[發明專利]透鏡測量儀有效
| 申請號： | 200810082032.5 | 申請日： | 2008-02-28 |
| 公開（公告）號： | CN101256114A | 公開（公告）日： | 2008-09-03 |
| 發明（設計）人： | 梶野正 | 申請（專利權）人： | 株式會社尼德克 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人： | 高青 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 透鏡 測量儀 | ||
1.一種測量透鏡的光學特性的透鏡測量儀，包含：
測量光學系統，包括：
具有以預定圖案圍繞測量光軸布置的多個測量目標的目標面板，所述測量目標至少具有在測量光軸附近的第一區域內的第一測量目標、和在第一區域之外的第二區域內的第二測量目標；和
光電接收穿過透鏡的測量光束的光電檢測器；
計算光學特性的計算裝置，包括：
第一計算裝置，根據光電檢測器對第一測量目標的檢測結果來計算透鏡的第一光學特性；和
第二計算裝置，根據第一測量目標的檢測結果和第二測量目標的檢測結果來計算透鏡的第二光學特性；以及
顯示控制裝置，如果第一計算裝置的計算結果和光電檢測器的檢測結果之一滿足預定條件，則顯示第二光學特性作為透鏡的光學特性，以及如果未滿足所述預定條件，則顯示第一光學特性作為透鏡的光學特性。
2.根據權利要求1所述的透鏡測量儀，其中，所述顯示控制裝置在第一計算裝置所計算的柱面度數是預定的弱屈光度或更小的情況和第一計算裝置所計算的柱面度數和球面度數是預定的弱屈光度或更小的情況之一下，在顯示裝置上顯示第二計算裝置的計算結果作為透鏡的光學特性。
3.根據權利要求2所述的透鏡測量儀，其中，所述顯示控制裝置在第一計算裝置所計算的柱面度數是預定的弱屈光度或更小的情況和第一計算裝置所計算的柱面度數和球面度數是預定的弱屈光度或更小的情況之一下，以及如果在比較第一計算裝置所計算的第一光學特性和第二計算裝置所計算的第二光學特性之后，第一計算裝置所計算的第一光學特性和第二計算裝置所計算的第二光學特性之間的差值在允許范圍內，在顯示裝置上顯示第二計算裝置的計算結果作為透鏡的光學特性。
4.根據權利要求1所述的透鏡測量儀，其中，所述顯示控制裝置比較第一計算裝置所計算的第一光學特性和第二計算裝置所計算的第二光學特性，如果第一計算裝置所計算的第一光學特性和第二計算裝置所計算的第二光學特性之間的差值在允許范圍內，則顯示第二計算裝置的計算結果作為透鏡的光學特性。
5.根據權利要求1所述的透鏡測量儀，其中，所述顯示控制裝置確定被光電檢測器適當檢測的第一區域內的測量目標的數量是否滿足固定比率和預定數量之一，以及如果測量目標的數量未滿足固定比率和預定數量之一，則在顯示裝置上顯示第二計算裝置的計算結果作為透鏡的光學特性。
6.根據權利要求1所述的透鏡測量儀，其中，所述目標面板具有形狀與其它測量目標不同的第三測量目標，所述第三測量目標包含測量光軸上的第四測量目標和與第四測量目標等距離布置的第五測量目標。
7.根據權利要求1所述的透鏡測量儀，其中，所述目標面板具有形狀與其它測量目標不同的第三測量目標，所述第三測量目標還用作所述第一測量目標。
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