[發(fā)明專利]電光裝置、半導(dǎo)體器件、顯示裝置及具備其的電子設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810082237.3 | 申請日: | 2008-02-26 |
| 公開(公告)號: | CN101256296A | 公開(公告)日: | 2008-09-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 小橋裕 | 申請(專利權(quán))人: | 愛普生映像元器件有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/133 | 分類號: | G02F1/133;G09G3/20;G09F9/00 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務(wù)所 | 代理人: | 陳海紅;段承恩 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電光 裝置 半導(dǎo)體器件 顯示裝置 具備 電子設(shè)備 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明,例如,涉及電光裝置、半導(dǎo)體器件、顯示裝置及具備其的電子設(shè)備。
背景技術(shù)
近年來,在顯示裝置上裝載光傳感器功能,通過測定外光照度對輝度等進行調(diào)整而謀求消耗電力降低、像質(zhì)提高的技術(shù)的開發(fā)正在進展(例如專利文獻1)。作為光傳感器可舉出薄膜晶體管、PIN二極管、PN二極管等。受光部不管在哪種情況下都為硅薄膜,為了不使制造上的成本增大,優(yōu)選以與構(gòu)成顯示的開關(guān)元件的硅薄膜同一制造工序所制造。此時,所謂外光指所有種類的環(huán)境光,即日光、熒光燈、白熾燈泡、LED的光等,并要求相對于這些全部作為光傳感器檢測正確的照度。
【專利文獻1】美國專利第5831693號說明書
發(fā)明內(nèi)容
相對于日光總是為一定的光量,采用AC電源類型的人工光大多以一定周期反復(fù)閃爍,尤其在輝光放電型熒光燈成為主要的環(huán)境光的情況下,以100Hz或120Hz的閃爍顯著,光傳感器受此影響,不能正確地進行照度的檢測。本發(fā)明,實現(xiàn)即使在有以100Hz或120Hz的閃爍的環(huán)境下也能夠高精度地進行照度檢測的電光裝置。
本發(fā)明,為電光裝置,其具備有:在第1(在實施方式中,為有源矩陣基板101)及第2基板(在實施方式中,為對向基板912)間夾持電光物質(zhì)(在實施方式中,為向列液晶材料922)的形成有顯示區(qū)域的面板(在實施方式中,為液晶面板911),和設(shè)置于前述第1或第2基板上、對前述面板的周圍光的照度進行檢測的光檢測部(在實施方式中,為檢測電路360、受光傳感器350P);其特征為:前述光檢測部,隔開預(yù)定的時間間隔(為RST信號的周期TR),進行多次檢測工作;前述預(yù)定的時間間隔設(shè)定為除了1/100秒或1/120秒的整數(shù)倍或接近于它們的值以外的值。若如此地進行設(shè)定,則即使在有以100Hz或120Hz的閃爍的環(huán)境下,照度檢測的精度也因短時間、少次數(shù)的采樣而提高。
本發(fā)明,為半導(dǎo)體器件,其特征在于,具備:形成于基板上、用于對前述基板周邊的外光照度進行測定的光傳感器(受光傳感器350P),和連接于前述光傳感器而對應(yīng)于前述外光照度進行輸出的檢測電路(在實施方式中,為檢測電路360);前述檢測電路,基于來自前述光傳感器的輸入多次進行前述外光照度檢測工作;若設(shè)前述多次檢測工作的第1檢測工作、與繼前述第1檢測工作所進行的第2檢測工作的時間間隔為T1,則前述時間間隔T1設(shè)定為除了1/100秒或1/120秒的整數(shù)倍及接近于它們的值以外的值。若如此地進行設(shè)定,則即使在有以100Hz或120Hz的閃爍的環(huán)境下,照度檢測的精度也因短時間、少次數(shù)的采樣而提高。更具體地為以下半導(dǎo)體器件:前述時間間隔T1,當(dāng)設(shè)n為任意的整數(shù)時,設(shè)定為1/100秒的(n+0.5)倍、或1/120秒的(n+0.5)倍、或二者的中間值;進而為具有多次對前述檢測電路的輸出采樣、進行統(tǒng)計處理的電路(在實施方式中,為中央運算電路781)的半導(dǎo)體器件。若如此地進行設(shè)定,則以最少2次的采樣而使精度顯著提高。
進而本發(fā)明,為半導(dǎo)體器件,其特征為:若設(shè)前述第2檢測工作、與繼前述第2檢測工作所進行的第3檢測工作的時間間隔為T2,則前述時間間隔T1與前述時間間隔T2互不相同。通過如此地使檢測間隔不為一定,能夠?qū)?yīng)于所有的外光的閃爍周期。
進而為一種半導(dǎo)體器件,其特征為:前述光傳感器為將前述外光照度變換成電流的元件;前述檢測電路是:在每次前述檢測周期的開始將連接有前述光傳感器的節(jié)點的一端復(fù)位成初始電位,通過對前述節(jié)點的電位變化進行檢測而進行前述檢測工作的電路。如此的檢測電路即使來自光傳感器的輸出電流微弱也可以以高精度進行檢測,但是因為需要一定的檢測工作期間,所以容易受外光的閃爍的影響,適合應(yīng)用本實施例。
進而本發(fā)明為以:前述光傳感器為采用了薄膜多晶硅的PIN結(jié)二極管或PN結(jié)二極管為特征的半導(dǎo)體器件。如此的光傳感器可以低成本地制造于液晶顯示裝置上,但是因為光電流效率低,所以適合應(yīng)用本實施例。
而且本發(fā)明為采用了這些半導(dǎo)體器件的顯示裝置,和采用了該顯示裝置的電子設(shè)備。因為在所有的環(huán)境下內(nèi)置高精度的光傳感器,所以能夠提供即使在室內(nèi)也能適當(dāng)?shù)貙ο褓|(zhì)、輝度進行調(diào)整,可視性高、消耗電力少而電池驅(qū)動時間長的裝置。并且,此時,若是顯示的幀周期為前述時間間隔T1的整數(shù)倍的顯示裝置,則信號生成容易而成本低廉。
附圖說明
圖1是本發(fā)明的實施例中的液晶顯示裝置910的立體圖。
圖2是本發(fā)明的第1實施例中的有源矩陣基板101的構(gòu)成圖。
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G02F 用于控制光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來自獨立光源的光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對強度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的





