[發(fā)明專利]平面顯示器面板壞點檢測方法及檢測機臺無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810043575.6 | 申請日: | 2008-07-01 |
| 公開(公告)號: | CN101620815A | 公開(公告)日: | 2010-01-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陶堅強;游仁杰;楊龍?zhí)?/a>;黃柏嶂 | 申請(專利權(quán))人: | 中茂電子(深圳)有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00;G01R31/00 |
| 代理公司: | 上海浦一知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 丁紀鐵 |
| 地址: | 518054廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 平面 顯示器 面板 檢測 方法 機臺 | ||
1.一種平面顯示器面板壞點檢測方法,該面板具有復(fù)數(shù)行電極及復(fù)數(shù)垂直 該等行電極的列電極,各相鄰行分別對應(yīng)相異顯示色彩,且該等對應(yīng)相同顯示 色彩的行電極中,至少部分被電氣連結(jié)至一個行共同接點,使得該等行電極被 復(fù)數(shù)行共同接點所致能,該等列電極被電氣連接至至少一個列共同接點,使得 每一行電極與列電極對應(yīng)處形成一個顯示次晶胞,該等顯示次晶胞包含至少一 個壞點,該檢測方法包含下列步驟:
a)自該等行、列共同接點輸入一個對應(yīng)該壞點的預(yù)定圖案數(shù)據(jù),致能該面 板的部份該等顯示次晶胞;
b)將一組影像擷取模塊自一個使其影像擷取范圍包含該面板的一個角落 的啟始位置,移動至使其影像擷取范圍包含該壞點的檢測位置;
c)計算影像擷取模塊所獲得的影像數(shù)據(jù),獲得壞點相對于啟始位置角落的 相對位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面顯示器面板壞點檢測方法,其特征是,該等 列電極被區(qū)分為奇數(shù)列組與偶數(shù)列組,分別被電氣連接至一個奇數(shù)列共同接點 及一個偶數(shù)列共同接點,當壞點為暗/亮點,則在步驟a)中,輸入的預(yù)定圖案 使得壞點所屬的該等奇/偶數(shù)列組發(fā)光/不發(fā)光,另一偶/奇數(shù)列組不發(fā)光/發(fā) 光,藉此,在步驟c)中計算壞點所在列數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面顯示器面板壞點檢測方法,其特征是,該等 行電極被區(qū)分為紅、綠、藍三組,并分別被電氣連接至一個紅、綠、藍行共同 接點,當壞點為暗/亮點,則在步驟a)中,輸入的預(yù)定圖案使得壞點所屬的色 彩的該等組行發(fā)光/不發(fā)光,另二組色彩中至少一組不發(fā)光/發(fā)光,藉此,在步 驟c)中計算壞點所在行數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的平面顯示器面板壞點檢測方法,其特征 是,在步驟a)前具有預(yù)先獲得該面板壞點數(shù)目的步驟d);在計算相對位置步驟 c)后具有:判斷該等壞點相對位置是否已經(jīng)全部計算完成,并于該等壞點尚未 計算完成時,繼續(xù)步驟a)至c)的步驟e)。
5.一種平面顯示器面板壞點檢測機臺,該面板具有復(fù)數(shù)行電極及復(fù)數(shù)垂直 該等行電極的列電極,各相鄰行分別對應(yīng)相異顯示色彩,且該等對應(yīng)相同顯示 色彩的行電極中,至少部分被電氣連結(jié)至一個行共同接點,使得該等行電極被 復(fù)數(shù)行共同接點所致能,該等列電極被電氣連接至至少一個列共同接點,使得 每一行電極與列電極對應(yīng)處形成一個顯示次晶胞,該等顯示次晶胞包含至少一 個壞點,該檢測機臺包含:
一組供面板設(shè)置的基座;
一組電氣連接該等行、列共同接點,供輸入一個對應(yīng)壞點的預(yù)定圖案數(shù)據(jù) 至面板各次晶胞的圖案輸入裝置;
一組可相對基座移動、供擷取面板影像數(shù)據(jù)的影像數(shù)據(jù)擷取裝置;
一組選擇圖案輸入裝置輸入預(yù)定圖案數(shù)據(jù),驅(qū)動影像數(shù)據(jù)擷取裝置由一個 使其影像擷取范圍包含面板的一個角落的啟始位置,移動至一個使其影像擷取 范圍包含壞點的檢測位置,接收來自影像數(shù)據(jù)擷取裝置的影像數(shù)據(jù),計算獲得 壞點相對于面板啟始位置角落的相對位置的處理裝置。
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