[發(fā)明專利]透鏡測量儀有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810082032.5 | 申請日: | 2008-02-28 |
| 公開(公告)號: | CN101256114A | 公開(公告)日: | 2008-09-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 梶野正 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社尼德克 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人: | 高青 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 透鏡 測量儀 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及測量被檢查透鏡的光學(xué)特性的透鏡測量儀。
背景技術(shù)
傳統(tǒng)上,已知具有測量光學(xué)系統(tǒng)的透鏡測量儀,該測量光學(xué)系統(tǒng)將測量光束投射到被檢查透鏡上,通過光電檢測器來檢測透過透鏡的測量光束,以及根據(jù)檢測結(jié)果來獲取透鏡的光學(xué)特性(球面度數(shù)S、柱面度數(shù)C、和像散軸角度A)。這樣的傳統(tǒng)透鏡測量儀被配置成根據(jù)圍繞測量光軸布置的一組4個測量目標(biāo)(原則上3個測量目標(biāo))的偏差來測量透鏡的光學(xué)特性,該偏差通過光電檢測器來檢測(參見待審日本專利申請公布第Sho60-17335號和與待審日本專利申請公布第Sho50-145249號相對應(yīng)的USP?3,880,525)。另外,還提出了使用布置在換鏡旋座內(nèi)的多個測量目標(biāo),以便于測量透鏡的光學(xué)特性分布和漸變度數(shù)透鏡的遠(yuǎn)部和近部的透鏡測量儀(參見與待審日本專利申請第2003-75296號相對應(yīng)的USP?6,972,837)。對于任何透鏡測量儀,單視覺透鏡的測量基本上通過利用布置在圍繞測量光軸直徑為2到3mm的圓周上的測量目標(biāo)來進(jìn)行,因為測量目標(biāo)布置得離測量光軸越遠(yuǎn),像差的影響就越大。
但是,在基于測量光軸附近的測量目標(biāo)的測量中,根據(jù)透鏡的度數(shù)和透鏡表面的狀態(tài),光學(xué)特性的測量變得不穩(wěn)定,這可能對測量精度的可靠性不利。換句話說,當(dāng)透鏡的屈光力弱時,光軸附近的測量目標(biāo)的偏差小,從而測量值趨向于不穩(wěn)定。具體地說,當(dāng)柱面度數(shù)弱時,受此影響的像散軸角度極大變化,使測量結(jié)果不穩(wěn)定和測量精度低。另外,在利用測量光軸附近的測量目標(biāo)的測量中,當(dāng)在測量區(qū)中存在劃痕或塵土?xí)r,測量值也變得不穩(wěn)定,對測量精度的可靠性不利。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是,提供一種能夠高度穩(wěn)定和精確地獲取透鏡的光學(xué)特性的透鏡測量儀。
為了達(dá)到所述目標(biāo)并按照本發(fā)明的目的,一種測量透鏡的光學(xué)特性的透鏡測量儀具有:測量光學(xué)系統(tǒng),該測量光學(xué)系統(tǒng)包括:具有以預(yù)定圖案圍繞測量光軸布置的多個測量目標(biāo)的目標(biāo)面板,所述測量目標(biāo)至少具有在測量光軸附近的第一區(qū)域中的第一測量目標(biāo)、和在第一區(qū)域之外的第二區(qū)域中的第二測量目標(biāo);和光電接收經(jīng)過透鏡的測量光束的光電檢測器;計算光學(xué)特性的計算裝置,該計算裝置包括根據(jù)光電檢測器對第一測量目標(biāo)的檢測結(jié)果來計算透鏡的第一光學(xué)特性的第一計算裝置、和根據(jù)第一測量目標(biāo)的檢測結(jié)果和第二測量目標(biāo)的檢測結(jié)果來計算透鏡的第二光學(xué)特性的第二計算裝置;以及顯示控制裝置,如果第一計算裝置的計算結(jié)果和光電檢測器的檢測結(jié)果之一滿足預(yù)定條件,則顯示第二光學(xué)特性作為透鏡的光學(xué)特性,以及如果未滿足預(yù)定條件,則顯示第一光學(xué)特性作為透鏡的光學(xué)特性。
本發(fā)明的其它目的和優(yōu)點在如下的描述中給出,并且從該描述中明顯看出,或可以通過實踐本發(fā)明獲知。本發(fā)明的目的和優(yōu)點可以通過權(quán)利要求書中的透鏡測量儀來實現(xiàn)和達(dá)到。
附圖說明
插入本說明書中構(gòu)成本說明書一部分的附圖例示了本發(fā)明的實施例,并且與說明書一起用于說明本發(fā)明的目的、優(yōu)點和原理。在附圖中,
圖1是例示根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的透鏡測量儀的外表圖;
圖2是例示根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的透鏡測量儀的光學(xué)系統(tǒng)和控制系統(tǒng)的圖;
圖3是例示測量目標(biāo)的目標(biāo)圖案的圖;
圖4是示出根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的操作例子的流程圖;以及
圖5A、5B和5C是例示用于對準(zhǔn)的顯示屏的圖。
具體實施方式
下面參照附圖提供根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的詳細(xì)描述。圖1是例示根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的透鏡測量儀的外表圖。
標(biāo)號1是透鏡測量儀的主體。顯示器2是液晶顯示器等,在顯示器2上顯示測量結(jié)果和測量用于對準(zhǔn)的目標(biāo)和其它對象所需的信息。通過按下與顯示器2上的開關(guān)顯示相對應(yīng)的用于輸入的開關(guān)3之一,輸入諸如切換測量模式的必要指令。在其上安裝被檢查透鏡LE的換鏡旋座4是測量的基準(zhǔn)點。向下移動透鏡支架5,以便穩(wěn)定地保持安裝在換鏡旋座4上的透鏡LE。
當(dāng)測量鏡架內(nèi)的透鏡時,使可在前后方向上移動的架板6與鏡架的下部(戴上眼鏡時的下部)接觸,以便增加穩(wěn)定性,從而提供測量像散軸角度的基準(zhǔn)。標(biāo)記機(jī)構(gòu)7用于在透鏡LE上做標(biāo)記。READ(讀取)開關(guān)8用于讀取透鏡LE的光學(xué)特性的數(shù)據(jù)。當(dāng)按下READ開關(guān)8時,測量值在顯示器2上保持靜止并存儲在透鏡測量儀中。
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