[發明專利]一種電路板的測試系統及方法

無效

• 申請號: 200810065069.7
• 申請日: 2008-01-16
• 公開（公告）號: CN101226224A
• 公開（公告）日: 2008-07-23
• 發明（設計）人: 盧毅;徐海輪;吳斌;陸開懷
• 申請（專利權）人: 深圳國人通信有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/02;G01R31/3177
• 代理公司: 深圳創友專利商標代理有限公司
• 代理人: 薛祥輝

1.一種電路板的測試系統，其特征在于，包括測試夾具、測試電路板和顯示終端，所述測試夾具用于固定待測電路板，且具有與所述待測電路板的測試項中的各測試點相接的測試針，所述測試電路板上設有微控制器，所述微控制器用于控制測試電路板提供測試信號經所述測試夾具上的測試針到待測電路板，獲取返回的測試數據并分析出測試結果，提供到所述顯示終端進行顯示。

2.如權利要求1所述的測試系統，其特征在于，所述待測電路板的測試項包括待測電路板的接口測試，所述接口測試包括配對接口測試和非配對接口測試，所述配對接口測試中的配對接口通過將待測電路板上的雙向輸入/輸出口進行配對，由所述待測電路板上設置的繼電器進行連接形成；所述非配對接口測試為自環測試。

3.如權利要求2所述的測試系統，其特征在于，在所述配對接口測試中，所述繼電器為雙擲繼電器，用于將一個雙向輸入/輸出口與另兩個雙向輸入/輸出口進行可切換的配對連接。

4.如權利要求1至3任一所述的測試系統，其特征在于，所述待測電路板的測試項還包括待測電路板的芯片測試，所述芯片測試包括可編程芯片測試和不可編程芯片測試。

5.如權利要求1至3任一所述的測試系統，其特征在于，所述待測電路板的測試項還包括待測電路板的外圍電路測試。

6.一種電路板的測試方法，其特征在于，包括如下步驟：

A、測試夾具固定待測電路板，選擇一個測試項，將所述測試夾具上與該測試項對應的測試針與待測電路板的該測試項中的各測試點相接；

B、微控制器通過測試電路板經所述測試夾具上的測試針發送測試信號到待測電路板；

C、微控制器獲取返回的測試數據，根據所述測試數據分析出測試結果，提供到顯示終端進行顯示；

D、重新選擇一個測試項進行測試直到測試結束。

7.如權利要求6所述的測試方法，其特征在于，所述測試項包括接口測試、芯片測試和外圍電路測試。

8.如權利要求7所述的測試方法，其特征在于，所述接口測試包括配對接口測試和非配對接口測試，

當進行所述配對接口測試時，所述待測電路板上設有繼電器；所述步驟B具體為：

B1、微控制器控制所述繼電器配對連接待測電路板上的雙向輸入/輸出口，構成待測試的配對接口；

B2、微控制器通過測試電路板經所述測試夾具上的測試針發送接口測試信號到待測電路板；

當進行所述配對接口測試時，所述非配對接口測試采用自環測試。

9.如權利要求8所述的測試方法，其特征在于，當進行所述配對接口測試時，所述繼電器為雙擲繼電器，所述步驟B2后還包括如下步驟：切換所述雙擲繼電器，進行重配對，返回步驟B2。