[發(fā)明專利]測試液晶面板光學(xué)特性的陣列基板電路及其實現(xiàn)方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810057957.4 | 申請日: | 2008-02-21 |
| 公開(公告)號: | CN101515074A | 公開(公告)日: | 2009-08-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 吳昊 | 申請(專利權(quán))人: | 北京京東方光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13;G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京匯澤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 張穎玲;王黎延 |
| 地址: | 100176北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測試 液晶面板 光學(xué) 特性 陣列 電路 及其 實現(xiàn) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及液晶顯示器,特別涉及用于測試薄膜晶體管液晶面板光學(xué)特性的陣列基板電路及其實現(xiàn)方法。
背景技術(shù)
目前,在薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)的液晶產(chǎn)品研發(fā)過程中,需要在“成盒(panel)階段”,即TFT基板與彩膜(Color?Filter)結(jié)合以后,安裝控制電路印刷電路板(PCB)和背光源等外部組件之前的這個階段,對液晶面板進行初步的光學(xué)特性測試和分析,根據(jù)得出的各項參數(shù)對前期的基板和彩膜的設(shè)計及工藝進行相關(guān)分析。此時成盒階段的液晶面板還沒有加入周邊電路、控制電路PCB以及背光源部分,因此需要先將外部電學(xué)信號引入到面板中,驅(qū)動液晶面板進行顯示,然后才能利用相關(guān)設(shè)備實現(xiàn)對其進行基本的光學(xué)測試。
如圖1所示,為現(xiàn)有陣列(Array)基板及綁定區(qū)域(Pad)結(jié)構(gòu)及光學(xué)測試方法示意圖。在液晶面板上部邊緣,數(shù)據(jù)線引線是分批排布的,每一組稱作一個Pad,例如某個尺寸的面板共有1000條數(shù)據(jù)線引線,則其分布可以如圖1所示,共有四個數(shù)據(jù)線引線綁定區(qū)域2,每個數(shù)據(jù)線引線綁定區(qū)域2有250條數(shù)據(jù)線引線。柵線引線也可分成兩個柵線引線綁定區(qū)域3。實際上,圖1中TFT-LCD基板1以外的部分,包括PCB?4,在成盒階段是不存在的,僅為便于理解而將其畫出。
假設(shè)對TFT-LCD基板1的顯示區(qū)域5的區(qū)域C進行光學(xué)測試時,因為沒有PCB?4的存在,只能借由接觸導(dǎo)電的方式通過外圍區(qū)域6的數(shù)據(jù)線引線和柵線引線對顯示區(qū)域5內(nèi)的數(shù)據(jù)線和柵線施加電壓,也即需在區(qū)域A、B兩處的陰影區(qū)都涂滿導(dǎo)電介質(zhì),通過導(dǎo)電介質(zhì)將測試點與設(shè)備探針連接起來。但是,?若有一根線未涂上導(dǎo)電介質(zhì)就會導(dǎo)致測試區(qū)域出現(xiàn)亮線或其它不良現(xiàn)象,從而導(dǎo)致整個測試工作的徹底失敗。并且,由于操作誤差的存在,導(dǎo)電介質(zhì)涂敷的均勻程度是無法保證的,而測試信號往往先施加在涂敷區(qū)域的一點上,再從這點傳輸?shù)秸麄€區(qū)域,這就對測試結(jié)果的精確性產(chǎn)生了很大影響,涂敷導(dǎo)電介質(zhì)的區(qū)域越大,影響就越大。
另外,涂敷導(dǎo)電介質(zhì)這一準備工作不僅耗時長,而且對操作細節(jié)要求較高,由于液晶面板上的電路分布密度較高,在綁定區(qū)域的兩側(cè)就是公共電極(COM),因此涂敷區(qū)域過大就有可能使其它線路與目標(biāo)電路發(fā)生短路。而且,這種導(dǎo)電介質(zhì)如銀膠都需要一定的時間來凝結(jié),從開始的液態(tài)轉(zhuǎn)化為固態(tài),從而發(fā)揮導(dǎo)電媒介的作用,因此如果在銀膠凝結(jié)后才發(fā)現(xiàn)信號輸入不正確,則需要將其去除,再進行重復(fù)操作,增加工作量的同時又大大降低測試效率。還有,通常導(dǎo)電介質(zhì)的主要成分是貴重金屬,涂敷區(qū)域面積較大會導(dǎo)致產(chǎn)品開發(fā)成本的大幅上升。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明的主要目的在于提供一種用于測試液晶面板光學(xué)特性的陣列基板電路及其實現(xiàn)方法,以提高液晶面板的光學(xué)測試效率,降低相關(guān)測試成本,并提高相關(guān)測試設(shè)備的使用效率和測試工作的可操作性及可靠性。
為達到上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的:
一種測試液晶面板光學(xué)特性的陣列基板電路,該陣列基板電路包括柵線引線主線和數(shù)據(jù)線引線主線,該陣列基板電路還包括:與柵極引線主線一一對應(yīng)電連接的柵極引線支線,柵線引線支線的一端延伸形成有涂敷導(dǎo)電介質(zhì)用的密集區(qū)域;以及,與數(shù)據(jù)線引線主線一一對應(yīng)電連接的數(shù)據(jù)線引線支線,數(shù)據(jù)線引線支線的一端延伸形成有涂敷導(dǎo)電介質(zhì)用的密集區(qū)域。
其中,數(shù)據(jù)線引線支線設(shè)置于柵金屬層,并與其對應(yīng)的數(shù)據(jù)線引線主線呈不同方向排布,各數(shù)據(jù)線引線主線及數(shù)據(jù)線引線支線處留有過孔,數(shù)據(jù)線引線主線和數(shù)據(jù)線引線支線通過涂敷在所述數(shù)據(jù)線引線主線和數(shù)據(jù)線引線支線的過孔處的透明導(dǎo)電涂層實現(xiàn)所述的電連接;
柵線引線支線設(shè)置于源漏電極金屬層,并與其相對應(yīng)的柵線引線主線呈不?同方向排布,各柵線引線主線與柵線引線支線處留有過孔,柵線引線主線和柵線引線支線通過涂敷在所述柵線引線主線和柵線引線支線的過孔處的透明導(dǎo)電涂層實現(xiàn)所述的電連接。
優(yōu)選地,數(shù)據(jù)線引線主線分批排布成多個數(shù)據(jù)線引線綁定區(qū)域,同一數(shù)據(jù)線引線綁定區(qū)域內(nèi)所有數(shù)據(jù)線引線主線對應(yīng)的所有數(shù)據(jù)線引線支線的一端延伸形成有涂敷導(dǎo)電介質(zhì)用的密集區(qū)域;
柵線引線主線分批排布成多個柵線引線綁定區(qū)域,同一柵線引線綁定區(qū)域內(nèi)所有柵線引線主線對應(yīng)的所有柵線引線支線的一端延伸形成有涂敷導(dǎo)電介質(zhì)用的密集區(qū)域。
優(yōu)選地,數(shù)據(jù)線引線支線延伸形成的密集區(qū)域的形狀為圓形;柵線引線支線延伸形成的密集區(qū)域的形狀為圓形。
優(yōu)選地,數(shù)據(jù)線引線主線和數(shù)據(jù)線引線支線呈互相垂直的方向排布,柵線引線主線和柵線引線支線呈互相垂直的方向排布。
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G02F 用于控制光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來自獨立光源的光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對強度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的





