[發明專利]平面顯示器面板壞點檢測方法及檢測機臺

無效

• 申請號: 200810043575.6
• 申請日: 2008-07-01
• 公開（公告）號: CN101620815A
• 公開（公告）日: 2010-01-06
• 發明（設計）人: 陶堅強;游仁杰;楊龍潭;黃柏嶂
• 申請（專利權）人: 中茂電子（深圳）有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G01R31/00
• 代理公司: 上海浦一知識產權代理有限公司
• 代理人: 丁紀鐵

技術領域

本發明涉及一種平面顯示器面板壞點檢測方法；此外，本發明還涉及一種 平面顯示器面板壞點檢測機臺。

背景技術

平面顯示器具有低耗能、節省設置空間等特性，以席卷姿態快速汰換傳統 顯示器；因技術架構不同，除顯示器基本元素外，平面顯示器因應用材料與制 程因素，可能產生傳統顯示器不會發生的微小瑕疵，如可能為亮點或暗點的壞 點。

亮點定義為，當平面顯示器接受致能，且并無顯示訊號而應顯示為全黑時、 自行發亮的點；暗點則恰恰相反，當已經施加顯示訊號而仍無法被點亮、顯示 正確信息的點；因此，目前常見的分級方式是將顯示平面分為九宮格，分別限 制正中間區域及周邊區域的壞點數目，從而界定產品價格，故壞點檢測乃成為 平面顯示器品管與驗收良率要素之一，而檢出壞點所在正確位置，進而進行雷 射修補，也成為各競爭同業提升收益的重要法門。

如圖1所示，平面顯示器面板1具有復數行電極11及復數垂直行電極11 的列電極12，且對應相同顯示色彩的行電極11中，至少部分被電氣連結至一 個行共同接點13，使得復數行電極11被復數行共同接點13所致能。尤其當面 板尺寸僅17、19、21英寸時，同色的行電極11在測試階段會被全數聯通至單 一共同接點處，因此整片面板將僅有紅、綠、藍三個共同接點。

同樣地，復數列電極12被電氣連接至至少一個列共同接點14，依照目前 顯示器采用的交錯顯示，各列電極將被依照奇數與偶數，而在測試時分別連接 至一個奇數共同接點與一個偶數共同接點。每一行電極11與列電極12對應處， 就此形成有一個顯示次晶胞XcnYn，其中X、Y分別代表軸向坐標，c代表色別， n則為流水號；圖1以像素數目為1024×768的面板1為例，因X軸向的每一 顯示晶胞是由三個分別為r(red紅)、g(green綠)與b(blue藍)依序排列的次 晶胞循環所組成，故于面板1的四個角落的顯示次晶包分別為左上角：Xr₁Y₁、 右上角：Xb₁₀₂₄Y₁、左下角Xr₁Y₇₆₈與右下角：Xb₁₀₂₄Y₇₆₈。亦即，面板1具有 (1024×3)×768＝2,359,296個顯示次晶包。

如圖2-3所示，中國臺灣第I277792發明專利揭露了一種壞點檢測儀與檢 測之方法，檢測儀2具有基座22、傳動定位裝置23、影像擷取裝置24、控制 裝置25及輔助用光源26；檢測方法則需先于步驟202將面板與影像擷取裝置 24與基座22間精準定位，隨后依照步驟204至210逐步以精密的光學尺讀出 影像擷取裝置24的位移量，從而判定壞點位置。

由于傳動定位裝置23結構的核心即為精密的移動軸與光學尺，兩者造價 均不斐，動輒需臺幣數拾萬元，甚至隨精度要求而更上層樓，不僅直接增加機 臺建構成本，一旦需維修保養，調校的成本亦相對偏高；此外，對大小尺寸相 異的面板而言，移動軸與光學尺的規格都需要隨之調整，使得制造檢測儀器的 廠商必須因應不同尺寸面板的檢驗需求而準備不同的料件，更因該等料件的價 格高昂而平添制造者困擾。

發明內容

針對現有技術的上述不足，本發明所要解決的技術問題在于提供一種利用 特定圖案信號源、無需應用光學尺等精密度量裝置即可正確定位，從而大幅降 低制造成本，且無須考慮被檢測產品的尺寸，具備使用彈性的面顯示器面板壞 點檢測方法。

本發明所要解決的另一技術問題在于提供一種能有效實施上述檢測方法 的檢測機臺。

為了解決本發明的技術問題，本發明提出的平面顯示器面板壞點檢測方 法，該面板具有復數行電極及復數垂直該等行電極的列電極，各相鄰行分別對 應相異顯示色彩，且該等對應相同顯示色彩的行電極中，至少部分被電氣連結 至一個行共同接點，使得該等行電極被復數行共同接點所致能，該等列電極被 電氣連接至至少一個列共同接點，使得每一行電極與列電極對應處形成一個顯 示次晶胞，該等顯示次晶胞包含至少一個壞點，該檢測方法包含下列步驟：

a)自該等行、列共同接點輸入一個對應該壞點的預定圖案數據，致能該面 板的部份該等顯示次晶胞；

b)將一組影像擷取模塊自一個使其影像擷取范圍包含該面板的一個角落 的啟始位置，移動至使其影像擷取范圍包含該壞點的檢測位置；