[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置及其制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810081784.X | 申請日: | 2008-03-13 |
| 公開(公告)號: | CN101533826A | 公開(公告)日: | 2009-09-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張睿鈞;陳瑛政 | 申請(專利權(quán))人: | 世界先進積體電路股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/522 | 分類號: | H01L23/522;H01L23/482;H01L21/768;H01L21/60 |
| 代理公司: | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 任默聞 |
| 地址: | 臺灣省新竹*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 及其 制作方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是有關(guān)于一種半導(dǎo)體裝置及其制造方法,特別是有關(guān)于深溝渠接 觸結(jié)構(gòu)及其制造方法。
背景技術(shù)
于現(xiàn)今半導(dǎo)體技術(shù)中,為了達成單晶片系統(tǒng)(single-chip?system)的操作, 是將控制器、存儲器、低壓操作的電路以及高壓操作的功率元件高度整合至 單一晶片上,其中功率元件的研發(fā)種類包含有垂直式雙擴散金屬氧化半導(dǎo)體 晶體管(VDMOS)、絕緣柵極雙載子晶體管(IGBT)、橫向式功率晶體管 (LDMOS)等幾種,其研發(fā)目的在于提高電源轉(zhuǎn)換效率來降低能源的損耗。由 于在單一晶片上需同時提供高壓晶體管元件以及低壓CMOS電路元件,因此 在制造工藝上需制作用以隔絕相鄰的元件的隔離結(jié)構(gòu)。
請參閱圖1,其顯示現(xiàn)有半導(dǎo)體元件的剖面圖。一般可使用由介電材料所 形成的深溝渠絕緣結(jié)構(gòu)20隔離鄰近的元件,因此能夠個別的控制隔離的元件 的電源參數(shù)。但是深溝渠絕緣結(jié)構(gòu)20容易產(chǎn)生寄生電容。另外,位于元件主 動區(qū)與基底10之間的埋氧化層30,也會產(chǎn)生寄生電容。當(dāng)元件在一電壓環(huán)境 下操作時,會由于上述寄生電容產(chǎn)生充電而造成耦合效應(yīng),此效應(yīng)在高壓元 件中尤其明顯。電容耦合效應(yīng)不但使得鄰近元件的特性表現(xiàn)受到影響,甚至 會藉由基材程度不一影響到其他電性相連的高低壓元件。
隨著半導(dǎo)體制造工藝的不斷進步,集成電路的尺寸愈來愈小、電路愈來 愈密,同時工作時鐘愈來愈快,晶片內(nèi)電路內(nèi)的寄生電阻效應(yīng)、寄生電容效 應(yīng)也就愈來愈嚴重,進而使頻率無法再提升,此稱為阻容延遲、阻容遲滯(RC Delay),RC?Delay不僅阻礙時鐘成長,同時也會增加電路的無謂功耗。這些 效應(yīng)對電路的運作產(chǎn)生不同程度的影響,也引發(fā)對電路穩(wěn)定性的疑慮,尤其 在現(xiàn)今電路高速運行的時代,電路對這些干擾的容忍度也越來越低,更加深 此問題的嚴重性。
因此有需要提供一種半導(dǎo)體裝置及其形成方法,以克服先前技術(shù)的不足。
發(fā)明內(nèi)容
為達上述、其它與本發(fā)明的目的,本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體裝置,包括:
一基底;一埋層,形成于所述的基底內(nèi),其中所述的埋層包含一絕緣區(qū); 一深溝渠接觸結(jié)構(gòu),形成于所述的基底內(nèi),其中所述的深溝渠接觸結(jié)構(gòu)包含 一導(dǎo)電材料及一襯墊層,其中所述的襯墊層形成于所述的導(dǎo)電材料的側(cè)壁上, 且所述的導(dǎo)電材料與所述的基底電性連接;以及一摻雜區(qū),形成于所述深溝 渠接觸結(jié)構(gòu)及所述基底之間,其中所述深溝渠接觸結(jié)構(gòu)的導(dǎo)電材料延伸至所 述摻雜區(qū),所述襯墊層延伸至所述埋層的絕緣區(qū),所述襯墊層與所述埋層的 絕緣區(qū)相連并覆蓋所述導(dǎo)電材料的側(cè)壁,以形成用于隔絕組件的隔離結(jié)構(gòu)。
本發(fā)明也提供一種半導(dǎo)體裝置的制造方法,包括下列步驟:提供一基底, 其具有一埋層位于其中,其中所述的埋層包含一絕緣區(qū);于所述的基底內(nèi)形 成一深溝渠接觸結(jié)構(gòu),其中所述的深溝渠接觸結(jié)構(gòu)包含一導(dǎo)電材料及一襯墊 層,其中所述的襯墊層形成于所述的導(dǎo)電材料的側(cè)壁上,且所述的導(dǎo)電材料 與所述的基底電性連接;以及形成一摻雜區(qū)于所述深溝渠接觸結(jié)構(gòu)及所述基 底的間,其中所述深溝渠接觸結(jié)構(gòu)的導(dǎo)電材料延伸至所述摻雜區(qū),所述襯墊 層延伸至所述埋層的絕緣區(qū),所述襯墊層與所述埋層的絕緣區(qū)相連并覆蓋所 述導(dǎo)電材料的側(cè)壁,以形成用于隔絕組件的隔離結(jié)構(gòu)。
附圖說明
圖1顯示現(xiàn)有半導(dǎo)體元件的剖面圖。
圖2至圖9顯示根據(jù)本發(fā)明實施例的形成深溝渠接觸結(jié)構(gòu)的剖面圖。
附圖標(biāo)號
10~基底;???????????????20~深溝渠絕緣結(jié)構(gòu);
30~埋氧化層;???????????100~基底;
120~導(dǎo)體埋層;??????????140~絕緣埋層;
160~磊晶層;????????????180~罩幕層;
200~第一深溝渠;????????210~襯墊層;
220~第二深溝渠;????????230~摻雜區(qū);
260~深溝渠接觸結(jié)構(gòu);????300~層間介電層;
310~阻障層;????????????320~接觸插塞;
330~金屬層。
具體實施方式
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