[發(fā)明專利]一種數(shù)控機(jī)床、光柵尺系統(tǒng)及光柵尺固定方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200810067390.9
• 申請(qǐng)日: 2008-05-27
• 公開（公告）號(hào): CN101288937A
• 公開（公告）日: 2008-10-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 彭信翰;湯海林
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市木森科技有限公司
• 主分類號(hào): B23Q1/01
• 分類號(hào): B23Q1/01;B23Q1/25;B23Q17/00;B23Q17/24;B24B19/00
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利代理有限公司
• 代理人: 郝傳鑫;潘中毅

1.一種數(shù)控機(jī)床，其特征在于，包括機(jī)架，安裝在所述機(jī)架上的加工裝置所述加工裝置下方設(shè)有工作平臺(tái)，所述工作平臺(tái)裝設(shè)在移動(dòng)裝置上，并利用所述移動(dòng)裝置在水平面上做直線移動(dòng)；所述移動(dòng)裝置包括導(dǎo)軌和與所述導(dǎo)軌平行設(shè)置的光柵尺系統(tǒng)；所述光柵尺系統(tǒng)包括光柵尺，光柵尺讀頭和光柵尺基座，所述光柵尺讀頭對(duì)應(yīng)所述光柵尺的位置設(shè)置，沿與所述光柵尺平行的直線移動(dòng)并讀取所述光柵尺上的刻度，所述光柵尺基座側(cè)面設(shè)有一凹槽，所述光柵尺裝設(shè)在所述凹槽內(nèi)，所述光柵尺基座為高剛性低變形量石質(zhì)材料。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)控機(jī)床，其特征在于，所述高剛性低變形量石質(zhì)材料為花崗巖。

3.一種光柵尺系統(tǒng)，其特征在于，包括光柵尺和光柵尺讀頭，所述光柵尺讀頭對(duì)應(yīng)所述光柵尺的位置設(shè)置，沿與所述光柵尺平行的直線移動(dòng)并讀取光柵尺上的刻度，光柵尺基座側(cè)面設(shè)有一凹槽，所述光柵尺裝設(shè)在所述凹槽內(nèi)，所述光柵尺基座為高剛性低變形量石質(zhì)材料。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光柵尺系統(tǒng)，其特征在于，所述高剛性低變形量石質(zhì)材料為花崗巖。

5.一種光柵尺基座的制造方法，其包括如下步驟：

探測(cè)高剛性低變形量石質(zhì)原材料表面及內(nèi)部有無裂縫；

選定無裂縫的原材料后，使用鋸床將原材料鋸成矩形長(zhǎng)條；

利用龍門刨床，將所述矩形長(zhǎng)條切削成比所需尺寸稍大的矩形長(zhǎng)條初胚；

利用磨床在所述矩形長(zhǎng)條初胚上研磨，使所述光柵尺基座的尺寸誤差為0.01-0.1mm；

將所述光柵尺基座表面清洗除塵；

保持室溫20±2℃下，搭配電子水平儀檢查，利用手工研磨使所述光柵尺基座的尺寸誤差為0.002-0.010mm；?

利用激光干涉儀檢測(cè)，確認(rèn)誤差在所述0.002-0.010mm內(nèi)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光柵尺基座的制造方法，其特征在于，所述高剛性低變形量石質(zhì)材料為花崗巖。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光柵尺基座的制造方法，其特征在于，所述光柵尺基座側(cè)面開有一凹槽。?