[發明專利]電光裝置、半導體器件、顯示裝置及具備其的電子設備

有效

• 申請號: 200810082237.3
• 申請日: 2008-02-26
• 公開（公告）號: CN101256296A
• 公開（公告）日: 2008-09-03
• 發明（設計）人: 小橋裕
• 申請（專利權）人: 愛普生映像元器件有限公司
• 主分類號: G02F1/133
• 分類號: G02F1/133;G09G3/20;G09F9/00
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所
• 代理人: 陳海紅;段承恩

1.一種電光裝置，其具備：在第1及第2基板間夾持有電光物質的形成有顯示區域的面板，和設置于前述第1或第2基板上、對前述面板的周圍光的照度進行檢測的光檢測部；其特征在于：

前述光檢測部，隔預定的時間間隔，進行多次檢測工作；

前述預定的時間間隔設定為除了1/100秒或1/120秒的整數倍或接近于它們的值以外的值。

2.一種半導體器件，其特征在于，具備：

形成于基板上、用于對前述基板周邊的外光照度進行測定的光傳感器，和

連接于前述光傳感器而對應于前述外光照度進行輸出的檢測電路；

前述檢測電路，基于來自前述光傳感器的輸入，多次進行前述外光照度檢測工作；

當設前述多次檢測工作的第1檢測工作、與繼前述第1檢測工作所進行的第2檢測工作的時間間隔為T1時，則

前述時間間隔T1設定為除了1/100秒或1/120秒的整數倍及接近于它們的值以外的值。

3.按照權利要求2所述的半導體器件，其特征在于：

當設n為任意的整數時，前述時間間隔T1設定為1/100秒的(n+0.5)倍、或1/120秒的(n+0.5)倍、或二者的中間值。

4.按照權利要求3所述的半導體器件，其特征在于：

具有對前述檢測電路的輸出多次采樣而進行統計處理的電路，其中該電路為中央運算電路。

5.按照權利要求2～4中的任何一項所述的半導體器件，其特征在于：

當設前述第2檢測工作、與繼前述第2檢測工作所進行的第3檢測工作的時間間隔為T2時，則前述時間間隔T1與前述時間間隔T2互不相同。

6.按照權利要求2～5中的任何一項所述的半導體器件，其特征在于：

前述光傳感器為將前述外光照度變換成電流的元件；前述檢測電路是下述電路：在每次前述檢測周期的開始，將連接有前述光傳感器的節點的一端復位成初始電位，通過對前述節點的電位變化進行檢測而進行前述檢測工作。

7.按照權利要求2～6中的任何一項所述的半導體器件，其特征在于：

前述光傳感器為采用了薄膜多晶硅的PIN結二極管或PN結二極管。

8.一種顯示裝置，其特征在于：

采用了權利要求2～7中的任何一項所述的半導體器件。

9.按照權利要求8所述的顯示裝置，其特征在于：

前述時間間隔T1為作為進行顯示的重寫的周期的幀周期的整數倍。

10.一種電子設備，其特征在于：

采用了權利要求8或9所述的顯示裝置。