[發明專利]旋轉密封裝置中密封環運動狀態的測試方法無效
| 申請號: | 200810041249.1 | 申請日: | 2008-07-31 |
| 公開(公告)號: | CN101329160A | 公開(公告)日: | 2008-12-24 |
| 發明(設計)人: | 姜超 | 申請(專利權)人: | 上海汽車集團股份有限公司 |
| 主分類號: | G01B7/14 | 分類號: | G01B7/14 |
| 代理公司: | 上海光華專利事務所 | 代理人: | 雷紹寧 |
| 地址: | 201203上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 旋轉 密封 裝置 運動 狀態 測試 方法 | ||
1.一種旋轉密封裝置中密封環運動狀態的測試方法,所述旋轉密封裝置包括靜止部件、旋轉部件和密封環,所述密封環位于靜止部件和旋轉部件之間,密封環的圓周上設有一個活動接頭,測試方法包括以下步驟:
a)在靜止部件上固定一個距離探測器,對準密封環的圓周;
b)使旋轉部件以一定的速度旋轉,用距離探測器連續探測其與密封環的圓周之間的距離;
c)如果該距離保持不變,則密封環處于靜止狀態;如果該距離中有一最大值周期性出現,則密封環處于轉動狀態,且該距離最大值的出現周期即為密封環的轉動周期。
2.根據權利要求1所述的密封環運動狀態的測試方法,其特征是:所述密封環為金屬密封環,所述距離探測器為電渦流位移傳感器。
3.根據權利要求2所述的密封環運動狀態的測試方法,其特征是:在所述靜止部件上打一個螺紋通孔,將所述電渦流位移傳感器安裝在該螺紋通孔中,使電渦流位移傳感器的探頭表面與金屬密封環的圓周面直接相對,但并不接觸。
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