[發明專利]用于厚壁材料射線照相檢測的工業射線膠片

無效

• 申請號: 200810052137.6
• 申請日: 2008-01-22
• 公開（公告）號: CN101221352A
• 公開（公告）日: 2008-07-16
• 發明（設計）人: 劉書強;張邦彥
• 申請（專利權）人: 天津美迪亞影像材料有限公司
• 主分類號: G03C1/91
• 分類號: G03C1/91;G03C1/76
• 代理公司: 天津市三利專利商標代理有限公司
• 代理人: 閆俊芬

技術領域

本發明涉及工業射線膠片領域，更具體地說，是涉及一種用于檢測焊縫，鑄件和裝配工件內部和淺表面缺陷的工業射線膠片。

背景技術

無損檢測射線照相用工業射線膠片，具有直觀、可測量、不可更改、檔案保存特性，目前國產工業射線膠片的檢測材料壁厚范約在30mm，但是，探傷設備的技術不斷進步，越來越多的高能射線源、直線加速器等先進設備，從科研單位、研究院所進入普通企業用戶。

射線能量的增加，盡管檢測材料壁厚范圍可以擴大，但是，帶來的無損檢測射線照相技術的負面結果是，射線影像的空間解像力大幅度下降，導致膠片影像的惡化，從而降低射線檢測的可靠性。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是，克服現有技術中存在的不足，提供一種用于厚壁材料檢測射線照相的工業射線膠片。

本發明用于厚壁材料射線照相檢測的工業射線膠片，通過下述技術方案予以實現，所述膠片雙面依次設置鹵化銀涂層和護膜涂層；所述鹵化銀涂層由[111]晶面的鹵化銀微晶體和具有活性亞甲基或羰基α位具有取代基的丙烯酸共聚物型代明膠組成；所述護膜涂層由雙乙烯砜類有機堅膜劑和具有活性亞甲基或羰基α位具有取代基的丙烯酸酯類護膜保護助劑。

本發明所述鹵化銀涂層中[111]晶面的鹵化銀微晶體(以Ag重量計)與明膠重量比例為：0.5-1.5∶1，具有活性亞甲基或羰基α位具有取代基的丙烯酸類共聚物型代明膠占明膠重量比例為0.1-0.5％。

本發明所述護膜涂層中含有雙乙烯砜類有機堅膜占明膠重量比例為：0.001-0.01％；具有活性亞甲基或羰基α位具有取代基的丙烯酸酯類共聚物護膜保護助劑占明膠重量比例為：0.1-0.5％。

本發明膠片檢測材料壁厚范圍，從約30mm擴大至55mm以上。可廣泛應用于電力機械制造、化工機械制造、航空發動機制造等行業，提高射線照相檢測在厚壁材料的檢測靈敏度。本發明具有直觀、可測量、不可更改、檔案永久保存特性，用于檢測焊縫、鑄件和裝配工件內部和淺表面缺陷。

本發明鹵化銀涂層的[111]晶面的鹵化銀微晶體和具有活性亞甲基或羰基α位具有取代基的丙烯酸共聚物型代明膠組成的鹵化銀微晶體-明膠體系致密，增強了鹵化銀晶體還原銀的遮蓋能力，提高膠片的對比度和檢測靈敏度。

本發明采用復合型膠片護膜層，降低高能射線輻射對膠片鹵化銀涂層的破壞；雙乙烯砜類有機堅膜劑和具有活性亞甲基或羰基α位具有取代基的丙烯酸酯類護膜保護助劑，增強膠片抗強輻射和抗劃傷、抗粘連能力。

具體實施方式

下面對本發明做進一步描述。

本發明膠片雙面依次設置鹵化銀涂層和護膜涂層；所述鹵化銀涂層包括[111]晶面的鹵化銀微晶體和具有活性亞甲基或羰基α位具有取代基的丙烯酸共聚物型代明膠；所述護膜涂層包括雙乙烯砜類有機堅膜劑和具有活性亞甲基或羰基α位具有取代基的丙烯酸酯類護膜保護助劑。

鹵化銀涂層中[111]晶面的鹵化銀微晶體(以Ag重量計)與明膠重量比例范圍：0.5-1.5∶1，共聚物型代明膠占明膠重量比例為0.1-0.5％。代明膠可以選擇具有活性亞甲基或羰基α位具有取代基的丙烯酸共聚物。

護膜涂層中有機堅膜占明膠重量比例為0.001-0.01％；護膜保護助劑占明膠重量比例為0.1-05％。有機堅膜可以選擇雙乙烯砜類有機堅膜劑。護膜保護助劑可以選擇具有活性亞甲基或羰基α位具有取代基的丙烯酸酯類共聚物。

本發明鹵化銀微晶體制備過程中，在近核區和次表層區引入貴金屬離子和有機酸根離子導入電子對空穴，提高微晶體捕獲電子對能力；對于貴金屬增感劑更具活性且[111]晶面的鹵化銀微晶體，提高鹵化銀微晶體射線感光度。

本發明可廣泛應用于電力機械制造、化工機械制造、航空發動機制造等行業，提高射線照相檢測在厚壁材料的檢測靈敏度。

上面所述的實施例僅僅是對本發明優選實施方式進行描述，并非對本發明的構思和范圍進行限定，在不脫離本發明設計思想的前提下，本領域中普通工程技術人員對本發明的技術方案作出的各種變形和改進，均應屬于本發明的保護范圍。