要求1中所述的引線端子檢查方法,其特征在于,
將所述電子裝置固定,并使所述光傳感器移動。
3、如權利要求1中所述的引線端子檢查方法,其特征在于,
將所述光傳感器固定,并使引線端子移動。
4、一種引線端子檢查方法,在與電子裝置的引線端子排列方向交叉的方向,將光傳感器的發光部和所述光傳感器的感光部相對地配置,從所述發光部對引線端子照射照射光,在所述感光部檢測出照射光,從而檢查引線端子的形狀狀態,其特征在于,
將所述發光部構成為:將照射方向上的具有小于等于引線端子的寬度的光線直徑的照射光,照射到引線端子的檢測對象前端位置,所述感光部檢測出引線端子造成的照射光的遮斷,而且在所述排列方向,使所述光傳感器和引線端子的任一方對另一方相對移動,對多個引線端子依次進行照射光的照射和照射光的遮斷的檢測,從而對引線端子計數。
5、如權利要求4中所述的引線端子檢查方法,其特征在于,
將所述電子裝置固定,并使所述發光部和所述感光部同步移動。
6、如權利要求4中所述的引線端子檢查方法,其特征在于,
將所述發光部和所述感光部固定,并使引線端子移動。
7、一種引線端子檢查方法,在與電子裝置的引線端子排列方向交叉的方向將光傳感器的發光部和所述光傳感器的感光部相對地配置,從所述發光部對引線端子照射照射光,在所述感光部檢測出照射光,從而檢查引線端子的形狀狀態,其特征在于,
配置多列引線端子,將所述光傳感器構成為:配置在對所述排列方向照射光斜交的方向,所述發光部將照射方向上的具有小于等于引線端子的寬度的光線直徑的照射光,照射到引線端子的檢測對象前端位置,所述感光部檢測出引線端子造成的照射光的遮斷,而且在所述排列方向,使所述光傳感器和引線端子的任一方對另一方相對移動,對多個引線端子依次進行照射光的照射和照射光的遮斷的檢測,從而對引線端子計數。
8、一種引線端子檢查裝置,從發光部對電子裝置的引線端子照射照射光,并且在感光部檢測出來自引線端子的反射光,從而檢查引線端子的形狀狀態,其特征在于,
將所述發光部構成為:將照射方向上的具有小于等于引線端子的寬度的光線直徑的照射光,照射到引線端子的檢測對象前端位置,所述感光部檢測出來自引線端子的反射光,而且具備在引線端子的排列方向,使所述發光部和所述感光部移動并對多個引線端子依次進行照射光的照射和反射光的檢測的光學移動部、利用反射光的檢測對引線端子計數的計數部、以及對該計數部的計數根數和預先設定的規定根數作比較并進行好壞判斷的比較判斷部。
9、一種引線端子檢查裝置,從發光部對電子裝置的引線端子照射照射光,并且在感光部檢測出來自引線端子的反射光,從而檢查引線端子的形狀狀態,其特征在于,
將所述發光部構成為:將照射方向上的具有小于等于引線端子的寬度的光線直徑的照射光,照射到引線端子的檢測對象前端位置,所述感光部檢測出來自引線端子的反射光,而且具備在引線端子的排列方向,使所述電子裝置移動并對多個引線端子依次進行照射光的照射和反射光的檢測的裝置移動部、利用反射光的檢測對引線端子計數的計數部、以及對該計數部的計數根數和預先設定的規定根數作比較并進行好壞判斷的比較判斷部。
10、如權利要求8中所述的引線端子檢測裝置,其特征在于,
將所述發光部和所述感光部安裝在同一組件中。
11、如權利要求9中所述的引線端子檢測裝置,其特征在于,
將所述發光部和所述感光部安裝在同一組件中。
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