[發明專利]一種數控機床、光柵尺系統及光柵尺固定方法

有效

• 申請號: 200810067390.9
• 申請日: 2008-05-27
• 公開（公告）號: CN101288937A
• 公開（公告）日: 2008-10-22
• 發明（設計）人: 彭信翰;湯海林
• 申請（專利權）人: 深圳市木森科技有限公司
• 主分類號: B23Q1/01
• 分類號: B23Q1/01;B23Q1/25;B23Q17/00;B23Q17/24;B24B19/00
• 代理公司: 廣州三環專利代理有限公司
• 代理人: 郝傳鑫;潘中毅

技術領域

本發明涉及機床領域，尤其涉及一種數控機床、光柵尺系統及光柵尺固定方法。?

背景技術

現代社會數控加工已經廣泛運用在機械加工領域中，數控加工的加工精度是判斷一個國家的制作水平的重要標志。在數控機床的設計中，怎樣提高機床的加工精度是需要考慮的最主要因素。?

現有的數控機床包括機架、加工裝置、工作平臺以及帶動工作平臺在水平面上直線移動的移動裝置。數控機床在加工工件時，將工件固定在工作平臺上，加工裝置對工件進行加工。移動裝置控制工作平臺直線移動，使加工裝置可以加工到工件同一平面的不同部位。移動裝置移動時，需要精確移動的距離，以確保對工件加工的精度。?

因此，為了確保加工的精度，移動裝置利用光柵尺來測量工作平臺的移動距離。光柵尺上均勻地刻有透光和不透光的線條，光柵尺讀頭讀取時，獲取光信號并將光信號轉成電信號，放大處理后在顯示器上就顯示出工件或刀具的移動距離。工業應用中，一般都是將光柵尺裝設在光柵尺基座上，光柵尺讀頭對應光柵尺的位置，讀取位移數據。光柵尺讀頭移動的軌跡與光柵尺基座之間的平行度，對于讀取的數據有直接的影響，從而最終影響加工的精度。?

現有技術將光柵尺貼附于金屬材料上，金屬材料經過研磨加工表面使金屬表面的平整度能夠達到精度要求。但是，由于金屬材料在溫度或濕度或應力的影響下，易發生氧化變形，使其表面的平整度產生變化，從而使光柵尺的平整度發生變化，影響加工精度。?

還有將光柵尺貼附與玻璃上，玻璃的脆性高易碎，不易加工。在機構運用時大多采用板狀結構的形狀，所以必須再附于其他的塊狀結構上；若直接運用塊狀結構方式，則其材料及加工成本高昂。?

發明內容

本發明實施例提供了一種數控機床、光柵尺系統及光柵尺固定方法，以減少溫度、濕度、外界應力等環境變化以及使用時間對光柵尺基座的影響，提高數控機床的加工精度。?

為了解決上述技術問題，本發明的實施例提供了一種數控機床，包括：?

機架，安裝在所述機架上的加工裝置，所加工裝置下方設有工作平臺，所述工作平臺利用移動裝置在水平面上做直線移動，所述工作平臺裝設在移動裝置上，并利用所述移動裝置在水平面上做直線移動；所述移動裝置包括導軌和與所述導軌平行設置的光柵尺系統；所述光柵尺系統包括光柵尺，光柵尺讀頭和光柵尺基座，所述光柵尺讀頭對應所述光柵尺的位置設置，沿與所述光柵尺平行的直線移動并讀取所述光柵尺上的刻度，所述光柵尺基座側面設有一凹槽，所述光柵尺裝設在所述凹槽內，所述光柵尺基座為高剛性低變形量石質材料。?

相應的本發明的實施例提供了一種光柵尺系統，包括：?

包括光柵尺和光柵尺讀頭，所述光柵尺讀頭對應所述光柵尺的位置設置，沿與所述光柵尺平行的直線移動并讀取光柵尺上的刻度，所述光柵尺裝設在光柵尺基座上，所述光柵尺基座側面設有一凹槽，所述光柵尺裝設在所述凹槽內所述光柵尺基座為高剛性低變形量石質材料。?

本發明的實施例還提供了一種光柵尺固定方法，其包括如下步驟：?

提供高剛性低變形量石質材料的光柵尺基座；?

將光柵尺安裝在光柵尺基座上；?

將光柵尺讀頭對應所述光柵尺的位置設置，所述光柵尺讀頭沿與所述光柵尺平行的直線移動并讀取光柵尺上的刻度；?

由于光柵尺基座采用了高剛性低變形量石質材料，減少了溫度、濕度、外界應力等環境變化以及使用時間對光柵尺基座的影響，進而保證了裝設在光柵尺基座上的光柵尺不易變形，從而提高了數控機床的加工精度。?

附圖說明

圖1是本發明實施例數控機床的立體結構示意圖；?

圖2是本發明一個實施例光柵尺系統的立體結構示意圖；?

圖3是本發明另一個實施例光柵尺系統的局部結構示意圖；?

圖4是本發明實施例光柵尺系統中光柵尺讀頭讀取光柵尺的原理圖。?

具體實施方式

下面參考附圖對本發明的優選實施例進行描述。在所參照的附圖中，不同的圖中相同或相似的部件使用相同的附圖標號來表示。?

參見圖1、圖2，圖1為本發明實施例數控機床的立體結構示意圖，圖2為本發明一個實施例光柵尺系統的立體結構示意圖。本發明實施例的數控機床，包括：?