[發明專利]利用圖像分析檢測機插元件的方法及系統無效
| 申請號: | 200810067837.2 | 申請日: | 2008-06-13 |
| 公開(公告)號: | CN101308184A | 公開(公告)日: | 2008-11-19 |
| 發明(設計)人: | 胡旭初;劉軍;甄幸文 | 申請(專利權)人: | 深圳創維-RGB電子有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/02 | 分類號: | G01R31/02;G01R31/00;G06T7/00 |
| 代理公司: | 深圳市康弘知識產權代理有限公司 | 代理人: | 胡朝陽;孫潔敏 |
| 地址: | 518000廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 利用 圖像 分析 檢測 元件 方法 系統 | ||
1.一種利用圖像分析檢測機插元件的方法,其特征在于,包括步驟:
采集通過機器自動插裝元件的待檢測電路板的位圖格式圖像P1;
依次將圖像P1中每個像素點P1(i)的紅綠藍三基色數據轉換為色度Y1(i)、飽和度Cr1(i)、純度Cb1(i)和灰度Gray1(i);
依次將圖像P1中每個像素點P1(i)的色度Y1(i)、飽和度Cr1(i)、純度Cb1(i)和灰度Gray1(i)分別與對應于待檢測電路板的樣本電路板的位圖格式圖像P0中對應像素點P0(i)的色度Y0(i)、飽和度Cr0(i)、純度Cb0(i)和灰度Gray0(i)進行對比;
若像素點P1(i)與像素點P0(i)之間的平均色度數據差值ΔY、平均飽和度數據差值ΔCr、平均純度數據差值ΔCb、平均灰度數據差值ΔGray均大于各自的預設閾值,則判斷像素點P1(i)與像素點P0(i)存在差異且標識該像素點P1(i)。
2.根據權利要求1所述的利用圖像分析檢測機插元件的方法,其特征在于,所述圖像P1和所述圖像P0中每個像素點的紅綠藍三基色數據均用1個二進制字節表示。
3.根據權利要求1所述的利用圖像分析檢測機插元件的方法,其特征在于,所述圖像P1和所述圖像P0具有相同的采集環境和相同的分辨率,且均通過攝像頭、視頻頭、掃描儀或照相機所獲取。
4.根據權利要求1所述的利用圖像分析檢測機插元件的方法,其特征在于,所述圖像P1包括將待檢測電路板分別以橫向位置和豎向位置獲取的2張位圖格式圖像;而所述圖像P0也對應包括將樣本電路板分別以橫向位置和豎向位置獲取的2張位圖格式圖像。
5.一種利用圖像分析檢測機插元件的系統,其特征在于,包括:
圖像采集單元,用于采集通過機器自動插裝元件的待檢測電路板的位圖格式圖像P1;
圖像數據轉換單元,用于依次將圖像P1中每個像素點P1(i)的紅綠藍三基色數據轉換為色度Y1(i)、飽和度Cr1(i)、純度Cb1(i)和灰度Gray1(i);
圖像數據對比單元,用于依次將圖像P1中每個像素點P1(i)的色度Y1(i)、飽和度Cr1(i)、純度Cb1(i)和灰度Gray1(i)分別與對應于待檢測電路板的樣本電路板的位圖格式圖像P0中對應像素點P0(i)的色度Y0(i)、飽和度Cr0(i)、純度Cb0(i)和灰度Gray0(i)進行對比;
圖像數據分析單元,用于當像素點P1(i)與像素點P0(i)之間的平均色度數據差值ΔY、平均飽和度數據差值ΔCr、平均純度數據差值ΔCb、平均灰度數據差值ΔGray均大于各自的預設閾值時,判斷像素點P1(i)與像素點P0(i)存在差異且標識該像素點P1(i)。
6.根據權利要求5所述的利用圖像分析檢測機插元件的系統,其特征在于,所述圖像P1和所述圖像P0中每個像素點的紅綠藍三基色數據均用1個二進制字節表示。
7.根據權利要求5所述的利用圖像分析檢測機插元件的系統,其特征在于,所述圖像P1和所述圖像P0具有相同的采集環境和相同的分辨率;且所述圖像采集單元為攝像頭、視頻頭、掃描儀或照相機。
8.根據權利要求5所述的利用圖像分析檢測機插元件的系統,其特征在于,所述圖像P1包括將待檢測電路板分別以橫向位置和豎向位置獲取的2張位圖格式圖像;而所述圖像P0也對應包括將樣本電路板分別以橫向位置和豎向位置獲取的2張位圖格式圖像。
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