[發明專利]利用圖像分析檢測機插元件的方法及系統

無效

• 申請號: 200810067837.2
• 申請日: 2008-06-13
• 公開（公告）號: CN101308184A
• 公開（公告）日: 2008-11-19
• 發明（設計）人: 胡旭初;劉軍;甄幸文
• 申請（專利權）人: 深圳創維－RGB電子有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;G01R31/00;G06T7/00
• 代理公司: 深圳市康弘知識產權代理有限公司
• 代理人: 胡朝陽;孫潔敏

技術領域

本發明涉及圖像分析檢測技術，尤其是涉及一種利用圖像分析檢測機插元件的方法及系統。?

背景技術

目前，電子制造工業中元器件主要是采用機器自動插件(AI)工藝，而對PCB的裝著元器件的檢查主要有兩種方式：?

一種方法為人工核對，采取元器件清單核對PCB上所有已裝著的元件。這種方式給核對人帶來相當大的工作量，并且在勞動強度大(如一塊PCB裝著幾十或幾百個元器件)情況下，極容易產生漏檢或誤判。?

另一種方法是采取“針床式”測試，其大致原理是先建造一個跟要核對的PCB元器件分布一樣的針床，每個元件的插孔設置一根針，在測試過程中將PCB套在針床上，由于已裝著的元器件引腳已將該位號的板孔填充，所以可以堵塞該位置的針穿過。其最終的判斷依據就是：如果針穿透PCB則表明該元件沒裝著上，以此來檢查該PCB的裝著情況。但是該方法仍然依靠人為的判斷，在實際過程中由于各種因素的干擾，容易產生錯誤。?

因此，如何快速、準確的找出該PCB的元器件插件情況，檢測出諸如元器件多插、漏插、元器件位置偏移等缺陷，成為當前急需解決的技術難題之一。?

發明內容

本發明的目的是提出一種利用圖像分析檢測機插元件的方法及系統，以通過對待檢測電路板的位圖格式圖像分析，準確的檢測并標識待檢測電路板上可能出現的多插、漏插和元件位置偏移等缺陷，以供操作檢驗人員參考。?

為解決本發明的技術問題，本發明公開一種利用圖像分析檢測機插元件的方法，包括步驟：?

采集通過機器自動插裝元件的待檢測電路板的位圖格式圖像P1；?

依次將圖像P1中每個像素點P1(i)的紅綠藍三基色數據轉換為表色數據Y1(i)、Cr1(i)、Cb1(i)和Gray1(i)；?

依次將圖像P1中每個像素點P1(i)的表色數據Y1(i)、Cr1(i)、Cb1(i)和Gray1(i)分別與對應于待檢測電路板的樣本電路板的位圖格式圖像P0中對應像素點P0(i)的表色數據Y0(i)、Cr0(i)、Cb0(i)和Gray0(i)進行對比；?

若像素點P1(i)與像素點P0(i)之間的平均表色數據差值大于預設閾值，則判斷像素點P1(i)與像素點P0(i)存在差異且標識該像素點P1(i)。?

較優的，所述圖像P1和所述圖像P0中每個像素點的紅綠藍三基色數據均用1個二進制字節表示。?

較優的，所述圖像P1和所述圖像P0具有相同的采集環境和相同的分辨率，且均通過攝像頭、視頻頭、掃描儀或照相機所獲取。?

較優的，所述圖像P1包括將待檢測電路板分別以橫向位置和豎向位置獲取的2張位圖格式圖像；而所述圖像P0也對應包括將樣本電路板分別以橫向位置和豎向位置獲取的2張位圖格式圖像。?

另外，本發明還公開一種利用圖像分析檢測機插元件的系統，包括：?

圖像采集單元，用于采集通過機器自動插裝元件的待檢測電路板的位圖格式圖像P1；?

圖像數據轉換單元，用于依次將圖像P1中每個像素點P1(i)的紅綠藍三基色數據轉換為表色數據Y1(i)、Cr1(i)、Cb1(i)和Gray1(i)；?

圖像數據對比單元，用于依次將圖像P1中每個像素點P1(i)的表色數據Y1(i)、Cr1(i)、Cb1(i)和Gray1(i)分別與對應于待檢測電路板的樣本電路板的位圖格式圖像P0中對應像素點P0(i)的表色數據Y0(i)、Cr0(i)、Cb0(i)和Gray0(i)進行對比；?

圖像數據分析單元，用于當像素點P1(i)與像素點P0(i)之間的平均表色數據差值大于預設閾值時，判斷像素點P1(i)與像素點P0(i)存在差異且標識該像素點P1(i)。?

與現有技術相比，本發明具有如下有益效果：?

本發明通過對待檢測電路板的位圖格式圖像分析，能夠準確的檢測并標識待檢測電路板上可能出現的多插、漏插和元件位置偏移等缺陷，為供操作檢驗人員提供了重要參考信息。本發明具有原理簡單和實現簡易的優點，并從效率上大幅度提高對待檢測電路板待核對次數，從勞動強度可減輕核對人員的工作量，保證了電路板插件元件的檢測準確性。?

附圖說明

圖1是本發明一個具體實施例的流程示意圖；?

圖2是本發明一個具體實施例的結構示意圖。?

具體實施方式

如圖1所示，本發明大致采用如下方式來實現：?