[發(fā)明專利]電阻式存儲(chǔ)器及其制造方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810081250.7 | 申請(qǐng)日: | 2008-02-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101452943A | 公開(公告)日: | 2009-06-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何家驊;賴二琨 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 旺宏電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/24 | 分類號(hào): | H01L27/24;H01L45/00;H01L27/10;H01L27/115;H01L21/82;G11C13/00;G11C11/56;G11C16/02 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 | 代理人: | 彭久云 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)灣新竹*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電阻 存儲(chǔ)器 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種電阻式存儲(chǔ)器及其制造方法,且特別涉及一種具有高度可微縮性(scalability)的電阻式存儲(chǔ)器及其制造方法。
背景技術(shù)
隨著傳統(tǒng)的存儲(chǔ)器結(jié)構(gòu)的可微縮能力逐漸出現(xiàn)瓶頸,電阻式存儲(chǔ)器(resistive?memory)具有高度可微縮性、讀寫速度快,并可應(yīng)用金屬氧化物半導(dǎo)體(metal?oxide?semiconductor,MOS)工藝進(jìn)行制造。因此電阻式存儲(chǔ)器可以稱為新一代存儲(chǔ)器技術(shù)的明日之星。
目前的電阻式存儲(chǔ)器的制造方式,是將各層材料沉積之后,以具有獨(dú)立島狀結(jié)構(gòu)(island?structure)的掩模,經(jīng)光刻工藝蝕刻出獨(dú)立的存儲(chǔ)結(jié)構(gòu)。但是島狀結(jié)構(gòu)在光刻工藝中難以提高其分辨率,連帶使得要進(jìn)一步提高存儲(chǔ)器元件的密度將遭遇許多困難。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明涉及一種電阻式存儲(chǔ)器及其制造方法,是以形成線型圖案(linepattern)的方式制造存儲(chǔ)器,可以大幅提高存儲(chǔ)器元件的密集度。
根據(jù)本發(fā)明,提出一種電阻式存儲(chǔ)器,包括基板、第一信號(hào)線、存儲(chǔ)單元及第二信號(hào)線。第一信號(hào)線設(shè)置于基板上,第一信號(hào)線具有第一表面。存儲(chǔ)單元具有第二表面,存儲(chǔ)單元通過第二表面接觸第一表面與第一信號(hào)線耦接。第二信號(hào)線設(shè)置于存儲(chǔ)單元上并耦接存儲(chǔ)單元,其中第二表面的面積實(shí)質(zhì)上大于或等于第一信號(hào)線與第二信號(hào)線重疊區(qū)域的面積。
根據(jù)本發(fā)明,提出一種電阻式存儲(chǔ)器的制造方法,包括下列步驟。首先,形成第一導(dǎo)電材料層于基板上。接著,蝕刻第一導(dǎo)電材料層成為一具有第一表面的第一信號(hào)線。然后,形成一具有第二表面的存儲(chǔ)材料層,存儲(chǔ)材料層并通過第一表面接觸第二表面與第一信號(hào)線耦接。接著,形成第二導(dǎo)電材料層與存儲(chǔ)材料層耦接。然后,蝕刻第二導(dǎo)電材料層,以形成第二信號(hào)線,其中第二表面的面積實(shí)質(zhì)上大于或等于第一信號(hào)線與第二信號(hào)線重疊區(qū)域的面積。
為讓本發(fā)明的上述內(nèi)容能更明顯易懂,下文特舉優(yōu)選實(shí)施例,并配合附圖,作詳細(xì)說明如下。
附圖說明
圖1A-8A繪示本發(fā)明的一種電阻式存儲(chǔ)器的制造流程俯視圖;
圖1B-8B分別繪示沿圖1A-8A的剖面線AA’的剖面圖;
圖1C-8C分別繪示沿圖1A-8A的剖面線BB’的剖面圖;
圖9A繪示傳統(tǒng)電阻式存儲(chǔ)器的俯視圖;
圖9B繪示沿圖9A的剖面線AA’的剖面圖;
圖9C繪示沿圖9A的剖面線BB’的剖面圖;
圖10繪示本發(fā)明的一種電阻式存儲(chǔ)器的制造步驟流程圖;
圖11A-11B繪示本發(fā)明的電阻式存儲(chǔ)器的制造過程中,另一種第一圖案化掩模的形成流程剖面圖;以及
圖12A-12B繪示本發(fā)明的電阻式存儲(chǔ)器的制造過程中,另一種第二圖案化掩模的形成流程剖面圖。
附圖標(biāo)記說明
5、50:電阻式存儲(chǔ)器?????????????????????10、10a、30、30a:第一圖案化掩模
100、200:基板??????????????????????????20、20a、40、40a:第二圖案化掩模
110、210:第一阻隔材料層????????????????110a:第一阻隔層
115:第一導(dǎo)電材料層?????????????????????115a、215:第一信號(hào)線
120:第一金屬材料層?????????????????????120a、220:第一金屬層
120b:氧化金屬層????????????????????????120c:存儲(chǔ)單元
125、272:存儲(chǔ)結(jié)構(gòu)??????????????????????130:第一介電材料層
130a、230:第一介電層???????????????????140:第二導(dǎo)電材料層
140a、240:第二信號(hào)線???????????????????150、250:第二介電層
260:第三介電層?????????????????????????270:接觸孔
具體實(shí)施方式
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
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