[發(fā)明專利]圓弧直徑檢具及其制造、使用方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810073745.5
• 申請日: 2008-08-12
• 公開（公告）號: CN101650149A
• 公開（公告）日: 2010-02-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 袁福吾;黃恭祝;寧杰;覃洪東
• 申請（專利權(quán)）人: 廣西玉柴機器股份有限公司
• 主分類號: G01B5/08
• 分類號: G01B5/08
• 代理公司: 北京中譽威圣知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 王春光;張相午

1.一種圓弧直徑檢具，其特征在于，包括：標(biāo)準(zhǔn)對表塊、測量組件，所述測量組件包括檢具體和測量儀表，所述標(biāo)準(zhǔn)對表塊設(shè)置圓弧形凹部；所述檢具體放置于所述標(biāo)準(zhǔn)對表塊的圓弧形凹部內(nèi)；所述檢具體中間開豎直通孔；所述測量儀表安裝于所述豎直通孔，所述測量儀表的測量桿穿過所述豎直通孔，與所述標(biāo)準(zhǔn)對表塊圓弧形凹部的弧底相接觸。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圓弧直徑檢具，其特征在于，所述標(biāo)準(zhǔn)對表塊圓弧形凹部的直徑等于被測圓弧的直徑的中值。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2中任一項所述的圓弧直徑檢具，其特征在于，所述檢具體與所述標(biāo)準(zhǔn)對表塊接觸的部分為弧形。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2中任一項所述的圓弧直徑檢具，其特征在于，所述的測量儀表為千分表。

5.一種權(quán)利要求1-4中任一項所述圓弧直徑檢具的制造方法，其特征在于，包括：

所述標(biāo)準(zhǔn)對表塊設(shè)置圓弧形凹部，所述圓弧形凹部直徑等于所述被測圓弧直徑的中值；

由傳遞系數(shù)和所述被測圓弧直徑的中值，確定所述檢具體的長度；

所述檢具體中間開豎直通孔，測量儀表安裝于所述豎直通孔，所述測量儀表的測量桿穿過所述豎直通孔，與所述標(biāo)準(zhǔn)對表塊圓弧形凹部的弧底相接觸。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的圓弧直徑檢具的制造方法，其特征在于，還包括：

根據(jù)所述檢具體的長度和所述被測圓弧直徑的中值，確定所述圓弧直徑檢具的傳遞系數(shù)。

7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的圓弧直徑檢具的制造方法，其特征在于，所述圓弧直徑檢具滿足：k=(1-l24×1h2),]]>(D2)2=(l2)2+(D2-h)2,]]>

其中：

k為所述圓弧直徑檢具的傳遞系數(shù)；

D為所述被測圓弧直徑的中值；

l為所述檢具體的長度；

h為所述檢具體的中點和所述標(biāo)準(zhǔn)對表塊圓弧形凹部弧底的距離。

8.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的圓弧直徑檢具的制造方法，其特征在于，當(dāng)圓弧直徑檢具的傳遞系數(shù)為1時，所述檢具體的長度l＝0.943D，其中：D為所述被測圓弧直徑的中值。

9.一種權(quán)利要求1-4中任一項所述圓弧直徑檢具的使用方法，其特征在于，包括：

所述測量組件置于所述標(biāo)準(zhǔn)對表塊中，所述檢具體的兩端與所述標(biāo)準(zhǔn)對表塊圓弧形凹部接觸，所述測量儀表的測量桿與所述標(biāo)準(zhǔn)對表塊的圓弧形凹部的弧底相接觸，對所述測量儀表進行調(diào)零；

所述測量組件置于所述被測圓弧中，所述檢具體的兩端與所述被測圓弧接觸，所述測量儀表測量所述檢具體的中點與所述被測圓弧弧底的距離；

根據(jù)所述檢具體的中點與所述被測圓弧弧底的距離，通過所述圓弧直徑檢具的傳遞系數(shù)，確定所述被測圓弧直徑變化。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的圓弧直徑檢具的使用方法，其特征在于，所述的被測圓弧直徑變化量與所述檢具體的中點至所述被測圓弧弧底的距離的變化量為線性關(guān)系。