[發明專利]用于厚壁材料射線照相檢測的工業射線膠片

無效

• 申請號: 200810052137.6
• 申請日: 2008-01-22
• 公開（公告）號: CN101221352A
• 公開（公告）日: 2008-07-16
• 發明（設計）人: 劉書強;張邦彥
• 申請（專利權）人: 天津美迪亞影像材料有限公司
• 主分類號: G03C1/91
• 分類號: G03C1/91;G03C1/76
• 代理公司: 天津市三利專利商標代理有限公司
• 代理人: 閆俊芬

1.一種用于厚壁材料射線照相檢測的工業射線膠片，其特征是，所述膠片雙面依次設置鹵化銀涂層和護膜涂層；所述鹵化銀涂層含有[111]晶面的鹵化銀微晶體和具有活性亞甲基或羰基α位具有取代基的丙烯酸類共聚物型代明膠；所述護膜涂層含有雙乙烯砜類有機堅膜劑和具有活性亞甲基或羰基α位具有取代基的丙烯酸酯類共聚物護膜保護助劑。

2.根據權利要求1所述的用于厚壁材料射線照相檢測的工業射線膠片，其特征是，所述鹵化銀涂層中[111]晶面的鹵化銀微晶體(以Ag重量計)與明膠重量比例為：0.5-1.5∶1，具有活性亞甲基或羰基α位具有取代基的丙烯酸類共聚物型代明膠占明膠重量比例為0.1-0.5％。

3.根據權利要求1所述的用于厚壁材料射線照相檢測的工業射線膠片，其特征是，所述護膜涂層中含有雙乙烯砜類有機堅膜占明膠重量比例為：0.001-0.01％；具有活性亞甲基或羰基α位具有取代基的丙烯酸酯類共聚物護膜保護助劑占明膠重量比例為：0.1-0.5％。